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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING COLUMN REDUNDANCY OF INTEGRATED CIRCUIT MEMORY例文帳に追加
集積回路メモリの冗長列試験システムおよび方法 - 特許庁
FLAT DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR TESTING FLAT DISPLAY DEVICE例文帳に追加
フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法 - 特許庁
PROBE PIN, PROBE CARD, TESTING DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE PIN例文帳に追加
プローブピン、プローブカード、試験装置、及びプローブピン製造方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD FOR PROBE PIN, PROBE PIN, PROBE CARD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
プローブピン製造方法、プローブピン、プローブカード、及び試験装置 - 特許庁
CONFIRMATION TESTING METHOD AND SYSTEM FOR THROUGHPUT例文帳に追加
スループット確認試験方法およびスループット確認試験システム - 特許庁
CREEP TEST SUBSTITUTING METHOD AND CREEP TEST SUBSTITUTING TESTING MACHINE例文帳に追加
クリープ試験代替方法およびクリープ試験代替試験機 - 特許庁
ABRASION TESTING METHOD AND MACHINE AND ABRASION EVALUATION FACILITY例文帳に追加
摩耗試験法および摩耗試験機及び摩耗評価設備 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING IMAGE DETECTION CIRCUIT ARRAY例文帳に追加
画像検出回路アレイをテストするための方法及び装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING MOTION SIMULATION OF TEST MODEL例文帳に追加
試験模型の移動シミュレーション試験方法及びその装置 - 特許庁
DATA TRANSFER TEST SYSTEM AND ITS DATA TRANSFER TESTING METHOD例文帳に追加
デ—タ転送試験システム及びそのデ—タ転送試験方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加
半導体基板試験装置および半導体基板試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR PROGRAMMING AND OPERATING AUTOMATIC TESTING EQUIPMENT例文帳に追加
自動テスト機器をプログラミングし操作する方法および装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SHEAR BOND STRENGTH OF TILE例文帳に追加
タイルのせん断接着強度試験装置および試験方法 - 特許庁
PROBE, PROBE SET, PROBE-IMMOBILIZED CARRIER AND GENETIC TESTING METHOD例文帳に追加
プローブ、プローブセット、プローブ固定担体及び遺伝子検査方法 - 特許庁
RIM REPLACEMENT DEVICE AND RIM REPLACEMENT METHOD OF TIRE TESTING DEVICE例文帳に追加
タイヤ検査装置のリム交換装置及びリム交換方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING BAR STEEL MEMBER FOR WITHDRAWING RESISTANCE例文帳に追加
棒鋼部材の引抜抵抗試験装置およびその試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING TOROIDAL TYPE CONTINUOUSLY VARIABLE TRANSMISSION例文帳に追加
トロイダル型無段変速機の試験方法及び試験装置 - 特許庁
To provide a vehicle suspension testing method of module type.例文帳に追加
モジュール方式の車両サスペンション試験法を提供する。 - 特許庁
INSULATION TESTING METHOD AND DEVICE OF OUTER RING FOR ROLLING BEARING例文帳に追加
転がり軸受用外輪の絶縁試験方法及び装置 - 特許庁
TESTING METHOD FOR BASE STATION UNIT IN MOBILE COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
移動体通信システムにおける基地局装置試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ONE PROCESS OF MULTIPROCESS SYSTEM例文帳に追加
マルチプロセスシステムにおける1プロセスのテスト方法及びシステム - 特許庁
METHOD OF DISPLAYING COMMUNICATION TEST RESULT AND COMMUNICATION TESTING DEVICE例文帳に追加
通信試験結果表示方法および通信試験装置 - 特許庁
TENSILE TESTING MACHINE FOR DRAWING AND OBSERVING, AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
延伸観察用引張試験装置および引張試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC PENETRATION TESTING MACHINE AND METHOD FOR PULLING OUT PENETRATION ROD例文帳に追加
自動貫入試験機および貫入ロッドの引き抜き方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND DEVICE OF SOLAR BEAM TRACKING POWER GENERATING SYSTEM例文帳に追加
集光追尾式発電システムの試験方法及び装置 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING OPTICAL COMPONENTS例文帳に追加
光学的構成要素を試験するためのシステムおよび方法 - 特許庁
ELECTRONIC EQUIPMENT, METHOD FOR TESTING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
電子機器の試験方法、電子機器、及び、半導体装置 - 特許庁
MEASURING/TESTING METHOD OF UNIAXIAL COMPRESSION VISCOSITY AND INSTRUMENT THEREFOR例文帳に追加
一軸圧縮粘度の測定試験方法及びその装置 - 特許庁
OUTPUT BUFFER, SYNCHRONOUS MEMORY DEVICE AND ACCESS TIME TESTING METHOD例文帳に追加
出力バッファ、同期型メモリ装置及びアクセスタイムテスト方法 - 特許庁
LEAK CURRENT TESTER AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のリーク電流検査装置および検査方法 - 特許庁
CONNECTOR PACKAGING SUBSTRATE AND METHOD OF TESTING CONNECTOR PACKAGING SUBSTRATE例文帳に追加
コネクタ実装基板およびコネクタ実装基板の検査方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING AND TESTING METAL GASKET例文帳に追加
金属ガスケットの評価試験方法および評価試験装置 - 特許庁
APPARATUS FOR TESTING POWER TRANSMISSION SYSTEM AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加
動力伝達系の試験装置およびその制御方法 - 特許庁
TESTING METHOD, AND SOCKET AND SEMICONDUCTOR USED THEREFOR例文帳に追加
テスト方法及びそれに用いるソケット及び半導体装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE DURING PROCESSING例文帳に追加
半導体製造工程におけるテスト装置およびテスト方法 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD OF TESTING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
集積回路装置および集積回路装置の試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING OPERATION OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の動作試験方法及び半導体装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTROSTATIC CHARGE例文帳に追加
静電気帯電試験装置および静電気帯電試験方法 - 特許庁
GAS REMOVAL RATE TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF CHEMICAL FILTER例文帳に追加
ケミカルフィルタのガス除去率試験方法および試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND REDUNDANCY RELIEF JUDGING METHOD例文帳に追加
半導体試験装置および冗長救済判定方法 - 特許庁
REPETITIVE DURABILITY-TESTING METHOD AND APPARATUS OF POWER MODULE例文帳に追加
パワーモジュールの繰返し耐久試験方法および試験装置 - 特許庁
EQUIPMENT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイス試験装置、及び半導体デバイス試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR CONTROL AMPLIFIER IN VVVF INVERTER AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
VVVFインバータの制御アンプ試験方法及びその装置 - 特許庁
DETERIORATION ACCELERATION TESTING DEVICE OF ELECTROCHEMICAL DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加
電気化学デバイスの劣化加速試験装置及びその方法 - 特許庁
METHOD OF INTEGRATED TEST OF SEMICONDUCTOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体統合試験方法、および半導体試験装置 - 特許庁
APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウェハの検査装置、検査方法、及び検査プログラム - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の試験システムおよびその試験方法 - 特許庁
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