「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(49ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR TESTING PHOTOTOXICITY WITH HUMAN RETINAL PIGMENT EPITHELIAL CELL例文帳に追加

ヒト網膜色素上皮細胞を用いた光毒性試験法 - 特許庁

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM, AND PROBE CONTACT METHOD例文帳に追加

プローブカード、半導体試験システム及びプローブの接触方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD THEREOF AND SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体装置およびその検査方法および半導体チップ - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING AND TESTING FLOWABILITY OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの流動性評価試験方法及びその装置 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験回路およびその試験方法 - 特許庁

FIBER MIXING RATIO TESTING METHOD OF ORGANIC FIBER MIXED CONCRETE例文帳に追加

有機繊維混入コンクリートの繊維混入率試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路、そのテスト回路、及びテスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS MAINTENANCE METHOD例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置及びその管理方法 - 特許庁

SELF-TESTING APPARATUS AND METHOD FOR RECONFIGURABLE DEVICE LOADING BOARD例文帳に追加

リコンフィグラブルデバイス搭載ボードのセルフテスト装置および方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING MATERIAL STRENGTH AND MATERIAL STRENGTH TESTING APPARATUS例文帳に追加

材料強度評価方法、及び材料強度試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING PASSWORD DEVICE例文帳に追加

暗号装置の試験装置および暗号装置の試験方法 - 特許庁

ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE AND METHOD AND DEVICE FOR TESTING IT例文帳に追加

電子回路装置およびそのテスト方法、並びにテスト装置 - 特許庁

RADIATION DETECTOR AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

放射線検出器および放射線検出器の試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ABRASION TESTING FOR COVERED ELECTRIC WIRE例文帳に追加

被覆電線の摩耗試験方法および摩耗試験装置 - 特許庁

COMPOSITION FOR TESTING NERVAL DISORDER, KIT AND METHOD例文帳に追加

神経障害の検定のための組成物、キットおよび方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR COMPONENT TESTING例文帳に追加

半導体部品検査方法および半導体部品検査装置 - 特許庁

GAS-TANK-TYPE THERMAL SHOCK-TESTING DEVICE AND ITS OPERATION METHOD例文帳に追加

気槽式熱衝撃試験装置及びその運転方法 - 特許庁

PROGRAM TO BE TESTED RESOURCES COMPETITION TESTING METHOD AND COMPETITION PROGRAM例文帳に追加

被テストプログラム資源競合テスト方法及び競合プログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SURFACE FLAW IN MAGNETIC DISK MEDIUM例文帳に追加

磁気ディスク媒体の表面欠陥試験方法および装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD OF SYSTEM RESPONSE TESTING AND MODELING例文帳に追加

システム応答のテスト及びモデリングのためのシステム及び方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING HEAT CHARACTERISTICS OF TEMPERATURE REGULATING MATERIAL例文帳に追加

温度調節材料の熱特性試験方法および装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING AND TESTING SATELLITE例文帳に追加

衛星の調整及び試験を行うための方法及び装置 - 特許庁

KIT AND METHOD FOR TESTING CARIOGENIC BACTERIA例文帳に追加

齲蝕原性細菌検査キット及び齲蝕原性細菌検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING PLEAT RETENTION OF WOVEN FABRIC AND KNITTED FABRIC例文帳に追加

織物及び編物のプリーツ性試験方法とその装置 - 特許庁

ADHESIVE WEAR TESTING DEVICE AND ADHESIVE WEAR TEST METHOD例文帳に追加

凝着摩耗試験装置および凝着摩耗試験方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ADHESIVE CELL COUNT AND METHOD FOR TESTING EFFECT OF DRUG USING THE SAME METHOD例文帳に追加

接着細胞数の計測方法および該方法を用いた薬剤効果試験方法 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT, METHOD OF TESTING THE SAME AND METHOD OF INITIALIZING FLIP-FLOP例文帳に追加

