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「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Testing Methodの意味・解説 > Testing Methodに関連した英語例文

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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5388



例文

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND DIAGNOSTIC METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体試験装置およびその診断方法 - 特許庁

SAFETY TESTING METHOD FOR HOLLOW FIBER MEMBRANE MODULE例文帳に追加

中空糸膜モジュールの安全性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

半導体装置、試験装置、および製造方法 - 特許庁

NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体メモリとその検査方法 - 特許庁

例文

TEST CIRCUIT OF SWITCH CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING例文帳に追加

スイッチ回路の試験回路および試験方法 - 特許庁


例文

METHOD OF TESTING PERFORMANCE OF CARGO PUMP FOR TANKER例文帳に追加

タンカーにおけるカーゴポンプの性能試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスのテスト装置、およびテスト方法 - 特許庁

TEST BOARD TESTING DEVICE AND TEST BOARD TEST METHOD例文帳に追加

テストボード試験装置、及びテストボード試験方法 - 特許庁

SYSTEM CLOCK TESTING DEVICE, METHOD, AND ITS PROGRAM例文帳に追加

システム時計検査装置、方法及びそのプログラム - 特許庁

例文

BURN-IN TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のバーンイン試験方法 - 特許庁

例文

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

半導体集積回路試験装置及び方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体素子の試験装置および試験方法 - 特許庁

STEP RECOVERY DIODE, TESTING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

ステップリカバリダイオード、試験装置、及び製造方法 - 特許庁

FRACTURE TOUGHNESS TESTING METHOD FOR LIGHT-WEIGHT SANDWICH PANEL例文帳に追加

軽量サンドイッチパネルの破壊靱性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路及びメモリのテスト方法 - 特許庁

ACTIVE MATRIX TEST SUBSTRATE AND TESTING METHOD例文帳に追加

アクティブマトリクス型検査基板および検査方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路の試験方法および試験装置 - 特許庁

ANALYTICAL METHOD FOR SCAN TROUBLE AND TESTING DEVICE例文帳に追加

スキャン障害解析方法および試験装置 - 特許庁

CONNECTOR, AND CONDUCTION TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

コネクタ及びコネクタにおける導通検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS EDDY CURRENT TESTING例文帳に追加

渦流探傷方法および渦流探傷装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING BREAKER例文帳に追加

遮断器試験装置および遮断器試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ACTION AND RELEASE VOLTAGE OF RELAY例文帳に追加

継電器の動作、釈放電圧試験方法 - 特許庁

METHOD FOR CALIBRATING CALIBRATION DEVICE FOR HARDNESS- TESTING MACHINE例文帳に追加

硬さ試験機用校正装置の校正方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路、及び集積回路のテスト方法 - 特許庁

SIMPLIFIED-TYPE FIELD SHEARING TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

簡易型現場せん断試験方法及び装置 - 特許庁

INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND METHOD FOR TESTING PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置およびプログラムのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE AND METHOD OF DIAGNOSING THE SAME例文帳に追加

半導体試験装置及びその診断方法 - 特許庁

THERMAL DEGRADATION EVALUATING/TESTING METHOD OF PNEUMATIC TIRE例文帳に追加

空気入りタイヤの熱劣化評価試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING LOAD MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

荷重測定器の検定方法及びその装置 - 特許庁

WAFER FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

集積回路テストのためのウエハおよび方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING DENSITY CHARACTERISTICS OF IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

画像形成装置の濃度特性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置およびそのテスト方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING GAS INSULATED TRANSFORMER例文帳に追加

ガス絶縁変圧器の試験方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND MASK CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置のテスト方法およびマスク回路 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

ABRASION TESTING METHOD OF PRINTING SURFACE AND GLOSSY PAPER例文帳に追加

印刷面の摩耗試験方法及び光沢紙 - 特許庁

METHOD FOR TESTING NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

ICEBALL LAUNCHER AND HAILSTORM TESTING METHOD例文帳に追加

氷球発射装置および降雹試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PERFORMANCE OF INK JET RECORDING MATERIAL例文帳に追加

インクジェット記録材料の性能検査方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTER FOR SEMICONDUCTOR COMPONENT例文帳に追加

半導体部品の試験方法及び試験装置 - 特許庁

MEMBRANE TANK AND LEAK TESTING METHOD OF MEMBRANE TANK例文帳に追加

メンブレンタンク、及び、メンブレンタンクの漏れ試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DISK, AND DISK例文帳に追加

ディスク検査方法、ディスク検査装置及びディスク - 特許庁

VESSEL FOR BLOOD TEST AND BLOOD TESTING METHOD例文帳に追加

血液検査用容器及び血液検査方法 - 特許庁

TEST METHOD USING CELL AND TESTING KIT THEREFOR例文帳に追加

細胞を用いた試験法および試験用キット - 特許庁

ENCODER TESTING METHOD AND MAGNETIZING DEVICE FOR TEST例文帳に追加

エンコーダの検査方法及び検査用着磁装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR CHROMATOGRAPHY, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

クロマトグラフィー用試験具及びその製造方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体チップの試験方法,半導体装置 - 特許庁

COMMUNICATION SYSTEM OF ELEVATOR AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

エレベーターの通信システム及びその試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTIVE ENDLESS PLASTIC BELT例文帳に追加

半導電性無端プラスチックベルトの試験方法 - 特許庁

例文

WAFER PROBER AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ウエハプローバー及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁




  
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