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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND DIAGNOSTIC METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体試験装置およびその診断方法 - 特許庁
SAFETY TESTING METHOD FOR HOLLOW FIBER MEMBRANE MODULE例文帳に追加
中空糸膜モジュールの安全性試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
半導体装置、試験装置、および製造方法 - 特許庁
NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
不揮発性半導体メモリとその検査方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイスのテスト装置、およびテスト方法 - 特許庁
TEST BOARD TESTING DEVICE AND TEST BOARD TEST METHOD例文帳に追加
テストボード試験装置、及びテストボード試験方法 - 特許庁
SYSTEM CLOCK TESTING DEVICE, METHOD, AND ITS PROGRAM例文帳に追加
システム時計検査装置、方法及びそのプログラム - 特許庁
BURN-IN TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のバーンイン試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
半導体集積回路試験装置及び方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体素子の試験装置および試験方法 - 特許庁
FRACTURE TOUGHNESS TESTING METHOD FOR LIGHT-WEIGHT SANDWICH PANEL例文帳に追加
軽量サンドイッチパネルの破壊靱性試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路及びメモリのテスト方法 - 特許庁
ACTIVE MATRIX TEST SUBSTRATE AND TESTING METHOD例文帳に追加
アクティブマトリクス型検査基板および検査方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路の試験方法および試験装置 - 特許庁
ANALYTICAL METHOD FOR SCAN TROUBLE AND TESTING DEVICE例文帳に追加
スキャン障害解析方法および試験装置 - 特許庁
CONNECTOR, AND CONDUCTION TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加
コネクタ及びコネクタにおける導通検査方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS EDDY CURRENT TESTING例文帳に追加
渦流探傷方法および渦流探傷装置 - 特許庁
METHOD FOR CALIBRATING CALIBRATION DEVICE FOR HARDNESS- TESTING MACHINE例文帳に追加
硬さ試験機用校正装置の校正方法 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路、及び集積回路のテスト方法 - 特許庁
INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND METHOD FOR TESTING PROGRAM例文帳に追加
情報処理装置およびプログラムのテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE AND METHOD OF DIAGNOSING THE SAME例文帳に追加
半導体試験装置及びその診断方法 - 特許庁
THERMAL DEGRADATION EVALUATING/TESTING METHOD OF PNEUMATIC TIRE例文帳に追加
空気入りタイヤの熱劣化評価試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING LOAD MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
荷重測定器の検定方法及びその装置 - 特許庁
WAFER FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
集積回路テストのためのウエハおよび方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体記憶装置およびそのテスト方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING GAS INSULATED TRANSFORMER例文帳に追加
ガス絶縁変圧器の試験方法および装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND MASK CIRCUIT例文帳に追加
半導体装置のテスト方法およびマスク回路 - 特許庁
PROBE CARD AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
プローブカード及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND TESTER FOR SEMICONDUCTOR COMPONENT例文帳に追加
半導体部品の試験方法及び試験装置 - 特許庁
VESSEL FOR BLOOD TEST AND BLOOD TESTING METHOD例文帳に追加
血液検査用容器及び血液検査方法 - 特許庁
ENCODER TESTING METHOD AND MAGNETIZING DEVICE FOR TEST例文帳に追加
エンコーダの検査方法及び検査用着磁装置 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR CHROMATOGRAPHY, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
クロマトグラフィー用試験具及びその製造方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体チップの試験方法,半導体装置 - 特許庁
COMMUNICATION SYSTEM OF ELEVATOR AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
エレベーターの通信システム及びその試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTIVE ENDLESS PLASTIC BELT例文帳に追加
半導電性無端プラスチックベルトの試験方法 - 特許庁
WAFER PROBER AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
ウエハプローバー及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁
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