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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5393件
PHASE DIFFERENCE MEASURING APPARATUS, PHASE DIFFERENCE MEASUREMENT METHOD, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加
位相差測定装置、位相差測定方法および試験装置 - 特許庁
ANALYZER FOR CLINICAL TESTING AND METHOD FOR TRANSMITTING SAMPLE DATA例文帳に追加
臨床検査用分析装置およびサンプルデータの送信方法 - 特許庁
METHOD AND DRUG FOR TESTING PANCREAS DISEASE ACCORDING TO AUTOTAXIN MEASUREMENT例文帳に追加
オートタキシン測定による膵疾患の検査方法および検査薬 - 特許庁
METHOD, DEVICE AND TEST PIECE FOR TESTING THERMAL FATIGUE例文帳に追加
熱疲労試験方法、熱疲労試験装置及び熱疲労試験片 - 特許庁
RAY PATH TESTING SYSTEM AND CORRECTION METHOD FOR TRANSMISSION LOSS CHARACTERISTIC例文帳に追加
光線路試験装置及び伝送損失特性の補正方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR REMOTELY CONTROLLING TESTING DEVICE ON NETWORK例文帳に追加
ネットワーク上の試験装置を遠隔制御するシステム及び方法 - 特許庁
DISCHARGE MEASUREMENT DEVICE FOR IMPULSE TESTING, AND DISCHARGE DECIDING METHOD例文帳に追加
インパルス試験用放電計測装置及び放電判別方法 - 特許庁
RESIN IMPREGNATED STRAND TESTING APPARATUS AND METHOD USING THE SAME例文帳に追加
樹脂含浸ストランド試験装置、およびそれを用いた試験方法 - 特許庁
CLASSIFICATION METHOD OF CANDIDATE AGENT FOR CLINICAL DRUG INTERACTION TESTING例文帳に追加
臨床の薬物相互作用試験の候補薬剤の分類方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS, ADJUSTMENT APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING MAGNETIC STORAGE APPARATUS例文帳に追加
磁気記憶装置の試験装置、調整装置および製造方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MECHANICAL TESTING OF VALVE HEAD OF CERAMIC VALVE例文帳に追加
セラミック弁の弁頭を機械的にテストする方法及び装置 - 特許庁
TESTING METHOD FOR EVALUATING SEGREGATION RESISTANCE OF CONCRETE例文帳に追加
コンクリートの材料分離抵抗性を評価するための試験方法 - 特許庁
RADIO BASE STATION TEST DEVICE AND METHOD OF TESTING RADIO BASE STATION例文帳に追加
無線基地局試験装置及び無線基地局の試験方法 - 特許庁
CONTAINER FOR CELL TEST AND METHOD FOR TESTING CELL USING THE SAME例文帳に追加
細胞試験用容器及びそれを用いた細胞試験方法 - 特許庁
DEVICE AND SYSTEM FOR PROCESSING REQUEST, AND ACCESS TESTING METHOD例文帳に追加
要求処理装置、要求処理システムおよびアクセス試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING BRONCHIAL ASTHMA OR CHRONIC OBSTRUCTIVE PULMONARY DISEASE例文帳に追加
気管支喘息または慢性閉塞性肺疾患の検査方法 - 特許庁
TESTER AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
半導体試験装置、半導体試験方法および記録媒体 - 特許庁
TANK PIPE PRESSURE TEST METHOD AND TANK PIPE PRESSURE TESTING DEVICE例文帳に追加
タンク配管耐圧試験方法とタンク配管耐圧試験装置 - 特許庁
JITTER MEASURING DEVICE, JITTER MEASURING METHOD, TESTING DEVICE AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス - 特許庁
RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT, ELECTRONIC DEVICE, AND METHOD OF TESTING I/O CELL例文帳に追加
乱数発生回路、電子機器、およびI/Oセルのテスト方法 - 特許庁
WEATHER/LIGHT RESISTANCE TESTING APPARATUS HAVING ASH POWDER REMOVING TANK AND METHOD例文帳に追加
灰粉除去槽を備えた耐候光試験装置及び方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE AND NOISE TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
半導体集積装置およびそれを用いたノイズ試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加
半導体記憶装置のテスト方法及び半導体記憶装置 - 特許庁
To provide a method for testing susceptibility to asthma.例文帳に追加
ぜん息に対する過敏性を試験する方法が提供される。 - 特許庁
TESTING DEVICE, SHIFT AMOUNT MEASURING DEVICE AND SHIFT AMOUNT MEASURING METHOD例文帳に追加
試験装置、シフト量測定装置およびシフト量測定方法 - 特許庁
CRASH TESTING DEVICE AND CRASH TEST METHOD FOR AUTOMOBILE BODY例文帳に追加
自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法 - 特許庁
OPTICAL SIGNAL TRANSMISSION TESTING METHOD AND OPTICAL TRANSMISSION LINE SIMULATOR例文帳に追加
光信号伝送試験方法および光伝送路模擬装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING CORROSION CRACKING CAUSED BY WELDING RESIDUAL STRESS例文帳に追加
溶接残留応力の腐食割れ試験方法および装置 - 特許庁
PHYSICAL LAYER CHIP FOR IEEE1394 STANDARDS, AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
IEEE1394規格の物理層チップ及びそのテスト方法 - 特許庁
COMPRESSOR TESTING DEVICE AND COMPRESSOR TENTING METHOD THEREWITH例文帳に追加
圧縮機試験装置およびそれによる圧縮機の試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD OF TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路装置および集積回路のテスト方法 - 特許庁
ELECTRONIC TESTING DEVICE AND METHOD OF DISPLAYING RESULT OF ELECTRONIC TEST例文帳に追加
電子試験装置、及び、電子試験の結果を表示する方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING STERILIZING POWER OF ORGANIC/INORGANIC ANTIBACTERIAL AGENT USING MICRO-PLATE例文帳に追加
有機・無機系抗菌剤のマイクロプレート殺菌力試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC PENETRATION TESTING MACHINE AND ATTACHING METHOD OF EXTENSION ROD例文帳に追加
自動貫入試験機および延長用ロッドの取付け方法 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING AC VOLTAGE CIRCUIT OF DISTRIBUTION BOARD, AND METHOD THEREOF例文帳に追加
配電盤の交流電圧回路試験装置およびその方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING DATA PROCESSING SYSTEM, TEST PROGRAM, AND TEST APPARATUS例文帳に追加
データ処理システムの試験方法、試験プログラム及び試験装置 - 特許庁
MEMORY ERROR CORRECTION AND DETECTION CIRCUIT TEST SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加
メモリ誤り訂正・検出回路試験システムおよび試験方法 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING TRACK HOLD CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加
トラック・ホールド回路を内蔵した集積回路及び試験方法 - 特許庁
FUEL CELL SYSTEM AND FLOODING TESTING METHOD IN DIFFUSION LAYER例文帳に追加
燃料電池システム及び拡散層内のフラッディング試験方法 - 特許庁
NONDESTRUCTIVE METHOD AND NONDESTRUCTIVE APPARATUS FOR TESTING CERAMIC COATING FILM例文帳に追加
セラミックス被覆材の非破壊検査法及び非破壊検査装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND INFORMATION STORAGE MEDIUM例文帳に追加
半導体集積回路のテスト方法及び情報記憶媒体 - 特許庁
VOLTAGE GENERATING CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加
電圧発生回路および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁
This is a method(200)for making plural testing devices operational within the system.例文帳に追加
システム内で複数の試験装置を使用可能にする方法(200)。 - 特許庁
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