| 意味 | 例文 |
Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
METHOD FOR TESTING THERAPEUTIC OR PROPHYLACTIC AGENT FOR HYPERLIPIDEMIA例文帳に追加
高脂血症の治療または予防剤の試験方法 - 特許庁
DESIGNING AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の設計方法及びテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY, METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリ、半導体メモリのテスト方法およびシステム - 特許庁
a method of testing knowledge called oral examination 例文帳に追加
口頭で問題を述べて口頭で答える試験の方法 - EDR日英対訳辞書
METHOD AND DEVICE FOR TESTING HEAT-RESISTANT TUBULAR MEMBER例文帳に追加
耐熱管状部材の試験方法および試験装置 - 特許庁
ROOF TILE LIFTING LOAD TESTING DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加
瓦の引き上げ荷重試験装置及びその試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR ABRASION TESTING FOR COVERED ELECTRIC WIRE例文帳に追加
被覆電線の摩耗試験方法及び摩耗試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR POWER TRANSMISSION SYSTEM, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加
動力伝達系の試験装置とその制御方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND METHOD FOR ARBITRATION CIRCUIT例文帳に追加
調停回路のテスト装置及び調停回路のテスト方法 - 特許庁
TESTING AND MEASURING INSTRUMENT, AND METHOD FOR IDENTIFYING SIGNAL DATA例文帳に追加
試験及び測定機器並びに信号データ識別方法 - 特許庁
SCANNED MEMORY TESTING METHOD OF MULTI-PORT MEMORY ARRAY (MEMORY ARRAY, MEMORY ARRAY TESTING METHOD, AND MULTI-PORT FLOATING POINT REGISTER)例文帳に追加
マルチポート・メモリ・アレイの走査メモリ・テスト方法(メモリ・アレイ、メモリ・アレイのテスト法、及びマルチポート浮動小数点レジスタ) - 特許庁
CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING FERROELECTRIC MEMORY DEVICE例文帳に追加
強誘電体メモリ装置をテストする回路及び方法 - 特許庁
ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
有機電界発光表示装置及びその検査方法 - 特許庁
CONTROL ROD DRIVING DEVICE, ITS OPERATING METHOD, ITS TESTING METHOD AND TESTING DEVICE, ITS INSPECTING DEVICE, ITS STORING METHOD AND STORING DEVICE, AND TORQUE TRANSMISSION DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
制御棒駆動装置、その運転方法、その試験方法及びその試験装置、その点検装置、その保管方法及びその保管装置並びにトルク伝達装置及びその試験方法 - 特許庁
CONTROL VOLTAGE DETERMINING METHOD OF INTEGRATED CIRCUIT, GATE VOLTAGE DETERMINING METHOD OF TEG CIRCUIT, TEG CIRCUIT TESTING METHOD AND TESTING DEVICE例文帳に追加
集積回路の制御電圧決定方法、TEG回路のゲート電圧決定方法、TEG回路試験方法及び試験装置 - 特許庁
WATER-TIGHTNESS TESTING DEVICE FOR EXISTING PIPE, WATER-TIGHTNESS TESTING SYSTEM FOR EXISTING PIPE USING THE SAME, AND WATER-TIGHTNESS TESTING METHOD FOR EXISTING PIPE USING WATER-TIGHTNESS TESTING DEVICE FOR EXISTING PIPE例文帳に追加
既設管水密性試験装置、該装置を用いた既設管水密性試験システム及び既設管水密性試験装置を使用した既設管水密性試験方法 - 特許庁
To obtain a corrosion resistance testing method for metallic material, capable of shortening the corrosion testing time of the metal material and capable of realizing simplification and compactification of corrosion resistance testing equipment, and to provide corrosion resistance testing equipment.例文帳に追加
金属の耐食試験時間を短縮でき、且つ、装置の簡易化及びコンパクト化を実現することができる金属材料の耐食性試験方法及び装置を得る。 - 特許庁
To provide a testing device for object detecting means capable of improving the testing accuracy, while restraining the testing cost of the object detecting means, and to provide a testing method.例文帳に追加
物体検出手段の試験コストを低く抑えつつ、試験精度を向上させることが可能な物体検出手段の試験装置、及び試験方法を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR ACCELERATION TESTING OF LONG-TERM SANITARY RETENTIVITY OF GLAZED SURFACE OF SANITARY WARE AND TEST LIQUID FOR TESTING ACCELERATION例文帳に追加
衛生陶器施釉面の長期衛生保持性の加速試験方法および加速試験用試験液。 - 特許庁
CONCRETE STRENGTH TESTING SAMPLE PIECE MANUFACTURING MOLD, AND CONCRETE STRENGTH TESTING SAMPLE PIECE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
コンクリート強度試験用供試体作製型、及びコンクリート強度試験用供試体の作製方法 - 特許庁
