「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR INSTALLING OR TESTING SOFTWARE FOR COMPUER SYSTEM例文帳に追加

コンピュータシステムのソフトウエアインストールおよび、または試験方法 - 特許庁

UNDERWATER SENSOR AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

水中探知装置および水中探知装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING WEATHERABILITY OF IMAGE例文帳に追加

画像耐候性試験方法及び画像耐候性試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF CURRENT MEASURING CIRCUIT例文帳に追加

電流計測回路の試験装置および試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING CRACKING OF POWER GENERATION CELL例文帳に追加

発電セルの割れ試験装置および割れ試験方法 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a network.例文帳に追加

ネットワークを検査する方法および装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF TESTING DURABILITY OF EXHAUST PURIFICATION DEVICE FOR VEHICLES例文帳に追加

車両用排気浄化装置の耐久試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND ITS CONTROL METHOD FOR POWER TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

動力伝達系の試験装置とその制御方法 - 特許庁

MEMBER FOR WASHER-STERILIZER AND METHOD FOR TESTING ITS MATERIAL例文帳に追加

洗浄殺菌機用部材とその材質の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CIRCUIT USING SHARED BANDWIDTH TEST BUS例文帳に追加

共有帯域幅試験バスを用いた回路試験方法 - 特許庁

ELEVATOR TESTING METHOD, ITS AUXILIARY DEVICE, AND ELEVATOR DEVICE例文帳に追加

エレベーター試験方法、その補助装置及びエレベーター装置 - 特許庁

ANTI-REFRACTION PROPERTY TESTING METHOD AND ANTI-REFRACTION PROPERTY TESTER例文帳に追加

耐屈折性試験方法及び耐屈折性試験装置 - 特許庁

GAMMA VOLTAGE GENERATING APPARATUS AND METHOD OF TESTING GAMMA VOLTAGE例文帳に追加

ガンマ電圧生成装置、及びガンマ電圧テスト方法 - 特許庁

GAS LEAKAGE ALARM TESTING METHOD AND GAS LEAKAGE ALARM例文帳に追加

ガス漏れ警報器の試験方法、及びガス漏れ警報器 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTION OF TIMING OF SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体試験装置のタイミング補正方法及び装置 - 特許庁

VISCERAL FAT OBESITY TESTING APPARATUS AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

内臓脂肪肥満検査装置及びその制御方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING NUCLEAR QUADRUPOLE RESONANCE例文帳に追加

核四重極共鳴を試験する方法および装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING QUANTITY OF ARTIFICIAL AIR OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリ−トの人工空気量試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法およびテスト装置 - 特許庁

DIGITAL CIRCUIT DEVICE, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ディジタル回路装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING RAILROAD REMOTE RADIO例文帳に追加

鉄道遠隔無線を試験するシステムおよびその方法 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD AND DEVICE OF SHOT PEENING TREATED SURFACE例文帳に追加

ショットピーニング処理面の非破壊検査方法及び装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法及びその装置 - 特許庁

LSI TESTING APPARATUS AND ITS TIMING CALIBRATING METHOD例文帳に追加

ＬＳＩ試験装置およびそのタイミングキャリブレーション方法 - 特許庁

SYSTEM CONTROLLER, SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING INTERFACE例文帳に追加

システムコントローラ、半導体装置、及びインターフェイス試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL例文帳に追加

半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

METHOD AND KIT FOR TESTING VIRAL LATENT INFECTION例文帳に追加

ウイルス潜伏感染の検査方法および検査用キット - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, DATA COLLECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、データ収集方法及びプログラム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING EXPANSIBILITY OF STEEL SLAG例文帳に追加

鉄鋼スラグの膨張性を試験する方法および装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SHORTEST TIME BIT ERROR RATE例文帳に追加

最短時間ビット誤り率のテスト方法及びシステム - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

プローブカードおよび半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路とそのテスト方法および装置 - 特許庁

PROBE CARD AND APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

プローブカード、半導体ウェハの試験装置及び試験方法 - 特許庁

SOFTWARE INSTALLING AND/OR TESTING METHOD FOR COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

コンピュータシステムのソフトウェアインストールおよび、または試験方法 - 特許庁

IC TESTING SYSTEM AND ITS CONTROL-SOFTWARE CONTROL METHOD例文帳に追加

ＩＣ試験システム及びその制御ソフトウェア管理方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR BUMP ELECTRODE例文帳に追加

半導体バンプ電極の試験方法および試験装置 - 特許庁

NODE LOGIC FIXING CIRCUIT AND IDDQ TESTING METHOD例文帳に追加

ノード論理固定回路およびＩＤＤＱ試験方法 - 特許庁

MULTILAYER WIRING BOARD AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加

多層配線基板及び多層配線基板の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING LOGIC CIRCUIT HAVING A PLURALITY OF CLOCK PHASES例文帳に追加

複数のクロック相を有する論理回路のテスト方式 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS PHASE TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置及びその位相テスト方法 - 特許庁

IC-TESTING APPARATUS AND TEST METHOD USING THE APPARATUS例文帳に追加

ＩＣ試験装置及びその装置を用いる試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR MERCAPTAN SULFUR CONTENT OF PETROLEUM SERIES FUEL OIL例文帳に追加

石油系燃料油のメルカプタン硫黄分試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND IC TESTER OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法及びＩＣテスタ - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING FLOWABILITY OF LIQUID MATERIAL例文帳に追加

液状材料の流動性試験方法および装置 - 特許庁