「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(55ページ目) - Weblio英語例文検索

RADIO BASE STATION DEVICE, CONNECTION TESTING METHOD, AND RADIO BASE STATION SYSTEM例文帳に追加

無線基地局装置、及び、接続試験方法、無線基地局システム - 特許庁

CALL CENTER SYSTEM, COMMUNICATION TERMINAL, COMMUNICATION TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

コールセンタシステム、通信端末、通信試験方法、およびコンピュータプログラム - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING BRAKE PRESSING FORCE AND BRAKE TORQUE FOR BRAKE TESTING例文帳に追加

ブレーキ試験におけるブレーキ押付け力とブレーキトルクの制御方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, WAVEFORM DISPLAY METHOD, AND WAVEFORM DISPLAY PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、波形表示方法および波形表示プログラム - 特許庁

TESTING LINE OF MOTHERBOARD IN THIN FILM TRANSISTOR, AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

薄膜トランジスターにおけるマザーボードのテストラインおよびその製造方法 - 特許庁

METHOD OF SYNTHESIS AND TESTING OF COMBINATORIAL LIBRARY USING MICROCAPSULE例文帳に追加

マイクロカプセルを用いたコンビナトリアルライブラリの合成および試験の方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置およびその試験方法、および半導体集積回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路および半導体集積回路の検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路、および半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

CORROSION RESISTANCE TESTING METHOD AND EQUIPMENT FOR METALLIC MATERIAL例文帳に追加

金属材料の耐食性試験方法及び耐食性試験装置 - 特許庁

DISPLAY DEVICE DRIVING, DISPLAY AND DRIVER CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

ディスプレイ装置駆動デバイス、ディスプレイ装置及びドライバ回路テスト方法 - 特許庁

CHART, SYSTEM AND METHOD FOR TESTING RESOLUTION例文帳に追加

解像度検査用チャート、解像度検査装置及び解像度検査方法 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING BLADDER CANCER AND CONTROL METHOD OF THE DEVICE例文帳に追加

膀胱癌検査装置および膀胱癌検査装置の制御方法 - 特許庁

PROJECT FILE, METHOD OF TESTING THE SAME, CONTROL SYSTEM, AND CONTROL DISPLAY例文帳に追加

プロジェクトファイル、そのテスト方法、制御システムおよび制御用表示器 - 特許庁

UNINTERRUPTIBLE POWER SUPPLY EQUIPMENT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

無停電電源設備および前記無停電電源設備の試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING AIR LEAK IN PNEUMATIC TIRE,例文帳に追加

空気入りタイヤの空気漏れ試験装置及び空気漏れ試験方法 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing large-area substrates.例文帳に追加

大面積基板を検査するための装置及び方法を記載する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING INSULATION MONITORING DEVICE例文帳に追加

絶縁監視装置の試験装置及び絶縁監視装置の試験方法 - 特許庁

SCANNING ELEMENT, SYMBOLIC DEVICE, AND METHOD FOR TESTING QUALITY OF COMBINED CIRCUIT例文帳に追加

スキャン素子、論理装置および、組み合せ回路の良否テスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING CHARGE/DISCHARGE OF BATTERY例文帳に追加

電池の充放電試験装置および電池の充放電試験方法 - 特許庁

To provide a method and a device for testing an examined device.例文帳に追加

被試験デバイスを試験するための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF TESTING HYDRAULIC PRESSURE FOR PIPE WITH SMALL OR MEDIUM-SIZED BORE例文帳に追加

中小口径管用水圧試験方法及びその試験器 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR, AND DEVICE AND METHOD FOR AUTOMATICALLY TESTING DIMENSION例文帳に追加

画像処理装置、自動寸法検査装置、自動寸法検査方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING RAM REDUNDANT INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

ＲＡＭ冗長集積回路をテストするための方法およびシステム - 特許庁

ATTACHING/REMOVING DEVICE, TEST HEAD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND ATTACHING/REMOVING METHOD例文帳に追加

着脱装置、テストヘッド、半導体試験装置及び着脱方法 - 特許庁

METHOD AND CIRCUIT FOR TESTING MEMORY CELL IN MULTIVALUE STORAGE DEVICE例文帳に追加

多値記憶装置内のメモリセルをテストするための方法および回路 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MANY DEVICES UNDER TEST IN PARALLEL例文帳に追加

多数の被試験素子を並列に検査するテストシステム及びテスト方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SECURITY HOLE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

セキュリティホール検査システム、セキュリティホール検査方法および記録媒体 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING OVERSPEED PROTECTION SYSTEM OF TURBOMACHINE例文帳に追加

ターボ機械の過速度防止システムを試験するための方法及びシステム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING PERFORMANCE OF GAS DETECTOR例文帳に追加

ガス検知器性能試験装置およびガス検知器の性能試験方法 - 特許庁

BASE STATION SIMULATOR AND TRANSMISSION POWER CONTROL PERFORMANCE TESTING METHOD例文帳に追加

基地局シミュレータ装置及び送信電力制御性能試験方法 - 特許庁

FLIP-CHIP SEMICONDUCTOR PACKAGE FOR TESTING BUMPS AND METHOD OF FABRICATING SAME例文帳に追加

バンプテストのためのフリップチップ半導体パッケージ及びその製造方法 - 特許庁

FILTER MODULE FOR LOW TEMPERATURE LIQUID AND METHOD FOR TESTING INTEGRITY OF THE SAME例文帳に追加

低温液体用フィルターモジュールおよびその完全性試験方法 - 特許庁

ATM EXCHANGE AND METHOD FOR TESTING LINE DEVICE FOR THE ATM EXCHANGE例文帳に追加

ＡＴＭ交換機及びそれにおける回線装置の試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING AND EVALUATING ELECTRONIC PART例文帳に追加

電子部品の試験評価方法、及び電子部品の試験評価装置 - 特許庁

PLUG, COMMUNICATION TRANSMISSION/RECEPTION TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

プラグ、通信発着信試験装置および通信発着信試験方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD, SWITCH DEVICE, TRANSMISSION CHANNEL SWITCHING DEVICE, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

製造方法、スイッチ装置、伝送路切り替え装置、および試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ADHESIVENESS OF SURFACE OF TIRE LINER例文帳に追加

タイヤライナの表面の接着能力を試験する装置および方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING BOND STRENGTH OF BONDING WIRE例文帳に追加

ボンディングワイヤの接合強度試験装置及び接合強度試験法 - 特許庁

QUALITY DECISION TESTING DEVICE AND METHOD OF COATING STATE OF SEALING AGENT例文帳に追加

封口剤の塗布状態の良否判定検査装置および方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING RADIO FREQUENCY INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

無線周波数集積回路を試験するためのシステムおよび方法 - 特許庁

NETWORK TESTING METHOD AND SYSTEM AND ITS PROGRAM AND RECORD MEDIUM例文帳に追加

ネットワーク試験方法およびシステム、ならびにそのプログラムと記録媒体 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR ELECTROSTATIC DISCHARGE TESTING OF DEVICE CHARGED MODEL例文帳に追加

デバイス帯電モデルの静電気放電試験のためのシステム及び方法 - 特許庁

MOTOR FUNCTION TESTING APPARATUS AND METHOD FOR COMPARING PHASES BETWEEN MOTOR WAVEFORMS例文帳に追加

運動機能検査装置および運動波形間の位相比較方法 - 特許庁