「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(50ページ目) - Weblio英語例文検索

SOCKET FOR LSI TESTING FOR PROXIMITY IC CARD AND TESTING METHOD OF LSI FOR PROXIMITY IC CARD例文帳に追加

非接触ＩＣカード用ＬＳＩ試験用ソケット及び非接触ＩＣカード用ＬＳＩの試験方法 - 特許庁

OUTPUT CIRCUIT FOR CONTROLLING GRAY-SCALE, ITS TESTING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THE CIRCUIT例文帳に追加

階調制御用出力回路及びその検査用装置，階調制御用出力回路の検査方法 - 特許庁

IMPACT TESTING APPARATUS WITH DOUBLE HAMMERING PREVENTION MECHANISM AND DOUBLE HAMMERING PREVENTION METHOD FOR IMPACT TESTING APPARATUS例文帳に追加

二度打ち防止機構を備えた衝撃試験装置および衝撃試験装置の二度打ち防止方法 - 特許庁

BLOOD SENSOR UNIT, BLOOD TESTING APPARATUS USING IT AND MEASUREMENT METHOD USING THE BLOOD TESTING APPARATUS例文帳に追加

血液センサユニットとこれを用いた血液検査装置及びこの血液検査装置を用いた測定方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING SYSTEM, DATA STRUCTURE FOR SPECIFYING PHYSICAL MAP OF MEMORY BLOCK例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法、試験システム、メモリブロックの物理マップ特定用データ構造 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TESTING PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT,例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路の検査方法、半導体集積回路の検査プログラム - 特許庁

PROBE CARD FOR USE IN TESTING CHIP ON SEMICONDUCTOR WAFER, AND METHOD FOR TESTING CHIP ON SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハ上のチップの検査に用いるプローブカードおよび半導体ウエハ上のチップの検査方法 - 特許庁

To provide a liquid crystal display built in with a testing circuit, and a liquid crystal display testing method.例文帳に追加

試験回路を組み込んだ液晶表示装置及び液晶表示装置試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic testing device and an ultrasonic testing method capable of economical constitution and capable of testing with simple data collection.例文帳に追加

安価に構成でき且つデータ採集の簡易な試験を行うことの可能な超音波試験装置及び超音波試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device for a touch panel and a testing method for a touch panel that are capable of decreasing the number of routing wires and enabling testing in a short period of time.例文帳に追加

引回し配線の数を減らし、短時間の検査を可能とするタッチパネルの検査装置およびタッチパネルの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method capable of testing a plurality of gyros on a testing board composed of PCB with an equivalent characteristic to testing a single gyro.例文帳に追加

複数のジャイロをＰＣＢにより構成される検査ボードに載せて検査する際に、ジャイロ単独で検査したのと同等の特性で検査することができる試験方法を提供すること。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING FUNCTION OF ACTIVE FINE- STRUCTURE ELEMENT, AND METHOD FOR MANUFACTURING ACTIVE FINE ELEMENT USING THE TESTING METHOD例文帳に追加

能動微細構造素子の機能試験方法及び装置、当該方法を用いて能動微細素子を製造する能動微細素子製造方法 - 特許庁

NUCLEIC ACID IMMOBILIZING SUBSTRATE, METHOD FOR MANUFACTURING SAME, NUCLEIC ACID TESTING DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING SAME AND NUCLEIC ACID TESTING METHOD例文帳に追加

核酸固定用基材、核酸固定用基材の製造方法、核酸検査用デバイス、核酸検査用デバイスの製造方法、並びに核酸検査方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING LIVER TUMOROUS LESION IN MAMMAL例文帳に追加

哺乳動物における肝臓腫瘍性病変の検定方法 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TESTING METHOD OF HIGH PRESSURE TANK, AND DEVICE FOR AIRTIGHTNESS TEST例文帳に追加

高圧タンクの気密試験方法および気密試験用装置 - 特許庁

MEDIUM TEST AUXILIARY UNIT FOR REPEATER AND METHOD FOR TESTING MEDIUM例文帳に追加

中継器用媒体試験補助装置及び媒体試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR EDDY CURRENT FLAW DETECTION TESTING例文帳に追加

渦電流探傷試験方法及び渦電流探傷試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DESTRUCTIVELY TESTING JIG CLAMPER例文帳に追加