To provide a device and an assembly for microbiological testing of a sample of liquid and a method for the microbiological testing.例文帳に追加
液体サンプルの微生物学的検査のための装置、組立品および方法を提供する。 - 特許庁
To provide a testing method for liquid crystal display element and a testing, device which can easily detect defects.例文帳に追加
欠陥の検出が容易な、液晶表示素子の検査方法、及び検査装置を提供する。 - 特許庁
TESTING PROBER, TESTER, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイスの検査用プローブ装置、半導体デバイスの検査装置および半導体デバイスの検査方法 - 特許庁
TEST BENCH AND TESTING METHOD FOR MEASURING SOUND INSULATION, THAT IS, INSERTION LOSS, IN OBJECT OF TESTING例文帳に追加
試験対象物における遮音すなわち挿入損失を測定するための試験台と方法 - 特許庁
To provide testing method for accurately testing connection status of cell voltage sensing line.例文帳に追加
電池電圧検出線の接続状態を正確に検査可能な検査方法を提供する。 - 特許庁
WATER FILM FORMING METHOD TO SAMPLE SURFACE IN ENVIRONMENTAL TESTING APPARATUS AND ENVIRONMENTAL TESTING APPARATUS例文帳に追加
環境試験装置における試料表面への水膜形成方法及び環境試験装置 - 特許庁
NORMALITY TESTING METHOD OF NEW TIME SIGNAL GUIDE DEVICE AND NORMALITY TESTING DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加
新時報案内装置の正常性試験方法およびそれに用いる正常性試験装置 - 特許庁
To provide an acceleration sensor testing system and a testing method capable of shortening test time.例文帳に追加
試験時間を短縮することができる加速度センサの試験装置および試験方法を実現する。 - 特許庁
VOLUME-ADJUSTING METHOD IN AIR LEAK TESTING DEVICE AND AIR LEAK TESTING DEVICE HAVING VOLUME ADJUSTING FUNCTION例文帳に追加
エアリークテスト装置における容積調節方法および容積調節機能付きのエアリークテスト装置 - 特許庁
The testing method includes an electric power unit 20, a load device 30, and a controller for testing 50.例文帳に追加
この試験システムは、電源装置20と、負荷装置30と、試験用コントローラ50とを備える。 - 特許庁
METHOD OF TESTING MOTOR OPERATED VALVE, COMPUTER PROGRAM, AND CONTROL DEVICE OF POWER SUPPLY CASE FOR TESTING MOTOR OPERATED VALVE例文帳に追加
電動弁の試験方法、コンピュータプログラムおよび電動弁試験用電源箱の制御装置 - 特許庁
COVER SHEET FOR MICROORGANISM TESTING, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND KIT FOR MICROORGANISM TESTING例文帳に追加
微生物検査用カバーシート、微生物検査用カバーシートの製造方法、及び微生物検査用キット - 特許庁
ONU LOOP-BACK TESTING METHOD IN EPON SYSTEM, AND ONU WITH LOOP-BACK TESTING FUNCTION例文帳に追加
EPONシステムにおけるONUループバック試験方法、およびループバック試験機能を有するONU - 特許庁
To provide test equipment and a testing method for a signal processor for shortening of the amount of testing time.例文帳に追加
テスト時間を短縮するための信号処理装置のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁
SHOCK WAVE GENERATING DEVICE, SURFACE TREATMENT METHOD, NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD, AND TREATMENT METHOD例文帳に追加
衝撃波発生装置、表面処理方法、非破壊検査方法および治療方法 - 特許庁
TESTING METHOD, TEST PROGRAM, PROCESS MONITORING METHOD, AND PROCESS MONITORING PROGRAM例文帳に追加
試験方法、試験プログラム、工程監視方法及び工程監視プログラム - 特許庁
METHOD FOR TESTING ABILITY OF VISIBLE-RAY CYTOTOXICITY EXPRESSION, AND USE OF THE METHOD例文帳に追加
可視光細胞毒性発現能力の検定方法、及びその利用 - 特許庁
PHASE CALCULATING METHOD, PHASE CALCULATING DEVICE METHOD OF TESTING FOR THE DEVICE例文帳に追加
位相算出方法、位相算出装置及びその装置の試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING NANO-IMPRINT LITHOGRAPHY MOLD AND METHOD FOR REMOVING RESIN RESIDUE例文帳に追加
ナノインプリントリソグラフィーのモールド検査方法及び樹脂残渣除去方法 - 特許庁
CURRENT MEASURING DEVICE, TESTING DEVICE, CURRENT MEASURING METHOD, AND TEST METHOD例文帳に追加
電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR TESTING THE SAME AND METHOD FOR CORRECTING ITS REFERENCE VOLTAGE例文帳に追加
半導体装置、そのテスト方法、およびその基準電圧補正方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD FOR DATA TRANSFER APPARATUS, AND DATA TRANSFER APPARATUS例文帳に追加
データ転送装置の製造方法、試験方法、及びデータ転送装置 - 特許庁
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