「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索

BOARD CONVERSION CABLE FOR MULTIPLE-PIN TESTER AND IC TESTING METHOD例文帳に追加

多ピンテスター用ボード変換ケーブルおよびＩＣテスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, METHOD AND PROGRAM OF INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加

情報処理装置の試験装置及び方法及びプログラム - 特許庁

METHOD FOR TESTING TUNNEL MAGNETORESISTANCE ELEMENT AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

トンネル磁気抵抗効果素子の検査方法及び装置 - 特許庁

To provide a new in vitro solubility testing method.例文帳に追加

新規なｉｎ ｖｉｔｒｏ溶解試験方法の提供。 - 特許庁

TESTING CONTACT CHAIN AND RELATED DEBUGGING METHOD例文帳に追加

試験用コンタクトチェーンおよびそれに関連するデバッグ方法 - 特許庁

CONTACTOR FOR ELECTRONIC PART, AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

電子部品用コンタクタ及びこれを用いた試験方法 - 特許庁

CREEP PHYSICAL PROPERTY TESTING METHOD, DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

クリープ物性試験方法、試験装置、および試験プログラム - 特許庁

GENETIC TESTING APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING USING THE SAME例文帳に追加

遺伝子検査装置およびそれを用いた検出方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING AND TESTING RESISTANCE TO ADHESION TO DUST AND SLAG例文帳に追加

ダスト，スラグに対する難付着性評価試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品試験装置および電子部品の試験方法 - 特許庁

REDUNDANCY OPERATING METHOD AND DEVICE, AND MEMORY TESTING DEVICE例文帳に追加

リダンダンシ演算方法及び装置並びにメモリ試験装置 - 特許庁

SOLDERABILITY-TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

はんだ濡れ性試験装置及びはんだ濡れ性試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE OF LATERAL PRESSURE OF OPTICAL FIBER例文帳に追加

光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING WATER HAMMER STRENGTH OF GLASS BOTTLE AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

ガラスびんのウォータハンマ強度試験方法及び装置 - 特許庁

VIRTUAL SYSTEM TESTING METHOD AND VIRTUAL UNIT USED THEREFOR例文帳に追加

仮想システムテスト方法およびそれに用いる仮想ユニット - 特許庁

TEST METHOD OF FERROELECTRIC MATERIAL AND TESTING DEVICE例文帳に追加

強誘電体材料の試験方法および試験装置 - 特許庁

METHOD AND LEAKAGE FOR TESTING PIPING LEAK例文帳に追加

配管漏洩検査装置及び配管の漏洩検査方法 - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR TESTING MEMORY OF COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

コンピュータシステムのメモリ試験方法およびメモリ試験プログラム - 特許庁

TEST METHOD, ORGANIC GAS SUPPLY DEVICE, AND TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

試験方法、有機ガス供給装置及び試験装置 - 特許庁

TEST SIGNAL GENERATING DEVICE AND TESTING METHOD OF VIDEO APPARATUS例文帳に追加

テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリ試験装置及び半導体メモリ試験方法 - 特許庁

EQUIPMENT DIAGNOSTIC METHOD, REMOTE TESTING DEVICE AND NETWORK EQUIPMENT例文帳に追加

機器診断方法、遠隔試験装置及びネットワーク機器 - 特許庁

TESTING SYSTEM OF DEVICE FOR DRIVING LOADS AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

負荷駆動装置の試験システムおよびその制御方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MANY WORD LINES OF SEMICONDUCTOR MEMORY ASSEMBLY例文帳に追加

半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING WIRELESS TRANSMISSION CHARACTERISTICS OF RADIO TERMINAL EQUIPMENT例文帳に追加

無線端末装置の無線送信特性試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF WEIGHT COMPOSITE LOAD AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

荷重複合負荷の試験装置、及び、その試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP, TESTER, AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体チップの検査方法、検査装置、及びプローブカード - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT FOR DRIVING MOTOR AND METHOD FOR TESTING例文帳に追加

モータ駆動用半導体集積回路およびテスト方法 - 特許庁

SCREED AND METHOD FOR TESTING GAS SEALABILITY OF THE SCREED例文帳に追加

スクリード装置及びスクリード装置のガスシール性検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置とそのテスト方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM, OUTPUT LEVEL SETTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

試験システム、出力レベル設定装置及び試験方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体不揮発性記憶装置およびその試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING IC, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

ＩＣ試験装置、ＩＣ試験方法、及び記憶媒体 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING PARKING MECHANISM OF AUTOMATIC TRANSMISSION例文帳に追加

オートトランスミッションのパーキング機構試験方法及び装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE OF TUNNELING MAGNETORESISTIVE EFFECT ELEMENT例文帳に追加

トンネル磁気抵抗効果素子の試験方法及び装置 - 特許庁

LOADING TEST METHOD FOR GROUND ANCHOR AND TESTING APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

グラウンドアンカーの載荷試験方法及びその試験装置 - 特許庁

HEAT FLOW PHENOMENON SIMULATING METHOD AND SIMULATING TESTING APPARATUS例文帳に追加

熱流動現象の模擬方法及び模擬試験装置 - 特許庁

METHOD OF TESTING REWRITE STRESS OF NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

不揮発性半導体メモリの書換ストレス試験方法 - 特許庁

SPECIMEN FOR TESTING GAS PERMEABILITY AND METHOD FOR EVALUATING GAS PERMEABILITY例文帳に追加

ガス透過性試験片及びガス透過性評価方法 - 特許庁

CORROSION TESTING METHOD OF METALLIC MATERIAL FOR SHIP BALLAST TANK例文帳に追加

船舶バラストタンク用金属材料の腐食試験方法 - 特許庁

STATIONARY INDUCTION ELECTRIC MACHINE AND ITS VOLTAGE BREAKDOWN TESTING METHOD例文帳に追加

静止誘導電気機器及びその耐電圧試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING SUBSTRATE, AND DEFECTIVE CONTACT DETERMINING METHOD例文帳に追加

半導体試験基板および接触不良判定方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ROTARY BALANCE OF CRANKSHAFT例文帳に追加

クランク軸の回転バランス試験装置および試験方法 - 特許庁

GAS-INSULATION SWITCHING DEVICE AND WITHSTAND VOLTAGE TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

ガス絶縁開閉装置及びその耐電圧試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方式及びその方法 - 特許庁