「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(54ページ目) - Weblio英語例文検索

CORROSION TESTING METHOD OF ANTI-CORROSION STEEL FOR HOLD OF COAL SHIP AND SHIP FOR COAL AND IRON ORE AND METHOD FOR PREDICTING USAGE LIFE OF SHIP USING THE CORROSION TESTING METHOD例文帳に追加

石炭船および石炭・鉄鉱石兼用船ホールド用耐食鋼の腐食試験方法及びそれを用いた船舶の使用寿命を予測する方法 - 特許庁

INTERACTION TESTING DEVICE OF BIO-MOLECULE, INTERACTION TESTING METHOD OF BIO-MOLECULE, MELTING TEMPERATURE MEASURING METHOD OF BIO-MOLECULE, AND ARRAY DETECTION METHOD OF NUCLEIC ACID例文帳に追加

生体分子の相互作用試験装置、生体分子の相互作用試験方法、生体分子の融解温度測定方法、核酸の配列検知方法 - 特許庁

TEAR TESTING METHOD AND APPARATUS FOR VULCANIZED RUBBER AND WEAR RESISTANT PERFORMANCE EVALUATION METHOD例文帳に追加

加硫ゴムの引裂き試験方法とその試験装置および耐摩耗性能評価方法 - 特許庁

INTERFACE CIRCUIT, AND TESTING METHOD AND DEBUGGING METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

インターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, ITS TESTING METHOD, DATABASE FOR ITS DESIGN, AND ITS DESIGNING METHOD例文帳に追加

集積回路装置，そのテスト方法，その設計用データベース及びその設計方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING WAVELENGTH-TUNABLE LASER, METHOD OF CONTROLLING WAVELENGTH-TUNABLE LASER, AND LASER DEVICE例文帳に追加

波長可変レーザの試験方法、波長可変レーザの制御方法およびレーザ装置 - 特許庁

MEASURING DEVICE, BIOLOGICAL TESTING DEVICE, FLOW VELOCITY MEASURING METHOD, AND PRESSURE MEASURING METHOD例文帳に追加

測定装置、生体検査装置、流速測定方法、および圧力測定方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PIPE LINE AND METHOD FOR GENERATING PIPE LINE TEST INSTRUCTION AND ITS STORAGE MEDIUM例文帳に追加

パイプライン試験方法、パイプライン試験命令生成方法及びその記憶媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の製造方法、および半導体装置のテスト方法 - 特許庁

SHOCK-RESISTANCE TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体ウェハの耐衝撃性試験方法および半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP AND SEMICONDUCTOR WAFER, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体チップ、半導体ウエハのテスト方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide an electric wire flexibility testing device and its testing method, capable of carrying out testing at a high measurement accuracy, inexpensively, without twisting of wires during testing, and with little fluctuation of measurement.例文帳に追加

低コストで、試験中に電線が捩れることなく、計測のバラつきが少なく、高い計測精度で試験を行うことができる電線の耐屈曲性試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To reduce remarkably a time necessary for a multi process testing accompanying a retesting process with a mechanical constitution equipped with the present testing devices as it is, with respect to the multi-process testing method and the multi-process testing device.例文帳に追加

多工程試験方法及び多工程試験装置に関し、現在の試験装置の具備する機械的構成のままで再試験工程を伴う多工程試験に要する時間を大幅に低減する。 - 特許庁

AUTOMATIC DROP SHOCK TESTING MACHINE AND METHOD THEREOF例文帳に追加

自動落下衝撃試験装置及び自動落下衝撃試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL INFORMATION MEDIUM例文帳に追加

光情報媒体の検査方法および光情報媒体検査装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PHYSICAL LAYER DEVICE, AND THE PHYSICAL LAYER DEVICE WITH TEST CIRCUIT例文帳に追加

物理層デバイスのテスト方法及びテスト回路付き物理層デバイス - 特許庁

To provide a high-reliability method of testing superconducting wire.例文帳に追加

信頼性の高い超電導線材の試験方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF TESTING DOCUMENT PROVIDED WITH OPTICO-DIFFRACTIVELY EFFECTIVE SAFETY LAYER例文帳に追加

