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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
PROBE, PROBE SET, PROBE-IMMOBILIZED CARRIER AND METHOD FOR TESTING例文帳に追加
プローブ、プローブセット、プローブ固定担体及び検査方法 - 特許庁
TESTING METHOD IN CONSTANT CURRENT TYPE OSCILLATION CIRCUIT例文帳に追加
定電流方式の発振回路におけるテスト方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING CONTROL ROD DRIVING MECHANISM例文帳に追加
制御棒駆動機構の試験方法及びその装置 - 特許庁
VENTILATION TESTING METHOD FOR GAS FLUID WITH TEMPERATURE CHANGE例文帳に追加
温度変化を伴うガス流体の換気試験方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR TESTING ROTATING MACHINE例文帳に追加
回転する機械の試験を行う方法およびシステム - 特許庁
PRACTICAL METHOD FOR TESTING DURABILITY AND WATER REPELLENCY OF FIBER FABRIC例文帳に追加
繊維布帛の実用耐久撥水度試験方法 - 特許庁
INFORMATION PROCESSOR SYSTEM AND ITS LOAD TESTING METHOD例文帳に追加
情報処理装置システム及びその負荷試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING TRAIN OPERATION CONTROL SYSTEM例文帳に追加
列車運行管理システムの試験方法及び装置 - 特許庁
TEST BURN-IN BOARD CONTROL METHOD AND BURN-IN TESTING SYSTEM例文帳に追加
テストバーンインボード管理方法及びバーンイン試験システム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SYSTEM BETWEEN DATA COMMUNICATION EQUIPMENT例文帳に追加
データ通信装置間システム試験装置および方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING RELAY FOR PROTECTING DISTRIBUTION LINE FROM GROUND FAULT例文帳に追加
配電線地絡保護リレー試験方法及び装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体集積回路装置、およびそのテスト方法 - 特許庁
TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体記憶装置のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING AND TESTING METAL GASKET例文帳に追加
金属ガスケットの評価試験方法及びその装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR POWER CONVERSION EQUIPMENT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体電力変換装置及びその試験方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト装置及びテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT TESTER AND INTEGRATED CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加
集積回路テスターおよび集積回路試験方法 - 特許庁
CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁
COMPUTER TESTING METHOD, PROGRAM AND INFORMATION PROCESSING APPARATUS例文帳に追加
コンピュータ試験方法,プログラムおよび情報処理装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING PUMPING OUT OF HEAT TRANSFER GREASE例文帳に追加
伝熱グリースのポンピングアウト試験装置及び方法 - 特許庁
CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の試験回路およびその試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路装置およびその検査方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING CONTINUITY OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の導通試験装置及び該試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING LOAD ON SLIDE BEARING BODY例文帳に追加
すべり支承体の荷重試験方法及び装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CONTROL DEVICE OF ELEVATOR例文帳に追加
エレベータ制御装置の試験方法、及び試験装置 - 特許庁
IDENTIFICATION INFORMATION TESTING METHOD AND INFORMATION ACQUIRING DEVICE例文帳に追加
識別情報検査方法及び情報取得装置 - 特許庁
HEAT CYCLE TESTING METHOD AND JIG FOR HEAT CYCLE TEST例文帳に追加
熱サイクル試験方法および熱サイクル試験用治具 - 特許庁
METHOD FOR TESTING RADIO PART IN RADIO DATA COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
無線データ通信システムにおける無線部テスト方法 - 特許庁
CONTROL SEQUENCE GENERATING METHOD IN VoIP SERVICE, TESTING METHOD USING THE SAME, TESTING AND CAPTURING DEVICE USED FOR TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM FOR IMPLEMENTING TESTING AND CAPTURING DEVICE例文帳に追加
VoIPサービスにおける制御シーケンス生成方法、該方法を用いる試験方法、該試験方法に用いる試験装置及びキャプチャ装置、及び該試験装置及びキャプチャ装置を実現するためのコンピュータプログラム - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING INVERTER AND MANUFACTURING METHOD OF INVERTER例文帳に追加
インバータ試験装置、インバータの試験方法及びインバータの製造方法 - 特許庁
WITHSTAND VOLTAGE TESTING METHOD AND DIAGNOSING METHOD FOR RUBBER AND PLASTIC INSULATION CABLE例文帳に追加
ゴム・プラスチック絶縁ケーブルの耐圧試験方法および診断方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の製造方法および半導体装置の試験方法 - 特許庁
BOARD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY, TEST METHOD, AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
半導体メモリのテスト用ボードおよびテスト方法並びに製造方法 - 特許庁
SOLID-STATE IMAGING DEVICE, AND ITS TESTING METHOD AND ADJUSTING METHOD例文帳に追加
固体撮像装置およびその検査方法ならびに調整方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THEREFOR, AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
半導体装置およびその製造方法およびその試験方法 - 特許庁
ALKALI/SILICA REACTIVITY TESTING METHOD OF AGGREGATE AND QUALITY CONTROL METHOD例文帳に追加
骨材のアルカリシリカ反応性試験方法及び品質管理方法 - 特許庁
METHOD FOR SEPARATING MICROORGANISM AND METHOD FOR TESTING MICROORGANISM, USING THE SAME例文帳に追加
微生物分離方法およびこれを用いた微生物検査方法 - 特許庁
SPECIFIC COMPONENT TESTING DEVICE, DATA STORAGE METHOD AND DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加
特定成分検査装置、データ格納方法およびデータ処理方法 - 特許庁
GASKET FOR HARD DISK APPARATUS, AND MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
ハードディスク装置用ガスケット、その製造方法及びその検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置と半導体装置の製造方法及びテスト方法 - 特許庁
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