「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(58ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR MANUFACTURING MAGNETIC DISK DEVICE, TESTING/ADJUSTING DEVICE, AND CARRYING CONTAINER例文帳に追加

磁気ディスク装置の製造方法、試験／調整装置及び搬送容器 - 特許庁

LIFETIME PREDICTION TEST METHOD OF POLYMER MEMBRANE, TESTING DEVICE, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラム - 特許庁

DURABILITY PERFORMANCE TEST METHOD OF STEERING DEVICE OF VEHICLE AND TESTING DEVICE例文帳に追加

車両のステアリング装置の耐久性能試験方法及び試験装置 - 特許庁

TEST MODULE AND TESTING METHOD FOR MEASURING COLOR AND LIGHT INTENSITY例文帳に追加

光の色及び強度を測定するためのテストモジュール及び試験方法 - 特許庁

METHOD, SYSTEM AND DEVICE FOR TESTING RADIO BASE STATION DEVICE例文帳に追加

無線基地局装置の試験方法および試験システム並びに試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING EXPANSION FATIGUE OF CLOTH例文帳に追加

布帛の伸縮疲労試験装置および布帛の伸縮疲労試験方法 - 特許庁

MODEL STRUCTURE, AND APPARATUS AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

模型構造物の試験装置とその試験方法及び模型構造物 - 特許庁

TEST PIECE FOR SENSITIVITY CALIBRATION OF ULTRASONIC TESTING, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

超音波探傷試験の感度校正用試験片とその製造方法 - 特許庁

INTER-NODE TESTING METHOD FOR COMMUNICATION NETWORK AND NODE DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

通信ネットワークのノード間試験方法及びそれに用いるノード装置 - 特許庁

POSITION CORRECTING METHOD AND DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

位置補正方法及び装置並びに半導体集積回路試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING COMPONENT BUILT IN CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板に組み込まれた部品を検査するための装置及び方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD AND PREPARATION SYSTEM FOR TESTING BOVINE SPONGIFORM ENCEPHALOPATHY例文帳に追加

牛海綿状脳症の検査前処理方法及び検査前処理システム - 特許庁

METHOD, APPARATUS AND PROBE FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板検査方法およびその装置ならびに回路基板検査プローブ - 特許庁

FLUIDITY TESTING DEVICE FOR SEDIMENT, AND FLUIDITY TEST METHOD FOR SEDIMENT例文帳に追加

土砂の流動性試験装置および土砂の流動性試験方法 - 特許庁

To provide a method and a packet receiver for testing a network.例文帳に追加

ネットワークを検査するための方法およびパケット受信器を提供する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CONFIRMING/TESTING CALL INFORMATION DATA例文帳に追加

呼情報データ確認試験装置及び呼情報データ確認試験方法 - 特許庁

FLAW DETECTION TESTER, FLAW DETECTION TESTING METHOD AND SHEET MEMBER FOR FLAW DETECTION TEST例文帳に追加

探傷試験装置、探傷試験方法及び探傷試験用シート部材 - 特許庁

TEST APPARATUS FOR TESTING VIBRATION CHARACTERISTIC OF TIRE AND TEST METHOD USING THE TEST APPARATUS例文帳に追加

タイヤの振動特性の試験装置、及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD FOR DETECTING OFF CAPACITY ABNORMALITY OF RELAY例文帳に追加

半導体試験装置およびリレーのオフ容量異常検出方法 - 特許庁

DEVICE, PROGRAM, METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SOFTWARE例文帳に追加

ソフトウェアテスト装置、ソフトウェアテストプログラム、ソフトウェアテスト方法及びソフトウェアテストシステム - 特許庁

DEVICE FOR TESTING RULE FILE FOR LAYOUT VERIFICATION AND TEST METHOD AND TEST PROGRAM例文帳に追加

レイアウト検証用ルールファイルのテスト装置、テスト方法及びテストプログラム - 特許庁

SOLDER CREEP STRENGTH TESTING DEVICE AND SOLDER CREEP STRENGTH TEST METHOD例文帳に追加

はんだクリープ強度試験装置、およびはんだクリープ強度試験方法 - 特許庁

CHIP HOLDING MEANS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING UNIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体デバイスの試験装置用のチップ保持手段及び試験方法 - 特許庁

