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「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Testing Methodの意味・解説 > Testing Methodに関連した英語例文

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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5388



例文

METHOD AND DEVICE FOR TESTING FLUID PRESSURE例文帳に追加

流体圧検査方法及び流体圧検査装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING UNEVENNESS OF PERIODIC PATTERN例文帳に追加

周期性パターンのムラ検査方法及び装置 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR FOR AUTOMATIC EGG TESTING METHOD例文帳に追加

自動検卵方法における画像処理装置 - 特許庁

OPTICAL PULSE TESTING DEVICE AND ADJUSTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

光パルス試験装置及びその調整方法 - 特許庁

例文

METHOD AND DEVICE FOR TESTING LIGHT RESISTANCE例文帳に追加

耐光性試験方法及び耐光性試験装置 - 特許庁


例文

SCRATCHING TESTING DEVICE AND SCRATCHING TEST METHOD例文帳に追加

引っ掻き試験装置及び引っ掻き試験方法 - 特許庁

TENSION TESTING METHOD AND HOLDING TOOL FOR TENSION TEST例文帳に追加

引張試験方法、及び引張試験用把持具 - 特許庁

COMPACT LOAD TESTER AND TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

小型載荷試験装置及びその試験方法 - 特許庁

PNEUMATIC TIRE TESTING METHOD AND TESTER例文帳に追加

空気入りタイヤの試験方法および試験装置 - 特許庁

例文

METHOD OF MANUFACTURING SAMPLE FOR TESTING BENDING STRENGTH例文帳に追加

曲げ強度試験用供試体の製造方法 - 特許庁

例文

WIND TUNNEL TEST METHOD AND WIND TUNNEL TESTING DEVICE例文帳に追加

風洞試験方法および風洞試験装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING X-RAY DOSE例文帳に追加

X線量を検定する方法及びシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING MEMORY CELL例文帳に追加

半導体記憶装置、及びメモリセルテスト方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING CRITICAL PASS AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

クリティカルパステスト方法、装置及び記憶媒体 - 特許庁

ERROR TESTING METHOD AND COMMUNICATION DEVICE IN LAN例文帳に追加

LANにおけるエラーテスト方法および通信装置。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTERNAL BUS例文帳に追加

内部バス試験装置及び内部バス試験方法 - 特許庁

COMPRESSION/SHEAR TEST METHOD AND ITS TESTING DEVICE例文帳に追加

圧縮・剪断試験方法及びその試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING OPERATION OF SOFTWARE例文帳に追加

ソフトウェアの動作をテストする装置及び方法 - 特許庁

TRACE CIRCUIT, MEMORY TESTING METHOD AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

トレース回路、メモリ試験方法及び記録媒体 - 特許庁

SURVEY POINT OBTAINING METHOD IN IC TESTING例文帳に追加

IC試験における探索ポイント取得方式 - 特許庁

LENGTH CHANGE TESTING METHOD AND APPARATUS FOR CONCRETE例文帳に追加

コンクリ—トの長さ変化試験方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置の試験方法 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁

PROBE, PROBE SET, PROBE CARRIER AND METHOD FOR TESTING例文帳に追加

プローブ、プローブセット、プローブ担体及び検査方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING NONUNIFORMITY OF PERIODIC PATTERN例文帳に追加

周期性パターンのムラ検査方法及び装置 - 特許庁

LEAKAGE TESTING METHOD OF SWITCH, AND ITS DEVICE例文帳に追加

開閉器の漏れ試験方法およびその装置 - 特許庁

UNIT AND METHOD FOR TESTING COMMUNICATION TERMINAL例文帳に追加

通信端末の試験装置および試験方法 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING IMPACT OF CONVEYOR BELT例文帳に追加

コンベヤベルトの衝撃試験方法および装置 - 特許庁

PENETRATION TESTING METHOD OF PROTECTIVE CLOTHING MATERIAL AND PENETRATION TESTER例文帳に追加

防護服素材の浸透試験方法と装置 - 特許庁

COMMUNICATIONS NETWORK TESTING METHOD AND NETWORK DEVICE例文帳に追加

通信ネットワーク試験方法およびネットワーク装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND TEST DEVICE OF LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加

液晶パネルの試験方法及び試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD OF TESTING TIRE WITH WHEEL例文帳に追加

ホイール付きタイヤの試験装置及び試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR NETWORK DEVICE AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

ネットワーク装置の試験方法及び記憶媒体 - 特許庁

ADHESIVE PEELING TEST PIECE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

接着剤剥離試験片とその試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS OF ROBOT, AND ITS METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

ロボットの試験装置及び方法及びプログラム - 特許庁

HARD MAGNETIC DISK OR METHOD FOR TESTING MAGNETIC HEAD例文帳に追加

ハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法 - 特許庁

IMPACT RESISTANCE TESTING METHOD FOR TIRE AND ITS DEVICE例文帳に追加

タイヤの耐衝撃試験方法およびその装置 - 特許庁

QUALITY EVALUATION METHOD AND TESTING APPARATUS OF SUBSTRATE例文帳に追加

基板の品質評価方法および検査装置 - 特許庁

CHARGE PLATE, CDM SIMULATOR AND TESTING METHOD例文帳に追加

荷電板及びCDMシミュレータと試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子の試験方法および試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子の試験装置及び試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の検査方法及び検査装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップの試験装置および試験方法 - 特許庁

PHOTOGRAPHING METHOD AND TESTING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

撮影方法およびそれを用いた試験装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

プリント回路板の試験方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD FOR MAKING PLURAL TESTING DEVICES OPERATIONAL例文帳に追加

複数の試験装置を使用可能にする方法 - 特許庁

DUT BOARD, AND TESTING METHOD USING IT例文帳に追加

DUTボード及びそれを用いるテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND ADJUSTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体試験装置及びその調整方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING RELIABILITY OF FERROELECTRIC CAPACITOR例文帳に追加

強誘電体キャパシタの信頼性試験方法 - 特許庁

例文

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ASYNCHRONOUS LSI例文帳に追加

非同期LSI試験装置および試験方法 - 特許庁




  
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