「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(52ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR PROVIDING LONG TERM STABILITY TO CELL FOR DIAGNOSTIC TESTING例文帳に追加

診断検査用細胞に長期安定性をもたらす方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ACTIVITY OF ACTIVE SLUDGE AND DECOMPOSABILITY OF WASTE WATER例文帳に追加

活性汚泥の活性および廃水の分解性の試験方法 - 特許庁

TEST SUPPORT DEVICE, AND TESTING METHOD OF LOW PRESSURE AIR CIRCUIT BREAKER例文帳に追加

試験支援器具および低圧気中遮断器の試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MULTI-STACK INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE例文帳に追加

マルチ−スタック集積回路パッケージをテストする装置及び方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING HEAT INSULATION PERFORMANCE OF HEAT INSULATING MATERIAL例文帳に追加

断熱材における断熱性能の検査方法と検査装置 - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR TESTING APPLICATION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

アプリケーションプログラムをテストする方法及びプログラム及び記録媒体 - 特許庁

TESTING METHOD AND IMPLEMENT FOR SALIVA BUFFER PERFORMANCE例文帳に追加

唾液緩衝能検査方法及び唾液緩衝能検査用具 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING EMBEDDED-TYPE TIME DOMAIN REFLECTIVITY例文帳に追加

埋め込み型時間領域反射率試験の方法及び装置 - 特許庁

To obtain a method and an apparatus for speedily and reliably testing electric parts.例文帳に追加

電気部品を試験するための方法と装置を提供する。 - 特許庁

MEMORY CONTROLLER WITH SELF-TEST FUNCTION, AND METHOD OF TESTING MEMORY CONTROLLER例文帳に追加

セルフテスト機能のあるメモリコントローラ及びそれをテストする方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING LSI MIXED WITH RAM BUILT IN CPU例文帳に追加

ＣＰＵ内蔵ＲＡＭ混載ＬＳＩのテスト装置および方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING CORROSION CRACKING CAUSED BY WELDING RESIDUAL STRESS例文帳に追加

溶接残留応力の腐食割れ試験方法および装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, SHIFT AMOUNT MEASURING DEVICE AND SHIFT AMOUNT MEASURING METHOD例文帳に追加

試験装置、シフト量測定装置およびシフト量測定方法 - 特許庁

CRASH TESTING DEVICE AND CRASH TEST METHOD FOR AUTOMOBILE BODY例文帳に追加

自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法 - 特許庁

PHYSICAL LAYER CHIP FOR IEEE1394 STANDARDS, AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４規格の物理層チップ及びそのテスト方法 - 特許庁

COMPRESSOR TESTING DEVICE AND COMPRESSOR TENTING METHOD THEREWITH例文帳に追加

圧縮機試験装置およびそれによる圧縮機の試験方法 - 特許庁

CALIBRATION BOARD SET, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, AND CALIBRATION METHOD例文帳に追加

キャリブレーションボードセット、半導体試験装置およびキャリブレーション方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND INFORMATION STORAGE MEDIUM例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及び情報記憶媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置、及び該半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

DATA TRANSFER UNIT, DATA TRANSFER METHOD, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

データ転送装置、データ転送方法および半導体試験装置 - 特許庁

IMAGE ACQUISITION METHOD, IMAGE ACQUISITION DEVICE, AND ARTICLE TESTING DEVICE例文帳に追加

画像取得方法、画像取得装置及び物品検査装置 - 特許庁

FRAME WORK SYSTEM AND METHOD FOR TESTING PERFORMANCE OF SERVER例文帳に追加

サーバのパフォーマンスをテストするためのフレームワーク・システムおよび方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING BUILT-IN ANALOGUE CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路および内蔵アナログ回路テスト方法 - 特許庁

CAPTURING CARRIER, CAPTURING UNIT, CAPTURING APPARATUS AND CAPTURING-TESTING METHOD例文帳に追加

捕集担体、捕集ユニット、捕集装置及び捕集・検査方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体装置のテスト方法及びシステム並びに記録媒体 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AND TESTING DEGREE OF DISPERSION例文帳に追加

分散度測定試験方法及び分散度測定試験装置 - 特許庁

For testing purposes, you can drop the Facebook operation into the main method of a main class. 例文帳に追加

テスト目的で、Facebook 操作を main クラスの main メソッドにドロップできます。 - NetBeans

TESTING METHOD FOR A/D CONVERTING CIRCUIT AND A/D CONVERTING CIRCUIT例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換回路の試験方法、及びＡ／Ｄ変換回路 - 特許庁

PULSE GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF TESTING THEM例文帳に追加

パルス発生回路、半導体集積回路、及び、そのテスト方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING MAIN CIRCUIT PHASE DETECTION例文帳に追加

主回路検相試験装置および主回路検相試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PERFECTNESS OF BLOOD TUBE SET FOR EXTRACORPOREAL CIRCUIT例文帳に追加

体外回路のための血液チューブ系セットの完全性試験 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR USING IT例文帳に追加

半導体記憶装置およびそれを用いた半導体テスト方法 - 特許庁

ANTIFOULING PROPERTY EVALUATING METHOD OF ANTIFOULING LAYER AND ABRASION TESTING DEVICE例文帳に追加

防汚層の防汚性評価方法および擦傷試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験方法及び半導体記憶装置 - 特許庁

PLANAR SEMICONDUCTOR CHIP, TESTING METHOD THEREFOR AND SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

プレーナ型半導体チップとそのテスト方法並びに半導体ウエハ - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRICAL CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR MODULE例文帳に追加

半導体モジュールの電気的特性試験方法及びその装置 - 特許庁

RAM TEST CIRCUIT, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND RAM TESTING METHOD例文帳に追加

ＲＡＭテスト回路、情報処理装置、及びＲＡＭテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER AND TESTING METHOD OF FERROELECTRIC MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体ウエハ、および強誘電体メモリ装置の試験方法 - 特許庁

PLL SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ＰＬＬ半導体装置並びにその試験の方法及び装置 - 特許庁

INHALATION TOXICITY TESTER AND INHALATION TOXICITY TESTING METHOD例文帳に追加

吸入毒性試験装置、並びに、吸入毒性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置とそのテスト方法および半導体集積回路 - 特許庁

TESTING METHOD OF MYASTHENIA GRAVIS AND ITS TEST AGENT例文帳に追加

重症筋無力症の検査方法及びそのための検査薬 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TESTING DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路、その試験装置、及びその試験方法 - 特許庁

NON-DESTRUCTIVE TESTING METHOD OF AUSTENITE STAINLESS STEEL AND ITS DEVICE例文帳に追加

オーステナイト系ステンレス鋼の非破壊検査方法及びその装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路及び半導体集積回路テスト方法 - 特許庁