PRODUCING METHOD AND MACHINE FOR TEST DATA, AND WIRING TESTING MACHINE例文帳に追加

検査データの作製方法及び検査データ作製機並びに布線検査機 - 特許庁

MOUNTING METHOD OF TERMINAL FITTING FOR FRETTING CORROSION TESTING EQUIPMENT AND FIXING TOOL例文帳に追加

フレッチング腐食試験装置の端子金具の取り付け方法と固定具 - 特許庁

TIMING CALIBRATION CIRCUIT AND TIMING CALIBRATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のタイミング校正回路及びタイミング校正方法 - 特許庁

To provide a method for testing graphics cards.例文帳に追加

本発明はグラフィックスカードのテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

MEDIUM TEST AUXILIARY DEVICE FOR NETWORK TERMINATING DEVICE AND MEDIUM TESTING METHOD例文帳に追加

網終端装置用媒体試験補助装置及び媒体試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING MECHANICAL ENDURANCE OF SURFACE OF OPTICAL DISK例文帳に追加

光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING LUBRICATION PROPERTY OF EMULSION ROLLING OIL例文帳に追加

エマルション圧延油の潤滑性試験装置および潤滑性試験方法 - 特許庁

TESTING SOCKET, TEST METHOD USING THE SAME AND MEMBER TO BE TESTED例文帳に追加

テスト用ソケット、このテスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁

BATTERY PACK, DEVICE AND METHOD FOR BATTERY PACK CAPACITY TESTING例文帳に追加

組電池、組電池容量試験装置、および組電池容量試験方法 - 特許庁

IC TESTING DEVICE AND EXTERNAL EQUIPMENT DISCRIMINATING METHOD IN THE SAME例文帳に追加

ＩＣ試験装置、及びＩＣ試験装置における外部機器識別方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING γ-RAY SENSITIVITY OF PROPORTIONAL COUNTER TYPE NEUTRON DETECTOR例文帳に追加

比例計数管型中性子検出器のγ線感度試験方法 - 特許庁

NAND-TYPE FLASH MEMORY AND NAND-TYPE FLASH MEMORY TESTING METHOD例文帳に追加

ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ、及び、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリのテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR AUTOMATICALLY CALIBRATING DETECTION LEVEL IN MEASURING PART OF SHUTTER TESTING MACHINE例文帳に追加

シャッタ試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法 - 特許庁

RADIATION SOLID STATE DETECTOR AND METHOD FOR TESTING SAME例文帳に追加

放射線固体検出器および放射線固体検出器の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING FUNCTION OF MEMORY CELL OF INTEGRATED MEMORY AND INTEGRATED MEMORY例文帳に追加

集積メモリのメモリセルの機能をテストする方法および集積メモリ - 特許庁

To provide a simple and comprehensive method for testing an LXR- binding ability.例文帳に追加

簡便でより網羅的なLXR結合能を試験する方法を見出すこと。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING GROUND LEAKAGE BREAKER BUILT IN ELECTRIC WORK DRUM例文帳に追加

電工ドラムに内蔵された漏電遮断器の試験方法および装置 - 特許庁

To provide an improved method of developing and testing smart cards.例文帳に追加

スマートカードの開発及びテストを行う改良した技術を提供する。 - 特許庁

To provide a test pulse generation method and a system for testing an electronic apparatus.例文帳に追加

電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステムの提供。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DRIVING SOURCE OUTPUT TRANSMISSION BODY FOR VEHICLE例文帳に追加

車両の駆動源出力伝達体の試験方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

光半導体装置の試験方法および光半導体装置の試験装置 - 特許庁

BRAKING FORCE TESTING DEVICE AND METHOD OF HOIST BRAKE FOR ELEVATOR例文帳に追加

エレベータ用巻上機ブレーキの制動力試験装置および試験方法 - 特許庁