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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5393件
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SURFACE STATE OF MEASURING OBJECT例文帳に追加
測定物の表面状態試験方法及びその表面状態試験装置 - 特許庁
To provide a method and a device of testing a semiconductor wafer or a sample.例文帳に追加
半導体ウエハまたはサンプルを検査する方法と装置を提供する。 - 特許庁
TESTING MACHINE AND SAFETY EVALUATION METHOD OF POWER STORAGE AND SUPPLY DEVICE例文帳に追加
試験装置及び電力貯蔵供給デバイスの安全性評価方法 - 特許庁
OPTICAL TRANSMISSION APPARATUS AND ITS CONTINUITY TESTING METHOD, AND OPTICAL TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加
光伝送装置およびその導通試験方法並びに光伝送システム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING DEFORMATION PERFORMANCE OF ASPHALT MATERIAL例文帳に追加
アスファルト材料の変形性能試験装置および変形性能試験方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND METHOD FOR PREVENTING OVERLOAD OF RECEIVER IN TRANSCEIVER TEST例文帳に追加
トランシーバ試験の際にレシーバの過負荷を防止する試験装置及び方法。 - 特許庁
CONTINUITY TESTER AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウエハの導通検査装置及びこれに用いられる導通検査方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト方法及び半導体集積回路のテスト装置 - 特許庁
TESTING METHOD FOR CHECKING FUNCTION FOR PROGRAMMABLE CONTROLLER AND PLANT MONITOR AND CONTROL DEVICE例文帳に追加
プログラマブルコントローラの機能確認試験方法およびプラント監視制御装置 - 特許庁
FALSE ACUPUNCTURE, FALSE MAGNETIC PLASTER AND DOUBLE BLIND TESTING METHOD USING THEM例文帳に追加
偽鍼、偽磁気絆創膏、及び、これらを用いた二重盲検試験方法 - 特許庁
PURIFICATION TEST METHOD OF CONTAMINATED SOIL, AND PURIFICATION TESTING DEVICE OF CONTAMINATED SOIL例文帳に追加
汚染土壌の浄化試験方法および汚染土壌の浄化試験装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING RECORDING ON OPTICAL RECORDING MEDIUM, AND APPARATUS FOR TESTING例文帳に追加
光記録媒体の記録制御方法、記録制御装置、及び検査装置 - 特許庁
TEST METHOD OF CONCRETE WATERPROOF LAYER, AND TESTING MACHINE USING SAME例文帳に追加
コンクリート防水層の試験方法およびこの方法で使用する試験装置 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING COMPRESSED DIGITAL BROADCAST VIDEO DURING OPERATION例文帳に追加
圧縮されたディジタル放送ビデオを稼働中にテストするシステム及び方法 - 特許庁
PULSE CHARACTERISTIC DETECTION CIRCUIT BASED ON THRESHOLD, AND ITS MEASUREMENT/EVALUATION TESTING METHOD例文帳に追加
閾値に基づくパルス特性検出回路及びその測定評価試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE OF EXISTENCE OF CABLE DISCONNECTION AND TEST METHOD OF EXISTENCE OF CABLE DISCONNECTION例文帳に追加
ケーブル断線の有無試験装置およびケーブル断線の有無試験方法 - 特許庁
BIOMEDICAL ELECTRODE UNIT PACKAGE AND METHOD FOR JUDGING AND TESTING QUALITY THEREOF例文帳に追加
生体用電極ユニット包装体およびその良否判定検査方法 - 特許庁
To provide an array testing device, a method of measuring substrate one location position of the array testing device, and a method of measuring specific position coordinate imaged by a camera assembly.例文帳に追加
本発明は、アレイテスト装置と、アレイテスト装置の基板一地点位置測定方法と、カメラアセンブリーに撮像された特定位置座標測定方法を提供する。 - 特許庁
IMPACT LOAD RESPONSE EVALUATION METHOD AND IMPACT TESTING APPARATUS FOR TRACK PAD例文帳に追加
軌道パッドの衝撃荷重応答評価方法及びその衝撃試験装置 - 特許庁
METHOD FOR CONVERTING PHOSPHOLIPID INTO SOLID PHASE AND BASE MATERIAL FOR TESTING CONVERSION OF PHOSPHOLIPID INTO SOLID PHASE例文帳に追加
リン脂質固相化方法及びリン脂質固相化検査用基材 - 特許庁
MACHINE AND METHOD FOR TESTING BENDING RESISTANCE OF WAVEGUIDE例文帳に追加
導波路の耐屈曲性試験機、及び導波路の耐屈曲性試験方法 - 特許庁
CONNECTION TESTING METHOD IN REPLACING RAILWAY ELECTRONIC INTERLOCKING DEVICE, AND LIGHT SWITCH例文帳に追加
鉄道用電子連動装置取替時の接続試験方法および光スイッチ - 特許庁
To provide a scan testing method of a semiconductor integrated circuit of advanced integration, and the semi-conductor integrated circuit to be tested by the scan testing method.例文帳に追加
集積化の進んだ半導体集積回路に対するスキャンテスト方法、及び該スキャンテスト方法によりテストされる半導体集積回路を求める。 - 特許庁
HEAT-CYCLE CREEP FATIGUE TEST PIECE AS WELL AS APPARATUS AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
熱サイクルクリープ疲労の試験片、その試験装置、及び、その試験方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING MASTER LOGIC UNIT IN DATA PROCESSOR例文帳に追加
