「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(54ページ目) - Weblio英語例文検索

TEAR TESTING METHOD AND APPARATUS FOR VULCANIZED RUBBER AND WEAR RESISTANT PERFORMANCE EVALUATION METHOD例文帳に追加

加硫ゴムの引裂き試験方法とその試験装置および耐摩耗性能評価方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PIPE LINE AND METHOD FOR GENERATING PIPE LINE TEST INSTRUCTION AND ITS STORAGE MEDIUM例文帳に追加

パイプライン試験方法、パイプライン試験命令生成方法及びその記憶媒体 - 特許庁

INTERFACE CIRCUIT, AND TESTING METHOD AND DEBUGGING METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

インターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法 - 特許庁

MEASURING DEVICE, BIOLOGICAL TESTING DEVICE, FLOW VELOCITY MEASURING METHOD, AND PRESSURE MEASURING METHOD例文帳に追加

測定装置、生体検査装置、流速測定方法、および圧力測定方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING WAVELENGTH-TUNABLE LASER, METHOD OF CONTROLLING WAVELENGTH-TUNABLE LASER, AND LASER DEVICE例文帳に追加

波長可変レーザの試験方法、波長可変レーザの制御方法およびレーザ装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, ITS TESTING METHOD, DATABASE FOR ITS DESIGN, AND ITS DESIGNING METHOD例文帳に追加

集積回路装置，そのテスト方法，その設計用データベース及びその設計方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の製造方法、および半導体装置のテスト方法 - 特許庁

SHOCK-RESISTANCE TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体ウェハの耐衝撃性試験方法および半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP AND SEMICONDUCTOR WAFER, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体チップ、半導体ウエハのテスト方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide an electric wire flexibility testing device and its testing method, capable of carrying out testing at a high measurement accuracy, inexpensively, without twisting of wires during testing, and with little fluctuation of measurement.例文帳に追加

低コストで、試験中に電線が捩れることなく、計測のバラつきが少なく、高い計測精度で試験を行うことができる電線の耐屈曲性試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To reduce remarkably a time necessary for a multi process testing accompanying a retesting process with a mechanical constitution equipped with the present testing devices as it is, with respect to the multi-process testing method and the multi-process testing device.例文帳に追加

多工程試験方法及び多工程試験装置に関し、現在の試験装置の具備する機械的構成のままで再試験工程を伴う多工程試験に要する時間を大幅に低減する。 - 特許庁

DISPLAY DEVICE DRIVING, DISPLAY AND DRIVER CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

ディスプレイ装置駆動デバイス、ディスプレイ装置及びドライバ回路テスト方法 - 特許庁

CHART, SYSTEM AND METHOD FOR TESTING RESOLUTION例文帳に追加

解像度検査用チャート、解像度検査装置及び解像度検査方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING OVERSPEED PROTECTION SYSTEM OF TURBOMACHINE例文帳に追加

ターボ機械の過速度防止システムを試験するための方法及びシステム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING PERFORMANCE OF GAS DETECTOR例文帳に追加

ガス検知器性能試験装置およびガス検知器の性能試験方法 - 特許庁

PROJECT FILE, METHOD OF TESTING THE SAME, CONTROL SYSTEM, AND CONTROL DISPLAY例文帳に追加

プロジェクトファイル、そのテスト方法、制御システムおよび制御用表示器 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING BLADDER CANCER AND CONTROL METHOD OF THE DEVICE例文帳に追加

膀胱癌検査装置および膀胱癌検査装置の制御方法 - 特許庁

X-RAY SECTION TESTING METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

Ｘ線断層面検査方法、及びＸ線断層面検査装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING AND EVALUATING ELECTRONIC PART例文帳に追加

電子部品の試験評価方法、及び電子部品の試験評価装置 - 特許庁

PLUG, COMMUNICATION TRANSMISSION/RECEPTION TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

プラグ、通信発着信試験装置および通信発着信試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING DIGITAL DEVICE USING TRANSITION TIME STAMP例文帳に追加

遷移タイムスタンプを利用したディジタル・デバイスの試験装置および方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING BOND STRENGTH OF BONDING WIRE例文帳に追加

ボンディングワイヤの接合強度試験装置及び接合強度試験法 - 特許庁

QUALITY DECISION TESTING DEVICE AND METHOD OF COATING STATE OF SEALING AGENT例文帳に追加

封口剤の塗布状態の良否判定検査装置および方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL INFORMATION MEDIUM例文帳に追加

光情報媒体の検査方法および光情報媒体検査装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PHYSICAL LAYER DEVICE, AND THE PHYSICAL LAYER DEVICE WITH TEST CIRCUIT例文帳に追加

物理層デバイスのテスト方法及びテスト回路付き物理層デバイス - 特許庁

AUTOMATIC DROP SHOCK TESTING MACHINE AND METHOD THEREOF例文帳に追加

自動落下衝撃試験装置及び自動落下衝撃試験方法 - 特許庁

To provide a high-reliability method of testing superconducting wire.例文帳に追加

信頼性の高い超電導線材の試験方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING LINE AND DEVICE THEREFOR AND ITS PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

回線試験方法および装置およびプログラムおよび記録媒体 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SENSITIVITY OF TUMOR CELL TO ANTICANCER AGENT例文帳に追加

腫瘍細胞の抗癌剤に対する感受性を検定する方法 - 特許庁

METHOD AND MACHINE FOR TESTING MATERIAL BY ON-DEMAND SYSTEM例文帳に追加

オンデマンドにより材料試験を行う方法および材料試験機 - 特許庁

INFORMATION PROCESSING APPARATUS, MODULE REPLACEMENT APPARATUS, AND METHOD FOR TESTING PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、モジュール交換装置およびプログラムのテスト方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF CALIBRATING TIMING FOR DEVICE OF TESTING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

集積回路デバイス試験装置のタイミング較正方法および装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SMALL HOLE FORMED ON HOLLOW SHAFT例文帳に追加

中空軸に形成された小孔の検査方法および検査装置 - 特許庁

ELECTROOPTICAL APPARATUS, TESTING METHOD AND DRIVING DEVICE FOR SAME AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電気光学装置、その検査方法、駆動装置および電子機器 - 特許庁

UNINTERRUPTIBLE POWER SUPPLY EQUIPMENT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

無停電電源設備および前記無停電電源設備の試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING AIR LEAK IN PNEUMATIC TIRE,例文帳に追加

空気入りタイヤの空気漏れ試験装置及び空気漏れ試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ADHESIVENESS OF SURFACE OF TIRE LINER例文帳に追加

タイヤライナの表面の接着能力を試験する装置および方法 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing large-area substrates.例文帳に追加

大面積基板を検査するための装置及び方法を記載する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING INSULATION MONITORING DEVICE例文帳に追加

絶縁監視装置の試験装置及び絶縁監視装置の試験方法 - 特許庁

SCANNING ELEMENT, SYMBOLIC DEVICE, AND METHOD FOR TESTING QUALITY OF COMBINED CIRCUIT例文帳に追加

スキャン素子、論理装置および、組み合せ回路の良否テスト方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING SKEW, RECORDING MEDIUM, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

スキュー測定装置、スキュー測定方法、記録媒体、および試験装置 - 特許庁

BONDING STRENGTH TESTING MACHINE FOR BONDING WIRE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

ボンディングワイヤの接合強度試験装置及び接合強度試験法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING RELIABILITY OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の信頼性試験方法及び信頼性試験装置 - 特許庁

To provide an apparatus and method for blood sample acquisition and testing.例文帳に追加

血液検体採取と試験のための装置と方法を提供する。 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR, AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体試験装置における制御方法 - 特許庁