「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(52ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AND TESTING DEGREE OF DISPERSION例文帳に追加

分散度測定試験方法及び分散度測定試験装置 - 特許庁

IMAGE ACQUISITION METHOD, IMAGE ACQUISITION DEVICE, AND ARTICLE TESTING DEVICE例文帳に追加

画像取得方法、画像取得装置及び物品検査装置 - 特許庁

FRAME WORK SYSTEM AND METHOD FOR TESTING PERFORMANCE OF SERVER例文帳に追加

サーバのパフォーマンスをテストするためのフレームワーク・システムおよび方法 - 特許庁

DATA TRANSFER UNIT, DATA TRANSFER METHOD, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

データ転送装置、データ転送方法および半導体試験装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体装置のテスト方法及びシステム並びに記録媒体 - 特許庁

METHOD FOR TESTING LIVER TUMOROUS LESION IN MAMMAL例文帳に追加

哺乳動物における肝臓腫瘍性病変の検定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR EDDY CURRENT FLAW DETECTION TESTING例文帳に追加

渦電流探傷試験方法及び渦電流探傷試験装置 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TESTING METHOD OF HIGH PRESSURE TANK, AND DEVICE FOR AIRTIGHTNESS TEST例文帳に追加

高圧タンクの気密試験方法および気密試験用装置 - 特許庁

MATERIAL TESTING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

材料試験装置における制御方法および材料試験装置 - 特許庁

MEDIUM TEST AUXILIARY UNIT FOR REPEATER AND METHOD FOR TESTING MEDIUM例文帳に追加

中継器用媒体試験補助装置及び媒体試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DESTRUCTIVELY TESTING JIG CLAMPER例文帳に追加

治具クランパ破壊試験装置及び治具クランパ破壊試験方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR PARTIAL DISCHARGE TESTING OF AN INSULATION COMPONENT例文帳に追加

絶縁コンポーネントの部分放電テストのための方法及びシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING BUILT-IN TERMINAL FOR TEST AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

試験用端子内蔵半導体装置およびその試験方法 - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR TESTING APPLICATION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

アプリケーションプログラムをテストする方法及びプログラム及び記録媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING BUILT-IN ANALOGUE CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路および内蔵アナログ回路テスト方法 - 特許庁

CAPTURING CARRIER, CAPTURING UNIT, CAPTURING APPARATUS AND CAPTURING-TESTING METHOD例文帳に追加

捕集担体、捕集ユニット、捕集装置及び捕集・検査方法 - 特許庁

METHOD FOR PROVIDING LONG TERM STABILITY TO CELL FOR DIAGNOSTIC TESTING例文帳に追加

診断検査用細胞に長期安定性をもたらす方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR, METHOD FOR TESTING WORK FLOW, AND TEST PROGRAM OF WORK FLOW例文帳に追加

画像処理装置、ワークフローのテスト方法及び同テストプログラム - 特許庁

HEAT RESISTANT MATERIAL TESTING DEVICE, HEAT RESISTANT MATERIAL TEST METHOD, AND TEST PIECE例文帳に追加

耐熱材試験装置、耐熱材試験方法およびテストピース - 特許庁

METHOD FOR TESTING ACTIVITY OF ACTIVE SLUDGE AND DECOMPOSABILITY OF WASTE WATER例文帳に追加

活性汚泥の活性および廃水の分解性の試験方法 - 特許庁

TEST SUPPORT DEVICE, AND TESTING METHOD OF LOW PRESSURE AIR CIRCUIT BREAKER例文帳に追加

試験支援器具および低圧気中遮断器の試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MULTI-STACK INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE例文帳に追加

マルチ−スタック集積回路パッケージをテストする装置及び方法 - 特許庁

RAY PATH TESTING SYSTEM AND LIGHT SOURCE POWER LEVEL MONITORING METHOD例文帳に追加

光線路試験装置及び光源出力レベルの監視方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING HEAT INSULATION PERFORMANCE OF HEAT INSULATING MATERIAL例文帳に追加

断熱材における断熱性能の検査方法と検査装置 - 特許庁

MATERIAL TESTING DEVICE AND ITS CONTROLLING METHOD例文帳に追加

材料試験装置およびこの材料試験装置の制御方法 - 特許庁

SIGNAL GENERATING APPARATUS, TESTING INSTRUMENT, SIGNAL GENERATING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

信号生成装置、試験装置、信号生成方法、及びプログラム - 特許庁

METHOD FOR PREDICTING AMOUNT OF WEAR OF SPACER, SYSTEM OF SAME, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

スペーサ摩耗量予測方法、そのシステム、および試験装置 - 特許庁

To provide a sensitization development testing method for chemicals.例文帳に追加

化学物質の感作性発現検定方法を提供すること。 - 特許庁

PULSE GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF TESTING THEM例文帳に追加

パルス発生回路、半導体集積回路、及び、そのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

半導体装置試験装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁

EXECUTION METHOD OF PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR TEST OF SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体試験装置の半導体試験用プログラム実行方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER AND TESTING METHOD OF FERROELECTRIC MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体ウエハ、および強誘電体メモリ装置の試験方法 - 特許庁

PLL SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ＰＬＬ半導体装置並びにその試験の方法及び装置 - 特許庁

RAM TEST CIRCUIT, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND RAM TESTING METHOD例文帳に追加

ＲＡＭテスト回路、情報処理装置、及びＲＡＭテスト方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING MAIN CIRCUIT PHASE DETECTION例文帳に追加

主回路検相試験装置および主回路検相試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PERFECTNESS OF BLOOD TUBE SET FOR EXTRACORPOREAL CIRCUIT例文帳に追加

体外回路のための血液チューブ系セットの完全性試験 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR USING IT例文帳に追加

半導体記憶装置およびそれを用いた半導体テスト方法 - 特許庁

ANTIFOULING PROPERTY EVALUATING METHOD OF ANTIFOULING LAYER AND ABRASION TESTING DEVICE例文帳に追加

防汚層の防汚性評価方法および擦傷試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験方法及び半導体記憶装置 - 特許庁

PLANAR SEMICONDUCTOR CHIP, TESTING METHOD THEREFOR AND SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

プレーナ型半導体チップとそのテスト方法並びに半導体ウエハ - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRICAL CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR MODULE例文帳に追加

半導体モジュールの電気的特性試験方法及びその装置 - 特許庁

INHALATION TOXICITY TESTER AND INHALATION TOXICITY TESTING METHOD例文帳に追加

吸入毒性試験装置、並びに、吸入毒性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置とそのテスト方法および半導体集積回路 - 特許庁

TESTING METHOD OF MYASTHENIA GRAVIS AND ITS TEST AGENT例文帳に追加

重症筋無力症の検査方法及びそのための検査薬 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TESTING DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路、その試験装置、及びその試験方法 - 特許庁