「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(48ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体記憶装置および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING WEATHER RESISTANCE OF LOW ALLOY STEEL ACCELERATED BY COMBINED CYCLE例文帳に追加

低合金鋼の複合サイクル促進耐候性試験方法 - 特許庁

FLAT DISPLAY DEVICE AND A METHOD FOR TESTING FLAT DISPLAY DEVICE例文帳に追加

フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法 - 特許庁

REGULATOR CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

レギュレータ回路、集積回路、及び集積回路のテスト方法 - 特許庁

BURN-IN TESTING DEVICE AND CLASSIFICATION METHOD OF DEVICE TO BE TESTED例文帳に追加

バーンイン試験装置、および、被試験デバイスの分類方法 - 特許庁

IODINE REMOVING EFFICIENCY TESTING METHOD AND IODINE REMOVING FILTER例文帳に追加

よう素除去効率試験方法及びよう素除去フィルタ - 特許庁

TESTING METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT WITH DRIFT OF AVERAGE VALUE TAKEN INTO CONSIRATION例文帳に追加

平均値のドリフトを考慮した電子部品のテスト方法 - 特許庁

TOOL AND METHOD FOR TESTING ADHESIVE STRENGTH, AND SYSTEM例文帳に追加

粘着力試験器具および粘着力試験方法，システム - 特許庁

ELECTRO-OPTICAL DEVICE, METHOD FOR TESTING THE SAME, AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電気光学装置及びその検査方法、並びに電子機器 - 特許庁

NON-DISTRUCTIVE TESTING DEVICE AND METHOD FOR INVERTER TYPE RESISTANCE WELDING例文帳に追加

インバータ式抵抗溶接の非破壊検査装置及び方法 - 特許庁

LOW/HIGH TEMPERATURE ROOM TYPE THERMAL SHOCK TESTING DEVICE AND ITS OPERATING METHOD例文帳に追加

気槽式熱衝撃試験装置およびその運転方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子コンポーネント試験装置及び電子コンポーネントの試験方法 - 特許庁

PENETRATION TESTING MACHINE AND AUTOMATIC CALCULATION METHOD FOR CONVERSION N-VALUE例文帳に追加

貫入試験機および換算Ｎ値の自動算出方法 - 特許庁

DURABILITY TESTING METHOD OF COATING MEMBER AND TEST DEVICE THEREFOR例文帳に追加

コーティング部材の耐久性試験方法および試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING BENDING PROPERTY OF FLEXIBLE BOARD例文帳に追加

フレキシブル基板の折り曲げ性試験装置およびその方法 - 特許庁

VACUUM CHAMBER TESTING METHOD AND DEVICE FOR PIPELINE PENETRATION WELD ZONE例文帳に追加

配管貫通溶接部真空箱試験方法及び装置 - 特許庁

PROBE, PROBE SET, PROBE-IMMOBILIZED CARRIER, AND GENETIC TESTING METHOD例文帳に追加

プローブ、プローブセット、プローブ固定担体及び遺伝子検査方法 - 特許庁

ELECTROSTATIC CHUCK SYSTEM AND METHOD OF TESTING VACUUM FILM FORMING APPARATUS例文帳に追加

静電チャックシステムおよび真空成膜装置の試験方法 - 特許庁

D/A CONVERTER AND D/A CONVERSION LINEARITY TESTING METHOD例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータ及びＤ／Ａ変換直線性テスト方法 - 特許庁

TESTING MODEL FOR GAS TURBINE COMBUSTOR DOME AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

ガスタービン燃焼器ドームの試験モデル及びその製作方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING DRIVER CIRCUIT OF AMOLED例文帳に追加

ＡＭＯＬＥＤの駆動回路を検査する方法および装置 - 特許庁

TESTER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置およびその試験方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR CONTINUITY TESTING OF MEDICAL ELECTRODE例文帳に追加

医療用電極の導通試験のための方法およびシステム - 特許庁

NANO-WIRE TENSION TEST DEVICE AND TESTING METHOD USING DEVICE例文帳に追加

ナノワイヤ引張試験デバイス及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SIMULATION TESTING ON CENTRIFUGAL STRESS OF TURBINE BLADE例文帳に追加

タービン翼の遠心応力模擬試験方法及び装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST PROGRAM, TEST METHOD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体装置、試験プログラム、試験方法、および試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

CIRCUIT TESTING DEVICE, CIRCUIT TEST PROGRAM, AND CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

回路試験装置、回路試験プログラムおよび回路試験方法 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体装置の製造方法及び半導体試験装置 - 特許庁

CREATINE-MEASURING METHOD AND TESTING PIECE FOR MEASURING CREATININE例文帳に追加

クレアチニンの測定方法およびクレアチニン測定用試験片 - 特許庁

CIRCUIT OPENING TEST SYSTEM AND CIRCUIT OPENING TESTING METHOD例文帳に追加

回線開通試験システムおよび回線開通試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND DELAYED FAULT TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置、及び、遅延故障試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PINHOLE IN RUBBER GLOVE AND PINHOLE TEST SYSTEM例文帳に追加

ゴム手袋のピンホール検査方法及びピンホール検査装置 - 特許庁

TEST CORRESPONDING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

テスト対応型半導体集積回路及びそのテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD OF TESTING AUXILIARY BRAKE OF PASSENGER CONVEYOR例文帳に追加

乗客コンベアの補助ブレーキの試験装置及び試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体装置、および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

BOLT TESTING MACHINE INSTALLING DEVICE FOR ROOF AND ITS INSTALLATION METHOD例文帳に追加

屋根用ボルト試験機取付装置及びその設置方法 - 特許庁

SINGLE-PHASE THREE-WIRE TYPE CIRCUIT BREAKER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

単相三線式回路遮断器およびその試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT INCLUDING FeRAM CELL AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

ＦｅＲＡＭセルを含む集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING DEVICE AND METHOD OF THE SAME例文帳に追加

半導体装置及びその試験装置、並びに試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND CIRCUIT TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置および半導体装置の回路試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT USING INTEGRATED DEBUGGING CIRCUIT例文帳に追加

統合デバッグ回路を利用する集積回路の試験方法 - 特許庁