スキャンテスト回路とそのテスト方法、およびフリップフロップの初期設定方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING HARDWARE OF ON-VEHICLE DEVICE AND METHOD FOR WRITING SOFTWARE FOR PRODUCT例文帳に追加

車載装置のハードウエアテスト方法及び製品用ソフトウエア書き込み方法 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE, SUBSTRATE TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

基板検査装置、基板検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR ASSAYING PROLIFERATION AND ACTIVITY OF MICROORGANISM, AND METHOD FOR TESTING SENSITIVITY例文帳に追加

微生物の増殖及び活性の測定方法並びに感受性試験法 - 特許庁

VARIABLE DELAY DEVICE, SIGNAL DELAYING METHOD AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

可変遅延装置、信号遅延方法、および半導体装置の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法、及び半導体の製造方法 - 特許庁

TIMING ADJUSTING METHOD AND TIMING CALIBRATION METHOD IN SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

タイミング調整方法、半導体試験装置におけるタイミングキャリブレーション方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHIP AND MANUFACTURING METHOD FOR MULTILAYER PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

半導体チップの試験方法および多層プリント配線板の製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD, MANUFACTURING DEVICE, TESTING DEVICE, TEST METHOD, AND SUBSTRATE FOR CONNECTION例文帳に追加

製造方法、製造装置、試験装置、試験方法および接続用基板 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, TESTER FOR THE INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD PROGRAM FOR THE INTEGRATED CIRCUIT, AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED PROGRAM OF TESTING METHOD FOR THE INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路、集積回路の試験装置、集積回路の試験方法、集積回路の試験方法のプログラム及び集積回路の試験方法のプログラムを記録した記録媒体。 - 特許庁

The method for testing the moving simulation of the test model comprises a step of deciding next testing position of the test model from test data at a present position (S1).例文帳に追加

現在の位置での試験データから試験模型の次の試験位置が決定される（Ｓ１）。 - 特許庁

METHOD FOR ACCELERATED TESTING OF DEGRADATION IN ELECTROPHOTOGRAPHIC PHOTORECEPTOR AND ACCELERATED TESTING MACHINE FOR DEGRADATION IN ELECTROPHOTOGRAPHIC PHOTORECEPTOR例文帳に追加

電子写真用感光体劣化加速試験方法及び電子写真用感光体劣化加速試験機 - 特許庁

SPECIMEN FORM FOR TESTING STRENGTH OF CEMENT PRODUCT AND METHOD FOR PREPARING SPECIMEN FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

セメント製品強度試験用の供試体型枠及びセメント製品強度試験用の供試体の作製方法 - 特許庁

To provide an integrated circuit and a testing method to reduce the deterioration of an output signal for testing.例文帳に追加

試験用出力信号の劣化を低減するための集積回路及び試験方法を提供する。 - 特許庁

ANTIBODY TO BOVINE MYOGLOBIN PARTIAL PEPTIDE AND METHOD FOR TESTING USING THE ANTIBODY AND KIT FOR TESTING例文帳に追加

ウシミオグロビン部分ペプチドに対する抗体、及び当該抗体を用いた検査方法並びに検査用キット - 特許庁

To provide a peel strength testing method advantageous to ensure measuring accuracy and a peel strength testing jig used therein.例文帳に追加

測定精度を確保するのに有利な剥離強さ試験方法及び剥離強さ試験治具を提供する。 - 特許庁

DSP CARD TESTING DEVICE AND METHOD FOR MONITORING FAILURE INFORMATION IN DSP CARD TESTING DEVICE例文帳に追加

ＤＳＰカード試験装置およびＤＳＰカード試験装置における故障異常情報のモニタ方法 - 特許庁

VOICE OUTPUT METHOD IN TESTING DEVICE, TESTING DEVICE, AND RECORD MEDIUM STORING TEST CONTROL PROGRAM例文帳に追加

試験装置における音声出力方法、試験装置および試験制御プログラムが記録された記録媒体 - 特許庁

To provide a memory testing method using a universal testing program independent of the internal configuration of a memory.例文帳に追加

メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