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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5393件
METHOD OF EVALUATION AND TESTING HUMIDITY HEAT RESISTANCE OF OPTICAL FIBER CORE WIRE例文帳に追加
光ファイバ単心線の耐湿熱性評価試験方法 - 特許庁
TESTING MACHINE FOR OPTICAL MODULE AND ITS OPTICAL-AXIS ADJUSTING METHOD例文帳に追加
光モジュール用試験機及びその光軸調整方法 - 特許庁
SWITCHGEAR UNIT CONNECTING STRUCTURE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
開閉装置ユニット接続構造体及びその試験方法 - 特許庁
HIGH-FREQUENCY SIGNAL OUTPUT TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
高周波信号出力試験方法および半導体装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING VISCOELASTIC OBJECT例文帳に追加
粘弾性体の試験方法及び粘弾性体の試験装置 - 特許庁
WATERTIGHT TESTING DEVICE AND WATERTIGHT TEST METHOD OF GLAZING CHANNEL例文帳に追加
グレージングチャンネルの水密試験装置及び水密試験方法 - 特許庁
APPARATUS FOR TESTING GAS SEALING PERFORMANCE AND METHOD FOR EVALUATING IT例文帳に追加
ガスシール性能試験装置及びガスシール性能評価方法 - 特許庁
GAME MACHINE TESTING DEVICE, ITS INSTALLING METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
遊技機試験装置、この装置の設定方法、コンピュータプログラム - 特許庁
TERMINAL AND METHOD FOR TESTING BASE STATION, AND PROGRAM例文帳に追加
基地局試験用端末、プログラム及び基地局試験方法 - 特許庁
OUTPUT BUFFER, SYNCHRONOUS MEMORY DEVICE AND ACCESS TIME TESTING METHOD例文帳に追加
出力バッファ、同期型メモリ装置及びアクセスタイムテスト方法 - 特許庁
LEAK CURRENT TESTER AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のリーク電流検査装置および検査方法 - 特許庁
CONNECTOR PACKAGING SUBSTRATE AND METHOD OF TESTING CONNECTOR PACKAGING SUBSTRATE例文帳に追加
コネクタ実装基板およびコネクタ実装基板の検査方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING AND TESTING METAL GASKET例文帳に追加
金属ガスケットの評価試験方法および評価試験装置 - 特許庁
APPARATUS FOR TESTING POWER TRANSMISSION SYSTEM AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加
動力伝達系の試験装置およびその制御方法 - 特許庁
TESTING METHOD, AND SOCKET AND SEMICONDUCTOR USED THEREFOR例文帳に追加
テスト方法及びそれに用いるソケット及び半導体装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE DURING PROCESSING例文帳に追加
半導体製造工程におけるテスト装置およびテスト方法 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD OF TESTING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
集積回路装置および集積回路装置の試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING OPERATION OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の動作試験方法及び半導体装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTROSTATIC CHARGE例文帳に追加
静電気帯電試験装置および静電気帯電試験方法 - 特許庁
GAS REMOVAL RATE TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF CHEMICAL FILTER例文帳に追加
ケミカルフィルタのガス除去率試験方法および試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND REDUNDANCY RELIEF JUDGING METHOD例文帳に追加
半導体試験装置および冗長救済判定方法 - 特許庁
REPETITIVE DURABILITY-TESTING METHOD AND APPARATUS OF POWER MODULE例文帳に追加
パワーモジュールの繰返し耐久試験方法および試験装置 - 特許庁
The method of testing a surface with the apparatus is also provided.例文帳に追加
当該機器で表面を試験する方法も提供される。 - 特許庁
TESTING SYSTEM, METHOD, AND APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の検査システム、検査方法、及び検査装置 - 特許庁
TESTING DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AND TEST SYSTEM例文帳に追加
試験装置およびその制御方法、ならびに試験システム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子コンポーネント試験装置及び電子コンポーネントの試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING AND MEASURING SHEARING STRENGTH例文帳に追加
セン断強度の試験測定方法及び試験測定装置 - 特許庁
CIRCUIT TESTING DEVICE, CIRCUIT TEST PROGRAM, AND CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加
回路試験装置、回路試験プログラムおよび回路試験方法 - 特許庁
DURABILITY TESTING METHOD OF COATING MEMBER AND TEST DEVICE THEREFOR例文帳に追加
コーティング部材の耐久性試験方法および試験装置 - 特許庁
DETERIORATION ACCELERATION TESTING DEVICE OF ELECTROCHEMICAL DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加
電気化学デバイスの劣化加速試験装置及びその方法 - 特許庁
EQUIPMENT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイス試験装置、及び半導体デバイス試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR CONTROL AMPLIFIER IN VVVF INVERTER AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
VVVFインバータの制御アンプ試験方法及びその装置 - 特許庁
SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING VISCOSITY CHARACTERISTICS OF RESIN例文帳に追加
樹脂粘度特性試験システム、その方法、及びそのプログラム - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING NETWORK ASSIST-TYPE GPS RECEIVER例文帳に追加
ネットワークアシスト型GPS受信機の検査方法及び装置 - 特許庁
PERITONEAL FUNCTION TESTING METHOD AND PERITONEAL DIALYSIS PLANNING APPARATUS例文帳に追加
腹膜機能検査方法および腹膜透析プランニング装置 - 特許庁
PROBER AND SEMICONDUCTOR WAFER TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
プローブ装置及びそれを用いた半導体ウェハの検査方法 - 特許庁
PENETRATION TESTING MACHINE AND AUTOMATIC CALCULATION METHOD FOR CONVERSION N-VALUE例文帳に追加
貫入試験機および換算N値の自動算出方法 - 特許庁
ELECTROSTATIC CHUCK SYSTEM AND METHOD OF TESTING VACUUM FILM FORMING APPARATUS例文帳に追加
静電チャックシステムおよび真空成膜装置の試験方法 - 特許庁
D/A CONVERTER AND D/A CONVERSION LINEARITY TESTING METHOD例文帳に追加
D/Aコンバータ及びD/A変換直線性テスト方法 - 特許庁
TESTING MODEL FOR GAS TURBINE COMBUSTOR DOME AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
ガスタービン燃焼器ドームの試験モデル及びその製作方法 - 特許庁
PROBE, PROBE SET, PROBE-IMMOBILIZED CARRIER, AND GENETIC TESTING METHOD例文帳に追加
プローブ、プローブセット、プローブ固定担体及び遺伝子検査方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING RADIO BASE STATION例文帳に追加
無線基地局試験装置及び無線基地局試験方法 - 特許庁
LIGHT SENSOR TEST UNIT, METHOD OF TESTING LIGHT SENSOR, AND DISPLAY DEVICE例文帳に追加
光センサ検査ユニット、これの検査方法及び表示装置 - 特許庁
SALT DAMAGE TESTING METHOD FOR VENTILATING AIR FILTER UNIT AND ITS DEVICE例文帳に追加
換気用エアフィルタユニットの塩害試験方法および装置 - 特許庁
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