「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(57ページ目) - Weblio英語例文検索

THIN FILM TEST PIECE STRUCTURE, ITS MANUFACTURING METHOD, ITS TENSILE TEST METHOD, AND TENSILE TESTING DEVICE例文帳に追加

薄膜試験片構造体、その製造方法、その引張試験方法及び引張試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テストパターン発生方法、テストパターン発生装置及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

CALIBRATION DEVICE, TESTING DEVICE, CALIBRATION METHOD, BAND MEASURING DEVICE, AND BAND MEASURING METHOD例文帳に追加

キャリブレーション装置、試験装置、キャリブレーション方法、帯域測定装置、及び帯域測定方法 - 特許庁

LSI, TEST PATTERN CREATING METHOD FOR TESTING SCAN PATH, LSI INSPECTION METHOD AND MULTICHIP MODULE例文帳に追加

ＬＳＩ、スキャンパステスト用テストパターン生成方法、ＬＳＩ検査方法およびマルチチップモジュール - 特許庁

TEST SOCKET, METHOD OF MANUFACTURING IT, METHOD OF TESTING BY USING IT, AND TESTED MEMBER例文帳に追加

テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁

IMPACT TEST METHOD, IMPACT TESTING DEVICE AND RELIABILITY EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

衝撃試験方法、衝撃試験装置および半導体装置の信頼性評価方法 - 特許庁

METHOD FOR QUANTIFYING SUBSTANCE IN SOLUTION AND ALKALI/SILICA REACTIVITY TESTING METHOD OF AGGREGATE例文帳に追加

溶液中の物質の定量方法及び骨材のアルカリシリカ反応性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS BURN-IN TESTING METHOD, ITS MANUFACTURING METHOD, BURN-IN TEST CONTROL CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置及びそのバーンインテスト方法、製造方法並びにバーンインテスト制御回路 - 特許庁

WOUND MORBID STATE TESTING METHOD AND METHOD OF CONFIRMING CURING EFFECT OF WOUND REMEDY例文帳に追加

創傷の病態の検査方法および創傷治療剤の治療効果の確認方法 - 特許庁

CUTTING PROPERTY EVALUATION METHOD, LIFETIME EVALUATION METHOD OF ROTARY BLADE, AND CUTTING PROPERTY TESTING MACHINE例文帳に追加

切断性評価方法及び回転刃の寿命評価方法並びに切断性試験機 - 特許庁

SPECIMEN SIMULATING REDUCTION IN THICKNESS OF PIPE INTERIOR, MANUFACTURING METHOD OF TEST SPECIMEN AND TESTING METHOD例文帳に追加

減肉の発生した配管を模した試験体、試験体の作成方法、試験方法 - 特許庁

TESTING SOCKET, MANUFACTURING METHOD OF CONTACT TERMINAL, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

テスト用ソケット、接触端子の製造方法、並びに、半導体装置およびその製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH PROCESS MONITOR CIRCUIT, AND TESTING METHOD AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

プロセスモニタ回路を備えた半導体装置、その試験方法、並びにその製造方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR, AND SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法、半導体製造方法、ならびに半導体メモリ - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TESTING METHOD AND ADJUSTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路およびその検査方法、半導体集積回路の調整方法 - 特許庁

SCALP TESTING METHOD USING MATRIX METALLOPROTEASE 11 AS INDEX AND HAIR RESTORER SCREENING METHOD例文帳に追加

マトリックスメタロプロテアーゼ１１を指標とした頭皮検査方法及び育毛剤のスクリーニング方法 - 特許庁

DISEASE MARKER, DNA MICRO-ARRAY, METHOD FOR SCREENING DRUG AND METHOD FOR TESTING UVEITIS例文帳に追加

疾患マーカー、ＤＮＡマイクロアレイ、薬剤スクリーニング方法及びぶどう膜炎検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR SYSTEM, METHOD OF TESTING CONNECTION OF SEMICONDUCTOR SYSTEM, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR SYSTEM例文帳に追加

半導体システム、半導体システムの接続テスト方法及び半導体システムの製造方法 - 特許庁

ELECTRODE NEEDLE, PROBE CARD, PROBE DEVICE, PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電極針、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR DETERMINING OIL SEPARABILITY OF LUBRICATING GREASE, AND TESTING DEVICE FOR EXECUTING METHOD例文帳に追加

潤滑グリースの油分離性を求める試験方法及びこれを実施する試験装置 - 特許庁

ACCELERATED DRYING METHOD FOR HYDRAULIC MATERIAL AND LENGTH CHANGE TESTING METHOD FOR HYDRAULIC MATERIAL例文帳に追加

水硬性材料の促進乾燥方法および水硬性材料の長さ変化試験方法 - 特許庁

METHOD FOR RAISING INSECT, FEED FOR THE INSECT, METHOD FOR PRODUCING PROTEIN, AND METHOD FOR TESTING THE INSECT例文帳に追加

昆虫の飼育方法、昆虫用飼料及びたんぱく質の製造方法、昆虫の実験方法 - 特許庁

TEMPERATURE MEASURING METHOD, TESTING METHOD USING THE SAME, SEMICONDUCTOR TESTER AND SEMICONDUCTOR CHARACTERISTICS ESTIMATING METHOD例文帳に追加

