「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND DEVICE FOR TESTING RANDOM ACCESS MEMORY DEVICE例文帳に追加

ランダムアクセスメモリ装置をテストする方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR SIMULATION TESTING ON VAPOR- LIQUID TWO-PHASE LOW例文帳に追加

気液二相流模擬試験方法および装置 - 特許庁

MEASURING APPARATUS, MEASURING METHOD, TESTING DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

測定装置、測定方法、試験装置およびプログラム - 特許庁

VIRTUAL USB DEVICE AND METHOD FOR TESTING PERSONAL COMPUTER例文帳に追加

仮想ＵＳＢデバイスとパーソナルコンピュータのテスト方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING ACTIVE MATRIX SUBSTRATE AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の検査方法およびその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY例文帳に追加

ダイナミックランダムアクセスメモリをテストする方法及び装置 - 特許庁

RESONANCE TEST METHOD AND BENDING DURABLE TESTING PROCESS例文帳に追加

共振試験方法及び曲げ耐久試験方法 - 特許庁

METHOD FOR ASSEMBLING AND TESTING MODULAR FUEL INJECTOR例文帳に追加

モジューラ燃料インジェクタの組立て及び試験方法 - 特許庁

PROBE, PROBE SET, PROBE-IMMOBILIZED CARRIER AND TESTING METHOD例文帳に追加

プローブ、プローブセット、プローブ固定担体及び検査方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND MEANS OF STRENGTH OF ERECTED MAST例文帳に追加

立設されたマストの強度試験方法及び手段 - 特許庁

METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT BY AUTOMATIC TEST DEVICE例文帳に追加

自動テスト装置で、集積回路をテストする方法 - 特許庁

COMMUNICATION EQUIPMENT, ITS TESTING METHOD AND TEST PROGRAM例文帳に追加

通信装置とその試験方法、及び試験プログラム - 特許庁

TESTING METHOD USING SIMULATED FLUID, AND ITS DEVICE例文帳に追加

模擬流体を用いた試験方法及びその装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CONSOLIDATION OF GROUND MATERIAL AND ITS DEVICE例文帳に追加

地盤材料の圧密試験方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SIMILARITY BETWEEN SEQUENCE DATA例文帳に追加

系列データ間の類似性検査方法及び装置 - 特許庁

SPECTROPHOTOMETER AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

分光光度計および分光光度計の検定方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CLARITHROMYCIN RESISTANCE OF HELICOBACTER PYLORI例文帳に追加

ヘリコバクター・ピロリ菌のクラリスロマイシン耐性検査方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING NUCLEAR FUEL PELLET例文帳に追加

原子力燃料ペレットの検査方法および装置 - 特許庁

TEST APPARATUS AND TESTING METHOD USING TEST APPARATUS例文帳に追加

試験装置及び試験装置を用いた試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MULTIPLE-FREQUENCY ENCODER例文帳に追加

多周波符号器の試験システムおよび試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUITS例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置、試験方法 - 特許庁

INTERFACE DEVICE AND METHOD FOR TESTING FREQUENCY FLUCTUATION例文帳に追加

インタフェース装置及び周波数変動試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD FOR SAME例文帳に追加

半導体装置および半導体装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING INTERFACE例文帳に追加

境界面検査方法及び境界面検査装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING HYGROSCOPIC AND EXOTHERMIC PROPERTY例文帳に追加

吸湿発熱性試験方法および試験装置 - 特許庁

SMOKE SENSOR AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

加煙感知器および加煙感知器の試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR LEAK TESTING, AND HEAT SENSITIVE MEMBER例文帳に追加

リークテスト装置及び方法並びに感温部材 - 特許庁

RELIABILITY TESTING DEVICE AND RELIABILITY TEST METHOD例文帳に追加

信頼性試験装置および信頼性試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DURABILITY OF INSULATION- COATING FILM例文帳に追加

絶縁皮膜の耐久試験方法および装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体装置、及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路をテストするための装置および方法 - 特許庁

TESTING METHOD IN IP SERVICE, AND SYSTEM THEREOF例文帳に追加

ＩＰサービスにおける試験方法、およびそのシステム - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加

情報処理装置の試験方法および試験システム - 特許庁

TESTING APPARATUS, PROGRAM, MEMORY MEDIUM, AND TEST METHOD例文帳に追加

試験装置、プログラム、記憶媒体、および、試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法とその装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD OF TESTING THEREOF例文帳に追加

半導体メモリおよび半導体メモリの試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路を試験するための方法および装置 - 特許庁

CONTROL METHOD OF TEMPERATURE TESTING DEVICE AND ITS DEVICE例文帳に追加

温度試験装置の制御方法およびその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING STRENGTH OF CERAMIC TUBE例文帳に追加

セラミックス管の強度試験方法及びその装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスのテスト装置およびそのテスト方法 - 特許庁

SOCKET, INSPECTION EQUIPMENT HAVING SOCKET, AND TESTING METHOD例文帳に追加

ソケット及びこれを有する検査装置及び方法 - 特許庁

CONFIGURATION MANAGEMENT TESTING METHOD AND PROGRAM FOR SERVER SYSTEM例文帳に追加

サーバシステムの構成管理試験方法及びプログラム - 特許庁

TESTING DEVICE OF PLL CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

ＰＬＬ回路のテスト装置およびそのテスト方法 - 特許庁

FATIGUE TESTING MACHINE AND ITS VARIABLE GAIN CALIBRATING METHOD例文帳に追加

疲労試験機およびその可変ゲイン校正方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING MEMORY AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

メモリ試験方法及び装置並びに記憶媒体 - 特許庁