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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Testing Methodの意味・解説 > Testing Methodに関連した英語例文

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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5393



例文

SYSTEM AND METHOD FOR REMOTELY TESTING MOBILE UNIT例文帳に追加

移動機リモート試験システム及び移動機リモート試験方法 - 特許庁

VIBRATION TESTING DEVICE AND MODE ANALYSIS METHOD USING THE SAME例文帳に追加

振動試験装置とこれを用いたモード解析方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM OF DEVICE FOR DRIVING LOADS AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

負荷駆動装置の試験システムおよびその制御方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MANY WORD LINES OF SEMICONDUCTOR MEMORY ASSEMBLY例文帳に追加

半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法 - 特許庁

例文

METHOD OF TESTING WIRELESS TRANSMISSION CHARACTERISTICS OF RADIO TERMINAL EQUIPMENT例文帳に追加

無線端末装置の無線送信特性試験方法 - 特許庁


例文

TESTING DEVICE OF WEIGHT COMPOSITE LOAD AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

荷重複合負荷の試験装置、及び、その試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP, TESTER, AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体チップの検査方法、検査装置、及びプローブカード - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT FOR DRIVING MOTOR AND METHOD FOR TESTING例文帳に追加

モータ駆動用半導体集積回路およびテスト方法 - 特許庁

SCREED AND METHOD FOR TESTING GAS SEALABILITY OF THE SCREED例文帳に追加

スクリード装置及びスクリード装置のガスシール性検査方法 - 特許庁

例文

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置とそのテスト方法 - 特許庁

例文

TESTING SYSTEM, OUTPUT LEVEL SETTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

試験システム、出力レベル設定装置及び試験方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体不揮発性記憶装置およびその試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING IC, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

IC試験装置、IC試験方法、及び記憶媒体 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING PARKING MECHANISM OF AUTOMATIC TRANSMISSION例文帳に追加

オートトランスミッションのパーキング機構試験方法及び装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE OF TUNNELING MAGNETORESISTIVE EFFECT ELEMENT例文帳に追加

トンネル磁気抵抗効果素子の試験方法及び装置 - 特許庁

LOADING TEST METHOD FOR GROUND ANCHOR AND TESTING APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

グラウンドアンカーの載荷試験方法及びその試験装置 - 特許庁

HEAT FLOW PHENOMENON SIMULATING METHOD AND SIMULATING TESTING APPARATUS例文帳に追加

熱流動現象の模擬方法及び模擬試験装置 - 特許庁

METHOD OF TESTING REWRITE STRESS OF NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

不揮発性半導体メモリの書換ストレス試験方法 - 特許庁

SPECIMEN FOR TESTING GAS PERMEABILITY AND METHOD FOR EVALUATING GAS PERMEABILITY例文帳に追加

ガス透過性試験片及びガス透過性評価方法 - 特許庁

CORROSION TESTING METHOD OF METALLIC MATERIAL FOR SHIP BALLAST TANK例文帳に追加

船舶バラストタンク用金属材料の腐食試験方法 - 特許庁

IMPROVED GROUND TESTING METHOD AND UNSOLIDIFIED SAMPLE COLLECTOR例文帳に追加

改良地盤の試験方法および未固化試料採取器 - 特許庁

TESTING DEVICE OF POWER TRANSMISSION SYSTEM, AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

動力伝達系の試験装置とその制御方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING NONVOLATILE MEMORY, AND PROGRAM例文帳に追加

不揮発性メモリの試験方法及び装置及びプログラム - 特許庁

To provide a method for testing azoospermia characterized by comprising detecting a genetic polymorphism.例文帳に追加

無精子症の新規の検査方法を提供する. - 特許庁

GAMMA VOLTAGE GENERATING APPARATUS AND METHOD OF TESTING GAMMA VOLTAGE例文帳に追加

ガンマ電圧生成装置、及びガンマ電圧テスト方法 - 特許庁

GAS LEAKAGE ALARM TESTING METHOD AND GAS LEAKAGE ALARM例文帳に追加

ガス漏れ警報器の試験方法、及びガス漏れ警報器 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTION OF TIMING OF SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体試験装置のタイミング補正方法及び装置 - 特許庁

STATIONARY INDUCTION ELECTRIC MACHINE AND ITS VOLTAGE BREAKDOWN TESTING METHOD例文帳に追加

静止誘導電気機器及びその耐電圧試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING SUBSTRATE, AND DEFECTIVE CONTACT DETERMINING METHOD例文帳に追加

半導体試験基板および接触不良判定方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ROTARY BALANCE OF CRANKSHAFT例文帳に追加

クランク軸の回転バランス試験装置および試験方法 - 特許庁

GAS-INSULATION SWITCHING DEVICE AND WITHSTAND VOLTAGE TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

ガス絶縁開閉装置及びその耐電圧試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方式及びその方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING INSULATION PERFORMANCE OF GAS INSULATED APPARATUS例文帳に追加

ガス絶縁機器の絶縁性能試験方法及び装置 - 特許庁

COAT MEMBRANE ADHESIVE PERFORMANCE EVALUATION TESTING METHOD OF SPECTACLE LENS例文帳に追加

眼鏡レンズのコート膜密着性能評価試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING THERAPEUTIC OR PROPHYLACTIC AGENT OF OSTEOPOROSIS例文帳に追加

骨粗鬆症の治療または予防剤の試験方法 - 特許庁

TEST PULSE GENERATION METHOD AND SYSTEM FOR TESTING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステム - 特許庁

FAILURE DETECTION METHOD, TESTING CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

故障検出方法、試験回路及び半導体装置 - 特許庁

CONTACTOR FOR ELECTRONIC COMPONENT AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品用コンタクタ及び電子部品の試験方法 - 特許庁

MULTI-STROBE GENERATING DEVICE, TESTING DEVICE AND ADJUSTING METHOD例文帳に追加

マルチストローブ生成装置、試験装置、及び調整方法 - 特許庁

MOUNTING METHOD OF TESTING TIRE, RIM FOR MOUNTING OF TESTING TIRE, AND METHOD AND DEVICE FOR DETERMINATION OF RIM FITTING ABILITY OF TIRE例文帳に追加

試験タイヤの装着方法、試験タイヤ装着用リム、及び、タイヤのリムフィット性の判定方法とその装置 - 特許庁

LSI TESTER, LSI TESTING METHOD AND LSI DEVICE例文帳に追加

LSIテスタ及びLSIテスト方法及びLSIデバイス - 特許庁

METHOD OF TESTING WELD CRACK OF ALUMINUM ALLOY EXTRUDED PROFILE例文帳に追加

アルミニウム合金押出形材の溶接割れ試験方法 - 特許庁

MAINTENANCE SYSTEM AND METHOD OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置の保守システムおよび保守方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING LEAK CURRENT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

リーク電流試験方法及び半導体集積回路 - 特許庁

METHOD FOR INSTALLING OR TESTING SOFTWARE FOR COMPUER SYSTEM例文帳に追加

コンピュータシステムのソフトウエアインストールおよび、または試験方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置、及びそのテスト方法 - 特許庁

IC TESTING DEVICE, ITS CONTROL METHOD, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

IC試験装置、その制御方法、及び記憶媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF TESTING DELAY THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路およびその遅延検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTER, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体試験装置および半導体メモリの試験方法 - 特許庁

例文

TESTING APPARATUS AND TEST METHOD FOR CMOS INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

CMOS集積回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁




  
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