温度測定方法およびそれを用いた試験方法ならびに半導体試験装置と特性予測方法 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING PATTERN FRAME, METHOD FOR COLLATING TEST PATTERN, METHOD FOR TESTING JITTER, COMMUNICATION DEVICE, AND COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

パターンフレーム生成方法およびテストパターン照合方法、並びにジッタテスト方法、通信装置、通信システム - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY TESTING CIRCUIT, LIQUID CRYSTAL DISPLAY BUILT IN WITH THE SAME, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY TESTING METHOD例文帳に追加

液晶表示装置試験回路およびこれを組み込んだ液晶表示装置、並びに液晶表示装置の試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, TEST PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM RECORDED WITH TEST PROGRAM例文帳に追加

試験システム及び試験方法及び試験プログラム及び試験プログラムを記録した計算機で読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR DETERMINING LENGTH, SHRINKAGE AMOUNT AND CRIMP PROPERTY OF ARTIFICIAL FIBER, AND METHOD FOR USING TESTING APPARATUS例文帳に追加

人造繊維の長さ、収縮量及び捲縮特性を決定するための試験装置並びに試験装置の使用方法 - 特許庁

LEAKAGE TESTING METHOD AND DEVICE USING SEALED STRUCTURE, AND SEALED STRUCTURE OF LEAKAGE TESTING DEVICE例文帳に追加

密閉構造体を用いた漏洩試験方法および漏洩試験装置ならびに漏洩試験装置用密閉構造体 - 特許庁

To provide a test apparatus which performs testing with a read/write head, and also provide a testing method using the test apparatus.例文帳に追加

読取り／書込みヘッドを用いてテストを行うための試験装置及び試験装置でテストする方法を開示する。 - 特許庁

To provide a control circuit for a contact opening and closing device, and a semiconductor chip testing system and a semiconductor chip testing method using the control circuit.例文帳に追加

接点開閉装置の制御回路及びこれを用いた半導体チップテストシステム並びにテスト方法を提供する。 - 特許庁

SOCKET DISCRETE TYPE APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR AND CIRCULATORY TYPE APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

ソケット分離型半導体試験装置、ソケット分離型半導体試験方法、循環型半導体試験装置、および循環型半導体試験方法 - 特許庁

METHOD OF DETECTING CHANGE POINT OF SIGNAL OUTPUTTED BY SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TIME MEASURING DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスが出力する信号の変化点検出方法、半導体デバイス試験方法、半導体デバイス試験装置、時間測定装置 - 特許庁

CIRCUIT FOR GENERATING PULSE, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パルス発生回路およびパルス発生回路を用いた半導体試験装置、および半導体試験方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD OF EVALUATING AND TESTING POLARITY INVERTING ABILITY OF DC POWER EQUIPMENT例文帳に追加

直流用電力機器の極性反転性能評価試験方法 - 特許庁

PREPARING METHOD OF SPECIMEN FOR MIXTURE APPROPRIATENESS TESTING AND KIT USED THEREFOR例文帳に追加

配合適性試験用試料の調製方法及びそれに用いるキット - 特許庁

COMMUNICATION SYSTEM, COMMUNICATION DEVICE, AND NORMALITY TESTING METHOD USED FOR THEM例文帳に追加

通信システム、通信装置及びそれらに用いる正常性試験方法 - 特許庁

SKEW-ADJUSTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE AND SKEW-ADJUSTING DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス試験装置のスキュー調整方法・スキュー調整装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD OF TESTING HUMIDITY IN SEALED MEMS DEVICE例文帳に追加

封止されたＭＥＭＳデバイス内の湿度を検査するシステム及び方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING HYDROPHILIZATION TIME OF COATING FILM SURFACE, AND DETERIORATION TESTING APPARATUS例文帳に追加

塗膜表面の親水化時間評価方法および劣化試験装置 - 特許庁

MATERIAL TESTING APPARATUS AND LOAD GENERATION METHOD THEREIN例文帳に追加

材料試験装置における負荷発生方法および材料試験装置 - 特許庁

X-RAY INTERFERENCE MICROSCOPE AND METHOD FOR TESTING X-RAY REFLECTING MIRROR例文帳に追加

Ｘ線干渉顕微鏡およびＸ線反射鏡の検査方法 - 特許庁

HYDRAULIC TESTING DEVICE FOR PIPE JOINT SECTION AND HYDRAULIC TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

管継手部の水圧試験装置とこれを用いた水圧試験方法 - 特許庁

POWER CONVERTER AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

電力変換装置及びこの電力変換装置を用いた試験方法 - 特許庁

EXTERNAL WALL FOULING ACCELERATED TEST METHOD AND EXTERNAL WALL FOULING ACCELERATED TESTING DEVICE例文帳に追加

外壁汚れ促進試験方法及び外壁汚れ促進試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM例文帳に追加

集積回路のテスト方法、集積回路および集積回路テストシステム - 特許庁