「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索

SPECIMEN STRENGTH TESTER AND METHOD OF TESTING SPECIMEN STRENGTH例文帳に追加

試料強度試験装置及び試料強度試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING BELT FOR CONVEYING PAPER SHEET例文帳に追加

紙葉類搬送用ベルト試験装置及び試験方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR IMPROVED TESTING OF TRANSISTOR ARRAY例文帳に追加

トランジスタアレイの改善されたテスト方法及びテストシステム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DEFLATED TIRE HANDLING例文帳に追加

空気が抜けたタイヤのハンドリング試験方法および装置 - 特許庁

To provide a new in vitro solubility testing method.例文帳に追加

新規なｉｎ ｖｉｔｒｏ溶解試験方法の提供。 - 特許庁

TESTING CONTACT CHAIN AND RELATED DEBUGGING METHOD例文帳に追加

試験用コンタクトチェーンおよびそれに関連するデバッグ方法 - 特許庁

CONTACTOR FOR ELECTRONIC PART, AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

電子部品用コンタクタ及びこれを用いた試験方法 - 特許庁

CREEP PHYSICAL PROPERTY TESTING METHOD, DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

クリープ物性試験方法、試験装置、および試験プログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING CONFIRMATION OF CABLE CONNECTION例文帳に追加

ケーブル接続確認試験方法及びその試験装置 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING AND TESTING RESISTANCE TO ADHESION TO DUST AND SLAG例文帳に追加

ダスト，スラグに対する難付着性評価試験方法 - 特許庁

ANTI-REFRACTION PROPERTY TESTING METHOD AND ANTI-REFRACTION PROPERTY TESTER例文帳に追加

耐屈折性試験方法及び耐屈折性試験装置 - 特許庁

BEAM PATH TESTING METHOD, WAVEFORM ANALYZER, AND PROGRAM例文帳に追加

光線路試験方法、波形解析装置およびプログラム - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験システム及び試験方法 - 特許庁

CIRCUIT DETERIORATION TESTING DEVICE AND CIRCUIT DETERIORATION TEST METHOD例文帳に追加

回路劣化試験装置および回路劣化試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL例文帳に追加

半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

METHOD AND KIT FOR TESTING VIRAL LATENT INFECTION例文帳に追加

ウイルス潜伏感染の検査方法および検査用キット - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法及びその装置 - 特許庁

LSI TESTING APPARATUS AND ITS TIMING CALIBRATING METHOD例文帳に追加

ＬＳＩ試験装置およびそのタイミングキャリブレーション方法 - 特許庁

SYSTEM CONTROLLER, SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING INTERFACE例文帳に追加

システムコントローラ、半導体装置、及びインターフェイス試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CIRCUIT USING SHARED BANDWIDTH TEST BUS例文帳に追加

共有帯域幅試験バスを用いた回路試験方法 - 特許庁

ELEVATOR TESTING METHOD, ITS AUXILIARY DEVICE, AND ELEVATOR DEVICE例文帳に追加

エレベーター試験方法、その補助装置及びエレベーター装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING QUANTITY OF ARTIFICIAL AIR OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリ−トの人工空気量試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法およびテスト装置 - 特許庁

DIGITAL CIRCUIT DEVICE, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ディジタル回路装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING RAILROAD REMOTE RADIO例文帳に追加

鉄道遠隔無線を試験するシステムおよびその方法 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD AND DEVICE OF SHOT PEENING TREATED SURFACE例文帳に追加

ショットピーニング処理面の非破壊検査方法及び装置 - 特許庁

VISCERAL FAT OBESITY TESTING APPARATUS AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

内臓脂肪肥満検査装置及びその制御方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING NUCLEAR QUADRUPOLE RESONANCE例文帳に追加

核四重極共鳴を試験する方法および装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, DATA COLLECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、データ収集方法及びプログラム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING EXPANSIBILITY OF STEEL SLAG例文帳に追加

鉄鋼スラグの膨張性を試験する方法および装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SHORTEST TIME BIT ERROR RATE例文帳に追加

最短時間ビット誤り率のテスト方法及びシステム - 特許庁

IC TESTING SYSTEM AND ITS CONTROL-SOFTWARE CONTROL METHOD例文帳に追加

ＩＣ試験システム及びその制御ソフトウェア管理方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR BUMP ELECTRODE例文帳に追加

半導体バンプ電極の試験方法および試験装置 - 特許庁

PROBE CARD AND APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

プローブカード、半導体ウェハの試験装置及び試験方法 - 特許庁

SOFTWARE INSTALLING AND/OR TESTING METHOD FOR COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

コンピュータシステムのソフトウェアインストールおよび、または試験方法 - 特許庁

NODE LOGIC FIXING CIRCUIT AND IDDQ TESTING METHOD例文帳に追加

ノード論理固定回路およびＩＤＤＱ試験方法 - 特許庁

MULTILAYER WIRING BOARD AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加

多層配線基板及び多層配線基板の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING LOGIC CIRCUIT HAVING A PLURALITY OF CLOCK PHASES例文帳に追加

複数のクロック相を有する論理回路のテスト方式 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING FLOWABILITY OF LIQUID MATERIAL例文帳に追加

液状材料の流動性試験方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING THERAPEUTIC OR PROPHYLACTIC AGENT FOR HYPERLIPIDEMIA例文帳に追加

高脂血症の治療または予防剤の試験方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

プローブカードおよび半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路とそのテスト方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING WATER LEAKAGE OF PIPING USING WIRELESS IC TAG例文帳に追加

無線ＩＣタグを用いた配管漏水検査方法 - 特許庁