「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

BURN-IN TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のバーンイン試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING RELIABILITY OF FERROELECTRIC CAPACITOR例文帳に追加

強誘電体キャパシタの信頼性試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ASYNCHRONOUS LSI例文帳に追加

非同期ＬＳＩ試験装置および試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND DIAGNOSTIC METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体試験装置およびその診断方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体素子の試験装置および試験方法 - 特許庁

STEP RECOVERY DIODE, TESTING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

ステップリカバリダイオード、試験装置、及び製造方法 - 特許庁

FRACTURE TOUGHNESS TESTING METHOD FOR LIGHT-WEIGHT SANDWICH PANEL例文帳に追加

軽量サンドイッチパネルの破壊靱性試験方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路及びメモリのテスト方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING GAS INSULATED TRANSFORMER例文帳に追加

ガス絶縁変圧器の試験方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND MASK CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置のテスト方法およびマスク回路 - 特許庁

METHOD FOR TESTING NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

ICEBALL LAUNCHER AND HAILSTORM TESTING METHOD例文帳に追加

氷球発射装置および降雹試験方法 - 特許庁

MEMBRANE TANK AND LEAK TESTING METHOD OF MEMBRANE TANK例文帳に追加

メンブレンタンク、及び、メンブレンタンクの漏れ試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DISK, AND DISK例文帳に追加

ディスク検査方法、ディスク検査装置及びディスク - 特許庁

METHOD AND INSTRUMENT FOR TESTING LOAD CAPACITY OF GROUND ANCHOR例文帳に追加

グラウンドアンカーの耐荷重試験方法及び装置 - 特許庁

ELECTRONIC WATTHOUR METER AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

電子式電力量計及びその試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路の試験装置および試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING UNEVENNESS OF PERIODIC PATTERN例文帳に追加

周期性パターンのムラ検査方法及び装置 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR FOR AUTOMATIC EGG TESTING METHOD例文帳に追加

自動検卵方法における画像処理装置 - 特許庁

OPTICAL PULSE TESTING DEVICE AND ADJUSTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

光パルス試験装置及びその調整方法 - 特許庁

PENETRATION TESTING METHOD OF PROTECTIVE CLOTHING MATERIAL AND PENETRATION TESTER例文帳に追加

防護服素材の浸透試験方法と装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路、及び集積回路のテスト方法 - 特許庁

SIMPLIFIED-TYPE FIELD SHEARING TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

簡易型現場せん断試験方法及び装置 - 特許庁

ANALYTICAL METHOD FOR SCAN TROUBLE AND TESTING DEVICE例文帳に追加

スキャン障害解析方法および試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PERFORMANCE OF INK JET RECORDING MATERIAL例文帳に追加

インクジェット記録材料の性能検査方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTER FOR SEMICONDUCTOR COMPONENT例文帳に追加

半導体部品の試験方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路の試験方法および試験装置 - 特許庁

ACTIVE MATRIX TEST SUBSTRATE AND TESTING METHOD例文帳に追加

アクティブマトリクス型検査基板および検査方法 - 特許庁

CONTACT TESTING DEVICE AND CONTACT TEST METHOD例文帳に追加

接触試験装置および接触試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING FLUID PRESSURE例文帳に追加

流体圧検査方法及び流体圧検査装置 - 特許庁

CONNECTOR, AND CONDUCTION TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

コネクタ及びコネクタにおける導通検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS EDDY CURRENT TESTING例文帳に追加

渦流探傷方法および渦流探傷装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING BREAKER例文帳に追加

遮断器試験装置および遮断器試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ACTION AND RELEASE VOLTAGE OF RELAY例文帳に追加

継電器の動作、釈放電圧試験方法 - 特許庁

METHOD FOR CALIBRATING CALIBRATION DEVICE FOR HARDNESS- TESTING MACHINE例文帳に追加

硬さ試験機用校正装置の校正方法 - 特許庁

UNIT AND METHOD FOR TESTING COMMUNICATION TERMINAL例文帳に追加

通信端末の試験装置および試験方法 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING IMPACT OF CONVEYOR BELT例文帳に追加

コンベヤベルトの衝撃試験方法および装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

半導体集積回路試験装置及び方法 - 特許庁

VESSEL FOR BLOOD TEST AND BLOOD TESTING METHOD例文帳に追加

血液検査用容器及び血液検査方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR CHROMATOGRAPHY, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

クロマトグラフィー用試験具及びその製造方法 - 特許庁

TEST METHOD USING CELL AND TESTING KIT THEREFOR例文帳に追加

細胞を用いた試験法および試験用キット - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体チップの試験方法，半導体装置 - 特許庁

COMMUNICATION SYSTEM OF ELEVATOR AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

エレベーターの通信システム及びその試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTIVE ENDLESS PLASTIC BELT例文帳に追加

半導電性無端プラスチックベルトの試験方法 - 特許庁