「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(53ページ目) - Weblio英語例文検索

OPERATIONAL TESTING SYSTEM AND DATA TRANSFER METHOD USED THEREIN例文帳に追加

運用試験用システムおよびこれに利用するデータ転送方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR THE SAME AND INTEGRATED-CIRCUIT COMPONENT例文帳に追加

集積回路、集積回路の試験方法、集積回路部品 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板を試験する方法およびこの方法を実施する装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR NONDESTRUCTIVE INSULATION TESTING OF SMALL-SIZED ELECTRIC MACHINE例文帳に追加

小型電気機械の非破壊絶縁試験方法および装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MEMORY USING DMA例文帳に追加

ＤＭＡを使用してメモリをテストするためのシステムおよび方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SECONDARY BATTERY CAPACITY例文帳に追加

二次電池容量試験システム及び二次電池容量試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING MAGNETIC TRANSFER SIGNAL例文帳に追加

磁気転写信号試験方法および装置ならびに磁気媒体 - 特許庁

METHOD FOR TESTING DEVELOPER CHARACTERISTIC, LIQUID DEVELOPER AND WET PROCESS IMAGE FORMING METHOD例文帳に追加

現像剤特性試験方法、液体現像剤、及び、湿式画像形成方法 - 特許庁

ACCELERATED TESTING METHOD OF STAIN OF COATING FILM AND EVALUATION METHOD OF ANTI-STAINING PROPERTIES OF COATING FILM例文帳に追加

塗膜の汚れ促進試験方法及び塗膜の耐汚れ性評価方法 - 特許庁

METHOD OF KEEPING PRECISION FOR TIRE TESTING MACHINE, AND METHOD OF MEASURING PRODUCT PERFORMANCE OF TIRE例文帳に追加

タイヤ用試験機の精度維持方法及びタイヤの製品性能測定方法 - 特許庁

METHOD AND SUBSTRATE FOR TESTING SEMICONDUCTOR ELEMENT AND METHOD FOR MANUFACTURING TEST SUBSTRATE例文帳に追加

半導体素子のテスト方法、そのテスト基板及びそのテスト基板の製造方法 - 特許庁

TEST STATE EVALUATING METHOD, TESTING MACHINE, AND TEST CONDITION EVALUATING METHOD例文帳に追加

試験状態の評価方法及び試験機及び試験条件の評価方法。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING OF BASE ISOLATION DEVICE, BASE ISOLATION DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING OF BASE ISOLATION DEVICE例文帳に追加

免震装置の試験方法、免震装置、及び免震装置の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MULTILAYER CERAMIC CAPACITOR AND METHOD FOR MANUFACTURING THE MULTILAYER CERAMIC CAPACITOR例文帳に追加

積層セラミックコンデンサの試験方法および積層セラミックコンデンサの製造方法 - 特許庁

MICROCHIP AND LIQUID MIXING METHOD AND BLOOD TESTING METHOD USING MICROCHIP例文帳に追加

マイクロチップ、このマイクロチップを用いた液体の混合方法及び血液検査方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PROLIFERATION AND ACTIVITY OF MICROORGANISM AND METHOD FOR TESTING SUSCEPTIBILITY例文帳に追加

微生物の増殖および活性の測定方法及び感受性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, PROBE CARD, PROBE DEVICE AND PROBE TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置及びその製造方法、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法 - 特許庁

To provide an information processing apparatus capable of efficiently conducting a testing process for a plurality of testing environments, a software operation testing system, a software operation testing method, a software operation testing program, and a recording medium with the program recorded therein.例文帳に追加

複数のテスト環境に対して効率よくテスト工程を実施することが可能な情報処理装置、ソフトウェア動作テストシステム、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a method for simply and promptly testing skin sensitivity of a testing substance with a small amount of the testing substance without making a complicated animal experiment.例文帳に追加

被験物質の皮膚感作性を、煩雑な動物実験を行うことなく、少量の被験物質で、簡便かつ迅速に検定する方法を提供すること。 - 特許庁

To control uneven heating in a semiconductor testing device, a contactor unit for the semiconductor testing device and a method for testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験装置用コンタクタユニット、及び半導体装置の試験方法において、半導体装置の加熱むらを抑制すること。 - 特許庁

To provide an acceleration testing method and an acceleration testing device, by which deterioration caused by a manufacturing step such as A1 wiring corrosion or the like, can be accelerated for testing with reproducibility.例文帳に追加

加速試験方法及び加速試験装置に関し、Ａｌ配線コロージョン等の製造工程に起因する劣化を再現性良く加速試験する。 - 特許庁

HEADLESS TESTING AND MEASURING DEVICE, NETWORK TESTING AND MEASURING SYSTEM, DISTRIBUTED NETWORK ANALYSIS SYSTEM, AND METHOD FOR CONTROLLING HEADLESS TESTING AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

ヘッドレス試験及び計測装置、ネットワーク試験及び計測システム、分散ネットワーク解析システム、および、ヘッドレス試験及び計測装置を制御する方法 - 特許庁

To provide a performance testing method capable of obtaining testing data with high reproducibility and reliability in a performance testing of a sludge incinerator.例文帳に追加