デ—タ処理装置内のマスタ—論理ユニットを試験するための装置および方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SHORT CIRCUIT OF CONNECTING END IN SEMICONDUCTOR ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
半導体電子デバイスの接続端の短絡検査方法及びその装置 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING STEAM SYSTEM OF BOILING WATER REACTOR例文帳に追加
沸騰水型原子炉の蒸気系統を試験するためのシステムおよび方法 - 特許庁
BUSINESS PROCESS TEST DESIGN SUPPORT DEVICE, BUSINESS PROCESS TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
ビジネスプロセステスト設計支援装置、ビジネスプロセス試験方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁
TEST PATTERN GENERATOR, TEST CIRCUIT TESTER, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST CIRCUIT TESTING METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST CIRCUIT TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
試験パターン生成装置、テスト回路試験装置、試験パターン生成方法、テスト回路試験方法、試験パターン生成プログラム、テスト回路試験プログラム、および記録媒体 - 特許庁
RELAY NODE DEVICE, TELEPHONE SYSTEM AND CONNECTIVITY TESTING METHOD USED THEREFOR例文帳に追加
中継ノード装置、電話システム及びそれらに用いる接続性試験方法 - 特許庁
ERROR PROCESS TEST SYSTEM OF SOFTWARE, TESTING METHOD, AND RECORDING MEDIUM FOR TEST PROGRAM例文帳に追加
ソフトウェアのエラー処理テストシステム、テスト方法及びテストプログラムの記録媒体 - 特許庁
ALIGNMENT METHOD OF TESTING PIN FOR ELECTROSTATIC BREAKDOWN TESTER OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
電子デバイスの静電破壊試験装置の試験用ピンの位置合わせ方法 - 特許庁
GAS COMPRESSOR, INTAKE PORT COVER, AND AIRTIGHTNESS TESTING METHOD FOR GAS COMPRESSOR例文帳に追加
気体圧縮機、吸入ポートカバー、および気体圧縮機の気密試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING DISCHARGE OF PRETREATMENT LIQUID, TEST LIQUID APPLICATOR AND TEST SHEET例文帳に追加
前処理液の吐出検査方法並びに検査液塗布具及び検査シート - 特許庁
FUSE-CUT TEST CIRCUIT AND FUSE-CUT TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加
ヒューズ切断テスト回路及びヒューズ切断テスト方法並びに半導体回路 - 特許庁
To provide a method of testing a radio frequency integrated circuit (RFIC).例文帳に追加
無線周波数集積回路(RFIC)を試験する方法を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR TESTING RELIABILITY IN SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING ELEMENT FOR EXTERNAL RESONATOR-TYPE LASER例文帳に追加
外部共振器型レーザ用半導体発光素子の信頼性試験方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR SIMULTANEOUSLY TESTING SEMICONCUDOTR DEVICE OR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体デバイスまたは半導体ウェハ一括のテスト装置及びテスト方法 - 特許庁
METHOD AND CIRCUIT FOR TESTING STABILIZED POWER SOURCE IN INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路中の安定化電源を試験するための方法および回路 - 特許庁
DIGITAL MODULATOR, DIGITAL MODULATING METHOD, DIGITAL TRANSCEIVER SYSTEM, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加
デジタル変調器、デジタル変調方法、デジタル送受信システム、及び試験装置 - 特許庁
TESTING STRUCTURE FOR INTERCONNECTION DEFECTS DETECTION AND INTERCONNECTION DEFECTS DETECTION METHOD例文帳に追加
配線不良検出用試験構造体及び配線不良検出方法 - 特許庁
FATIGUE TESTING DEVICE AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の疲労試験装置および半導体装置の疲労試験方法 - 特許庁
To provide a method for quickly testing the integrity of a porous material.例文帳に追加
迅速な多孔性材料の完全性試験の方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method and system for testing a prototype.例文帳に追加
プロトタイプの試験を行うための方法及びシステムを提供することである。 - 特許庁
TESTING METHOD AND DEVICE FOR STRUCTURE FOR PASSING SUPERSONIC WORKING FLUID例文帳に追加
超音速作動流体が通過する構造体の試験方法および装置 - 特許庁
EVALUATION METHOD OF THERMAL PERFORMANCE TESTING OF CLOTH-LIKE FIBER MATERIAL AND TESTER例文帳に追加
布状繊維材料の熱特性試験評価方法および試験装置 - 特許庁
CALIBRATION METHOD OF MULTIPLE COMPONENT FORCE DETECTOR INSTALLED ON ROLLING RESISTANCE TESTING DEVICE例文帳に追加
転がり抵抗試験機に備えられた多分力検出器の校正方法 - 特許庁
MOUNT FOR ROTATING EQUIPMENT VIBRATION TEST, AND VIBRATION TESTING METHOD OF ROTATING EQUIPMENT例文帳に追加
回転機器振動試験用マウント及び回転機器の振動試験方法 - 特許庁
To provide a system and a method of testing humidity in a sealed MEMS device.例文帳に追加
封止されたMEMSデバイス内の湿度を検査するシステム及び方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING TRANSLATION RECEIVING SUBSCRIBER NUMBER IN EACH PROVIDER例文帳に追加
事業者毎翻訳着信加入番号の試験方式及びその方法 - 特許庁
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