回折光学的有効安全層を備えたドキュメントの検査方法 - 特許庁

INFORMATION PROCESSING APPARATUS, MODULE REPLACEMENT APPARATUS, AND METHOD FOR TESTING PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、モジュール交換装置およびプログラムのテスト方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF CALIBRATING TIMING FOR DEVICE OF TESTING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

集積回路デバイス試験装置のタイミング較正方法および装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING SKEW, RECORDING MEDIUM, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

スキュー測定装置、スキュー測定方法、記録媒体、および試験装置 - 特許庁

BONDING STRENGTH TESTING MACHINE FOR BONDING WIRE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

ボンディングワイヤの接合強度試験装置及び接合強度試験法 - 特許庁

ELECTROOPTICAL APPARATUS, TESTING METHOD AND DRIVING DEVICE FOR SAME AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電気光学装置、その検査方法、駆動装置および電子機器 - 特許庁

METHOD AND MACHINE FOR TESTING MATERIAL BY ON-DEMAND SYSTEM例文帳に追加

オンデマンドにより材料試験を行う方法および材料試験機 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SMALL HOLE FORMED ON HOLLOW SHAFT例文帳に追加

中空軸に形成された小孔の検査方法および検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING RELIABILITY OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の信頼性試験方法及び信頼性試験装置 - 特許庁

To provide an apparatus and method for blood sample acquisition and testing.例文帳に追加

血液検体採取と試験のための装置と方法を提供する。 - 特許庁

X-RAY SECTION TESTING METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

Ｘ線断層面検査方法、及びＸ線断層面検査装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING DIGITAL DEVICE USING TRANSITION TIME STAMP例文帳に追加

遷移タイムスタンプを利用したディジタル・デバイスの試験装置および方法 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR, AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体試験装置における制御方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS BURN-IN OPERATION TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置およびそのバーンイン動作試験装置・試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING LIQUID-PRESSURE DESTRUCTION OF PROPELLANT TANK FOR SPACECRAFT例文帳に追加

宇宙機用推薬タンクの液圧破壊試験装置および試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING LSI EQUIPPED WITH ASYNCHRONOUS CIRCUIT, AND APPARATUS FOR EVALUATING THE LSI例文帳に追加

非同期回路を備えたＬＳＩのテスト手法とその評価装置 - 特許庁

PROGRAM AND METHOD FOR SCAN CHAIN EXTRACTION AND TESTING SYSTEM例文帳に追加

スキャンチェーン抽出プログラム、スキャンチェーン抽出方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SENSITIVITY OF TUMOR CELL TO ANTICANCER AGENT例文帳に追加

腫瘍細胞の抗癌剤に対する感受性を検定する方法 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR UNDERWATER CONCRETE STRUCTURE USING REBOUND HAMMER例文帳に追加

リバウンドハンマーを用いた水中コンクリート構造物非破壊試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING LINE AND DEVICE THEREFOR AND ITS PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

回線試験方法および装置およびプログラムおよび記録媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

PRINTED WIRING BOARD AND RELIABILITY TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

プリント配線基板及びプリント配線基板の信頼性試験方法 - 特許庁

APPARATUS FOR PUSHING AND HITTING TESTING OF DEVICE- MOUNTED SUBSTRATE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

デバイス実装済み基板の押打試験装置及びその試験方法 - 特許庁

METHOD FOR SECURING DATA IN MACHINE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENTS例文帳に追加

電子構成部品を試験するための機械にデ—タを確保する方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING PRESSURE RELIEF IN ZINC OXIDE TYPE LIGHTING ARRESTER例文帳に追加

酸化亜鉛形避雷器の放圧試験方法及び放圧試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND PRODUCTION METHOD OF A/D CONVERTER例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換器試験装置及びＡ／Ｄ変換器の生産方法 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY, AND METHOD FOR DETECTING ITS DEFECTIVE OPERATION例文帳に追加

半導体メモリ試験装置およびその動作不良検出方法 - 特許庁

To reduce the test time period by a convenient testing method about a method of testing the durability of exhaust purification devices for vehicles.例文帳に追加

車両用排気浄化装置の耐久試験方法に関し、簡便な試験方法によって試験期間を短縮できるようにする。 - 特許庁