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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5393件
SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置と半導体装置の製造方法及びテスト方法 - 特許庁
SCRATCH TESTING METHOD AND DEVICE USING ACCELERATION DETECTION METHOD例文帳に追加
加速度検出方式を使用したスクラッチ試験方法及び該装置 - 特許庁
To provide a method of testing that enables testing of the connection rate of connection between a pad and a bonding wire and selection of a testing position in the pad.例文帳に追加
パッドとボンディングワイヤとの接続割合の検査および、パッド内での検査位置を選択可能な検査方法を提供する。 - 特許庁
To enable testing even during an network operation in an LAN switch and a testing method for testing in or between LAN switches.例文帳に追加
LANスイッチ及びLANスイッチ内又はLANスイッチ間の試験を行う試験方法に関し、ネットワーク運用中でも試験を可能とする。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING MAGNETORESISTIVE EFFECT ELEMENT例文帳に追加
磁気抵抗効果素子の検査装置および検査方法 - 特許庁
INTERFACE BOARD TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
インタフェースボード試験装置及びインタフェースボードの試験方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING GUI PROGRAM TEST例文帳に追加
GUIプログラムテスト装置およびGUIプログラムテスト方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC PARTS例文帳に追加
電子部品の試験方法および電子部品試験装置 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD OF TESTING MOBILE COMMUNICATION DEVICE例文帳に追加
移動体通信用デバイス試験システム及び試験方法 - 特許庁
TEST METHOD OF STRESS CORROSION CRACK DEVELOPMENT AND TESTING EQUIPMENT THEREFOR例文帳に追加
応力腐食割れ進展試験方法及びその装置 - 特許庁
COATING CONDITION INSPECTION METHOD AND COATING CONDITION TESTING APPARATUS例文帳に追加
塗装状態検査方法及び塗装状態検査装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING ACCELERATED WEATHERABILITY例文帳に追加
促進耐候性試験方法及び促進耐候性試験装置 - 特許庁
METHOD AND INSTRUMENT FOR TESTING LATERAL PRESSURE OF OPTICAL FIBER例文帳に追加
光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置 - 特許庁
BARE CHIP CARRIER AND METHOD FOR TESTING BARE CHIP USING THE BARE CHIP CARRIER例文帳に追加
ベアチップキャリアとこれを用いたベアチップの検査方法 - 特許庁
TESTING METHOD OF COARSE AGGREGATE AND FINE AGGREGATE例文帳に追加
粗骨材の試験方法及び細骨材の試験方法 - 特許庁
AIR PERMEATION TESTING METHOD FOR STICK-LIKE ARTICLE AND ITS DEVICE例文帳に追加
棒状物品の通気検査方法及びその装置 - 特許庁
TROUBLE GENERATING DEVICE AND TESTING METHOD FOR COMPUTER SYSTEM例文帳に追加
障害発生装置およびコンピュータシステムの試験方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING ELECTRO-OPTICAL DEVICE, DEVICE FOR TESTING THE ELECTRO-OPTICAL DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE ELECTRO-OPTICAL DEVICE例文帳に追加
電気光学装置の検査方法、電気光学装置の検査装置、及び電気光学装置の製造方法 - 特許庁
TRANSMISSION OIL BEHAVIOR TEST METHOD AND ITS TESTING DEVICE例文帳に追加
トランスミッションオイル挙動試験方法およびその試験装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路試験装置、及び集積回路試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING CONSTITUTION OF DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
装置の構成をテストする方法および半導体装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING PERFORMANCE OF CONTAMINANT TREATING MATERIAL例文帳に追加
汚染物質処理材の性能試験方法及び装置 - 特許庁
COMMUNICATION SYSTEM AND APPARATUS, AND COMMUNICATION QUALITY TESTING METHOD例文帳に追加
通信システム、通信装置及び通信品質試験方法 - 特許庁
BOARD CONVERSION CABLE FOR MULTIPLE-PIN TESTER AND IC TESTING METHOD例文帳に追加
多ピンテスター用ボード変換ケーブルおよびICテスト方法 - 特許庁
TESTING DEVICE, METHOD AND PROGRAM OF INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加
情報処理装置の試験装置及び方法及びプログラム - 特許庁
METHOD FOR TESTING TUNNEL MAGNETORESISTANCE ELEMENT AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
トンネル磁気抵抗効果素子の検査方法及び装置 - 特許庁
TEST SIGNAL GENERATING DEVICE AND TESTING METHOD OF VIDEO APPARATUS例文帳に追加
テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法 - 特許庁
METHOD AND PROGRAM FOR TESTING MEMORY OF COMPUTER SYSTEM例文帳に追加
コンピュータシステムのメモリ試験方法およびメモリ試験プログラム - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM DESCRIBING TESTING METHOD例文帳に追加
集積回路の試験装置、及び試験方法、及び試験方法を記述した制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
PROBE CARD, PROBE UNIT, METHOD FOR TESTING PROBE AND PROBE NEEDLE例文帳に追加
プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法及びプローブ針 - 特許庁
FALLING WEIGHT TESTING APPARATUS AND CALCULATION METHOD OF COLLISION SPRING例文帳に追加
落錘試験装置及び衝突ばねの算出方法 - 特許庁
ERASE FUNCTION TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR NONVOLATILE MEMORY例文帳に追加
半導体不揮発性メモリの消去機能試験方法 - 特許庁
CHARACTERISTIC EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体装置の特性評価方法及び試験装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリ試験装置及び半導体メモリ試験方法 - 特許庁
EQUIPMENT DIAGNOSTIC METHOD, REMOTE TESTING DEVICE AND NETWORK EQUIPMENT例文帳に追加
機器診断方法、遠隔試験装置及びネットワーク機器 - 特許庁
PARTIAL DISCHARGE DETECTOR, AND PARTIAL DISCHARGE TESTING METHOD例文帳に追加
部分放電検出装置および部分放電試験方法 - 特許庁
SIGNAL GENERATOR, SIGNAL GENERATING METHOD AND TESTING EQUIPMENT例文帳に追加
信号発生装置、信号発生方法、及び試験装置 - 特許庁
SUBSCRIBER LINE TERMINAL DEVICE AND RETURN TESTING METHOD例文帳に追加
加入者線端局装置および折り返し試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR EXCHANGE CONTROLLER例文帳に追加
交換機制御装置の試験装置、方法及びプログラム - 特許庁
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