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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5393件
LIFETIME ACCELERATION TESTING METHOD OF POLYMER ELECTROLYTE FUEL CELL例文帳に追加
固体高分子型燃料電池の寿命加速試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ONE PROCESS OF MULTIPROCESS SYSTEM例文帳に追加
マルチプロセスシステムにおける1プロセスのテスト方法及びシステム - 特許庁
METHOD OF DISPLAYING COMMUNICATION TEST RESULT AND COMMUNICATION TESTING DEVICE例文帳に追加
通信試験結果表示方法および通信試験装置 - 特許庁
INSULATION TESTING METHOD AND DEVICE OF OUTER RING FOR ROLLING BEARING例文帳に追加
転がり軸受用外輪の絶縁試験方法及び装置 - 特許庁
AUTOMATIC PENETRATION TESTING MACHINE AND METHOD FOR PULLING OUT PENETRATION ROD例文帳に追加
自動貫入試験機および貫入ロッドの引き抜き方法 - 特許庁
ELECTRO-OPTICAL DEVICE, METHOD FOR TESTING THE SAME, AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
電気光学装置及びその検査方法、並びに電子機器 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MONITORING STATE DURING TESTING OF SUBSCRIBER'S LINE例文帳に追加
加入者回線試験時の状態監視方法と装置 - 特許庁
REGULATOR CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
レギュレータ回路、集積回路、及び集積回路のテスト方法 - 特許庁
VACUUM CHAMBER TESTING METHOD AND DEVICE FOR PIPELINE PENETRATION WELD ZONE例文帳に追加
配管貫通溶接部真空箱試験方法及び装置 - 特許庁
FLAT DISPLAY DEVICE AND A METHOD FOR TESTING FLAT DISPLAY DEVICE例文帳に追加
フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
半導体記憶装置および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING WEATHER RESISTANCE OF LOW ALLOY STEEL ACCELERATED BY COMBINED CYCLE例文帳に追加
低合金鋼の複合サイクル促進耐候性試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING FRICTION COEFFICIENT OF MACROMOLECULAR MATERIAL例文帳に追加
高分子材料の摩擦係数試験方法および装置 - 特許庁
BURN-IN TESTING DEVICE AND CLASSIFICATION METHOD OF DEVICE TO BE TESTED例文帳に追加
バーンイン試験装置、および、被試験デバイスの分類方法 - 特許庁
IODINE REMOVING EFFICIENCY TESTING METHOD AND IODINE REMOVING FILTER例文帳に追加
よう素除去効率試験方法及びよう素除去フィルタ - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR PRESSURE RELIEF TESTING OF LIGHTNING ARRESTER例文帳に追加
避雷器放圧試験装置および避雷器放圧試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT WITH DRIFT OF AVERAGE VALUE TAKEN INTO CONSIRATION例文帳に追加
平均値のドリフトを考慮した電子部品のテスト方法 - 特許庁
TOOL AND METHOD FOR TESTING ADHESIVE STRENGTH, AND SYSTEM例文帳に追加
粘着力試験器具および粘着力試験方法,システム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING BAR STEEL MEMBER FOR WITHDRAWING RESISTANCE例文帳に追加
棒鋼部材の引抜抵抗試験装置およびその試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING TOROIDAL TYPE CONTINUOUSLY VARIABLE TRANSMISSION例文帳に追加
トロイダル型無段変速機の試験方法及び試験装置 - 特許庁
To provide a vehicle suspension testing method of module type.例文帳に追加
モジュール方式の車両サスペンション試験法を提供する。 - 特許庁
TESTING METHOD FOR BASE STATION UNIT IN MOBILE COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
移動体通信システムにおける基地局装置試験方法 - 特許庁
METHOD OF INTEGRATED TEST OF SEMICONDUCTOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体統合試験方法、および半導体試験装置 - 特許庁
APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウェハの検査装置、検査方法、及び検査プログラム - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の試験システムおよびその試験方法 - 特許庁
BOLT TESTING MACHINE INSTALLING DEVICE FOR ROOF AND ITS INSTALLATION METHOD例文帳に追加
屋根用ボルト試験機取付装置及びその設置方法 - 特許庁
SINGLE-PHASE THREE-WIRE TYPE CIRCUIT BREAKER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
単相三線式回路遮断器およびその試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING DRIVER CIRCUIT OF AMOLED例文帳に追加
AMOLEDの駆動回路を検査する方法および装置 - 特許庁
TESTER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路の試験装置およびその試験方法 - 特許庁
CIRCUIT OPENING TEST SYSTEM AND CIRCUIT OPENING TESTING METHOD例文帳に追加
回線開通試験システムおよび回線開通試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND DELAYED FAULT TESTING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路装置、及び、遅延故障試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING PINHOLE IN RUBBER GLOVE AND PINHOLE TEST SYSTEM例文帳に追加
ゴム手袋のピンホール検査方法及びピンホール検査装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR SIMULATION TESTING ON CENTRIFUGAL STRESS OF TURBINE BLADE例文帳に追加
タービン翼の遠心応力模擬試験方法及び装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST PROGRAM, TEST METHOD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体装置、試験プログラム、試験方法、および試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
TEST CORRESPONDING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
テスト対応型半導体集積回路及びそのテスト方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD OF TESTING AUXILIARY BRAKE OF PASSENGER CONVEYOR例文帳に追加
乗客コンベアの補助ブレーキの試験装置及び試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加
半導体装置、および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁
CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
半導体集積回路装置のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS例文帳に追加
半導体装置の製造方法及び半導体試験装置 - 特許庁
CREATINE-MEASURING METHOD AND TESTING PIECE FOR MEASURING CREATININE例文帳に追加
クレアチニンの測定方法およびクレアチニン測定用試験片 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT INCLUDING FeRAM CELL AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
FeRAMセルを含む集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING DEVICE AND METHOD OF THE SAME例文帳に追加
半導体装置及びその試験装置、並びに試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁
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