汚泥焼却炉の性能試験において、再現性及び信頼性の高い試験データを取得することが可能な性能試験方法を提供する。 - 特許庁

PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE APPARATUS, PROBE TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide an automatic load testing device and method for efficiently testing a load.例文帳に追加

負荷試験作業を効率的に行える自動負荷試験装置および自動負荷試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor laser in which accurate data transmission characteristics can be evaluated, and a laser testing device.例文帳に追加

正確なデータ伝送特性の評価を可能とするレーザの試験方法およびレーザ試験装置を提供する。 - 特許庁

SELF-TESTING SYSTEM, SELF-TESTING REACTOR PROTECTION SYSTEM AND METHOD FOR STARTING SAFE OPERATION IN RESPONSE TO MONITORING OF PARAMETER例文帳に追加

パラメータの監視に応動して安全動作を開始するための自己試験系、自己試験原子炉保護系及び方法 - 特許庁

RELIABILITY TESTING METHOD FOR PART-PACKAGED PRINTED WIRING BOARD AND RELIABILITY TESTING DEVICE FOR PART- PACKAGED PRINTED WIRING BOARD例文帳に追加

部品実装プリント配線板の信頼性試験方法、及び、部品実装プリント配線板の信頼性試験装置 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a testing method for diagnosing a plurality of input/output pins by one-time diagnosis.例文帳に追加

複数の入出力ピンを一度の診断で診断するための試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

ATM TESTING DEVICE, ATM TESTING METHOD USED FOR THE SAME AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

ＡＴＭ試験装置及びそれに用いるＡＴＭ試験方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a crack testing method for pneumatic tires capable of suppressing an increase in a testing time by promoting ozone depletion.例文帳に追加

オゾン劣化を促進させて試験時間の増加を抑えうる空気入りタイヤのクラック試験方法を提供する。 - 特許庁

TESTING DEVICE OF ATTRACTION-INHIBITING ACTIVITY OF FLYING PEST INSECT, AND METHOD FOR TESTING ATTRACTION-INHIBITING ACTIVITY OF FLYING PEST INSECT例文帳に追加

飛翔害虫の誘引阻害活性試験装置、並びに、飛翔害虫の誘引阻害活性試験方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING IMPACT ABSORPTION ENERGY USING DROPPING WEIGHT TYPE IMPACT TESTING MACHINE, AND DROPPING WEIGHT TYPE IMPACT TESTING MACHINE例文帳に追加

落錘式衝撃試験機を用いた衝撃吸収エネルギーの測定方法および落錘式衝撃試験機 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a method therefor which can achieve a reduction in testing time.例文帳に追加

試験時間の短縮を図ることのできる半導体集積回路試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method for easily and safely evaluating the load bearing insulation characteristics of a film.例文帳に追加

フィルムの耐荷重絶縁特性を簡易かつ安全に評価し得る試験装置、並びに試験方法を提供する。 - 特許庁

HOSE PRESSURE RESISTANCE TESTING METHOD, HOSE PRESSURE RESISTANCE TESTING APPARATUS, AND HIGH-PRESSURE AUTOMATIC SELECTOR VALVE USED FOR THE SAME例文帳に追加

ホース耐圧試験方法，ホース耐圧試験装置及びホース耐圧試験装置に用いる高圧自動切替え弁 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a test substrate, a testing system of the semiconductor device, and to provide a testing method of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置、テスト基板、半導体装置のテストシステム及び半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing an environment which prevents condensation on a circuit board in a testing chamber.例文帳に追加

試験室内の回路基板への結露を防止する環境試験装置及び環境試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a collision testing apparatus capable of easily reproducing a collision, and a collision testing method.例文帳に追加

衝突の再現を容易に行うことができる衝突試験装置及び衝突試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an IC testing apparatus for shortening its test time and to provide a method of controlling the IC testing apparatus.例文帳に追加

ＩＣ試験装置の試験時間を短縮するＩＣ試験装置およびその制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing apparatus for accurately evaluating damage generated in ironing.例文帳に追加

しごき加工時に発生する損傷を的確に評価することが可能な試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

CAM CABABLE OF TESTING PRESENCE OF DEFECT OF PRIORITY ENCODER, AND METHOD OF TESTING PRESENCE OF DEFECT OF PRIORITY ENCODER例文帳に追加

優先順位エンコーダの欠陥有無テストが可能なＣＡＭ及び優先順位エンコーダの欠陥有無テスト方法 - 特許庁

SVC CONNECTION CONTROL TESTING METHOD, STORAGE MEDIUM STORING SVC CONNECTION CONTROL TESTING PROGRAM AND NODE DEVICE例文帳に追加

ＳＶＣコネクション制御試験方法、ＳＶＣコネクション制御試験プログラムを記録した記憶媒体およびノード装置 - 特許庁

WIRE TESTING STRUCTURE (WIRE TESTING STRUCTURE DETERMINING OPEN CIRCUIT AND SHORT-CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR DEVICE) AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

配線試験構造および方法（半導体デバイス中の開路および短絡を決定する配線試験構造） - 特許庁