治具クランパ破壊試験装置及び治具クランパ破壊試験方法 - 特許庁

MATERIAL TESTING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

材料試験装置における制御方法および材料試験装置 - 特許庁

METHOD, DEVICE AND TEST PIECE FOR TESTING THERMAL FATIGUE例文帳に追加

熱疲労試験方法、熱疲労試験装置及び熱疲労試験片 - 特許庁

RAY PATH TESTING SYSTEM AND LIGHT SOURCE POWER LEVEL MONITORING METHOD例文帳に追加

光線路試験装置及び光源出力レベルの監視方法 - 特許庁

METHOD AND DRUG FOR TESTING PANCREAS DISEASE ACCORDING TO AUTOTAXIN MEASUREMENT例文帳に追加

オートタキシン測定による膵疾患の検査方法および検査薬 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR REMOTELY CONTROLLING TESTING DEVICE ON NETWORK例文帳に追加

ネットワーク上の試験装置を遠隔制御するシステム及び方法 - 特許庁

DISCHARGE MEASUREMENT DEVICE FOR IMPULSE TESTING, AND DISCHARGE DECIDING METHOD例文帳に追加

インパルス試験用放電計測装置及び放電判別方法 - 特許庁

RESIN IMPREGNATED STRAND TESTING APPARATUS AND METHOD USING THE SAME例文帳に追加

樹脂含浸ストランド試験装置、およびそれを用いた試験方法 - 特許庁

RAY PATH TESTING SYSTEM AND CORRECTION METHOD FOR TRANSMISSION LOSS CHARACTERISTIC例文帳に追加

光線路試験装置及び伝送損失特性の補正方法 - 特許庁

STRAIN AND SETTLEMENT MEASURING METHOD FOR TESTING VERTICAL LOAD ON PILE例文帳に追加

杭の鉛直載荷試験用ひずみ及び沈下量測定方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法と半導体集積回路 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING THERMAL RESPONSE OF UNDERGROUND HEAT EXCHANGER例文帳に追加

地中熱交換器の熱応答試験方法および同装置 - 特許庁

IMAGE FORMING DEVICE, DENSITOMER DIAGNOSTIC SYSTEM AND DIAGNOSTIC TESTING METHOD例文帳に追加

画像形成装置、濃度計診断システム及び診断試験方法 - 特許庁

SINGLE CHIP MICROCOMPUTER, TESTING METHOD THEREFOR AND TEST PROGRAM例文帳に追加

シングルチップマイクロコンピュータ並びにその試験方法及び試験プログラム - 特許庁

The method for testing the surface by using the device is also provided.例文帳に追加

当該機器で表面を試験する方法も提供される。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING STRESS CORROSION CRACK FOR CONDENSER例文帳に追加

復水器の応力腐食割れ試験装置および試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SOUND INFORMATION REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

音声情報再生装置の試験装置及びその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の試験装置および試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING STATE TRANSITION OF BASE STATION APPARATUS例文帳に追加

基地局装置の状態遷移試験装置および試験方法 - 特許庁

OPTICAL SIGNAL TRANSMISSION TESTING METHOD AND OPTICAL TRANSMISSION LINE SIMULATOR例文帳に追加

光信号伝送試験方法および光伝送路模擬装置 - 特許庁

To provide a method for testing susceptibility to asthma.例文帳に追加

ぜん息に対する過敏性を試験する方法が提供される。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing a compressor.例文帳に追加

圧縮機を検査するための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

TESTING DEVICE TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験装置及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

PROBE CARD, AND TEST METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びそれを用いたテスト方法半導体試験装置 - 特許庁

NETWORK TESTING APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

ネットワーク試験装置、ネットワーク試験方法およびネットワーク試験プログラム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING COMMUNICATION PROTOCOL AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

通信プロトコル試験方法、通信プロトコル試験装置とそのプログラム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING FRICTION CHARACTERISTICS OF ELASTIC MATERIAL ON ICE例文帳に追加

弾性材料の氷上摩擦特性試験方法および装置 - 特許庁

MEMORY REPAIR ANALYSIS DEVICE, MEMORY REPAIR ANALYSIS METHOD, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

メモリリペア解析装置、メモリリペア解析方法、および試験装置 - 特許庁