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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5393件
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING RELIABILITY例文帳に追加
信頼性試験装置及び信頼性試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE, TEST METHOD AND TEST CONTROL PROGRAM例文帳に追加
試験装置、試験方法、及び試験制御プログラム - 特許庁
TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF PRINTED WIRING BOARD例文帳に追加
プリント配線板の試験方法及び試験装置 - 特許庁
SUBSCRIBER TESTING DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加
加入者試験装置及び加入者試験方法 - 特許庁
HEAT COLLECTING PERFORMANCE TESTING METHOD FOR SOLAR ENERGY COLLECTOR例文帳に追加
太陽集熱器の集熱性能試験方法 - 特許庁
OPTICAL CABLE TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
光線路試験装置および光線路試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING RUBBING STRENGTH, AND TEST PIECE THEREFOR例文帳に追加
摺り強度試験方法及び装置、試験片 - 特許庁
The measurement method comprises using the testing device.例文帳に追加
およびこの試験装置を利用した測定方法。 - 特許庁
VIBRATION TESTING METHOD USING SELF-ADVANCING VIBRATION GENERATOR例文帳に追加
自走式起振機を用いた振動試験方法 - 特許庁
EQUIPMENT AND METHOD FOR TESTING ELECTROSTATIC BREAKDOWN RESISTANCE例文帳に追加
静電破壊耐量試験装置および試験方法 - 特許庁
TRANSMISSION APPARATUS, PATH TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
伝送装置、パス試験方法およびコンピュータプログラム - 特許庁
FLOOR MAGNIFICATION TESTING METHOD FOR BUILDING STRUCTURAL ELEMENT例文帳に追加
建築物構造要素の床倍率試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR CHIP AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
半導体チップおよび半導体チップのテスト方法 - 特許庁
TESTING METHOD OF CONTACTING NOISE PERFORMANCE OF PAVING BODY例文帳に追加
舗装体の接触騒音性能の試験方法 - 特許庁
REMOTE TEST EQUIPMENT FOR PLANT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
プラント遠隔試験装置およびその試験方法 - 特許庁
RELIABILITY TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
信頼性試験装置および信頼性試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ERROR IN MICROPROCESSOR例文帳に追加
マイクロプロセッサのエラーをテストする方法および装置 - 特許庁
TESTING DEVICE AND METHOD OF POWER CONVERTER例文帳に追加
電力変換器の試験装置および試験方法 - 特許庁
HARDNESS TESTING INSTRUMENT, AND CALIBRATION METHOD THEREOF例文帳に追加
硬さ試験機及び硬さ試験機の校正方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR TESTING LOGIC CIRCUIT例文帳に追加
論理回路テスト装置及び論理回路テスト方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR COMPONENT例文帳に追加
半導体部品の試験方法および試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING AND ADJUSTING MICROWAVE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
マイクロ波半導体装置の試験調整方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁
METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING HORIZONTAL LOADING IN PIT例文帳に追加
孔内水平載荷試験方法及びその装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING BURN-IN BOARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
バーンインボード及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND DEVICE FOR EMERGENCY STOPPING DEVICE例文帳に追加
非常止め装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体集積回路及びその試験手法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND ITS PATH DIAGNOSING METHOD例文帳に追加
半導体試験装置とその経路診断方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING CONTINUOUSLY VARIABLE TRANSMISSION例文帳に追加
無段変速機の検査装置および検査方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
試験装置、試験方法、プログラム、及び記録媒体 - 特許庁
HEAT CYCLE TESTING DEVICE AND HEAT CYCLE TEST METHOD例文帳に追加
熱サイクル試験装置及び熱サイクル試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR DYNAMICAL FRICTION TESTING OF VULCANIZED RUBBER例文帳に追加
加硫ゴムの動摩擦試験方法及びその装置 - 特許庁
FRACTURE MECHANICS TESTING METHOD AND TEST OBJECT THEREFOR例文帳に追加
破壊力学的試験方法及びその試験体 - 特許庁
METHOD FOR TESTING WATER RESERVOIR LEVEL DETECTING APPARATUS例文帳に追加
貯水槽内水位検出装置の試験方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING ELECTRIC FUSE, AND ELECTRIC FUSE CIRCUIT例文帳に追加
電気ヒューズのテスト方法、及び電気ヒューズ回路 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁
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