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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Testing Methodの意味・解説 > Testing Methodに関連した英語例文

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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5393



例文

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置と半導体装置の製造方法及びテスト方法 - 特許庁

SCRATCH TESTING METHOD AND DEVICE USING ACCELERATION DETECTION METHOD例文帳に追加

加速度検出方式を使用したスクラッチ試験方法及び該装置 - 特許庁

To provide a method of testing that enables testing of the connection rate of connection between a pad and a bonding wire and selection of a testing position in the pad.例文帳に追加

パッドとボンディングワイヤとの接続割合の検査および、パッド内での検査位置を選択可能な検査方法を提供する。 - 特許庁

To enable testing even during an network operation in an LAN switch and a testing method for testing in or between LAN switches.例文帳に追加

LANスイッチ及びLANスイッチ内又はLANスイッチ間の試験を行う試験方法に関し、ネットワーク運用中でも試験を可能とする。 - 特許庁

例文

To provide a testing device tester, capable of detecting defective through-hole at high speed, and to provide a testing device testing method.例文帳に追加

不良のスルーホールを高速に検出できる被試験デバイス試験装置及び被試験デバイス試験方法を提供すること。 - 特許庁


例文

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MAGNETORESISTIVE EFFECT ELEMENT例文帳に追加

磁気抵抗効果素子の検査装置および検査方法 - 特許庁

INTERFACE BOARD TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

インタフェースボード試験装置及びインタフェースボードの試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING GUI PROGRAM TEST例文帳に追加

GUIプログラムテスト装置およびGUIプログラムテスト方法 - 特許庁

APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING PROCESSOR例文帳に追加

プロセッサ試験装置、プロセッサ試験方法、プロセッサ試験プログラム - 特許庁

例文

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC PARTS例文帳に追加

電子部品の試験方法および電子部品試験装置 - 特許庁

例文

SYSTEM AND METHOD OF TESTING MOBILE COMMUNICATION DEVICE例文帳に追加

移動体通信用デバイス試験システム及び試験方法 - 特許庁

TEST METHOD OF STRESS CORROSION CRACK DEVELOPMENT AND TESTING EQUIPMENT THEREFOR例文帳に追加

応力腐食割れ進展試験方法及びその装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING BALANCE DEVICE FOR ELEVATOR AND JIG FOR TEST例文帳に追加

エレベータの秤装置の試験方法および試験用治具 - 特許庁

COATING CONDITION INSPECTION METHOD AND COATING CONDITION TESTING APPARATUS例文帳に追加

塗装状態検査方法及び塗装状態検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ACCELERATED WEATHERABILITY例文帳に追加

促進耐候性試験方法及び促進耐候性試験装置 - 特許庁

METHOD AND INSTRUMENT FOR TESTING LATERAL PRESSURE OF OPTICAL FIBER例文帳に追加

光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置 - 特許庁

BARE CHIP CARRIER AND METHOD FOR TESTING BARE CHIP USING THE BARE CHIP CARRIER例文帳に追加

ベアチップキャリアとこれを用いたベアチップの検査方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF COARSE AGGREGATE AND FINE AGGREGATE例文帳に追加

粗骨材の試験方法及び細骨材の試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING FATIGUE OF WING例文帳に追加

翼の疲労試験方法及び翼の疲労試験装置 - 特許庁

AIR PERMEATION TESTING METHOD FOR STICK-LIKE ARTICLE AND ITS DEVICE例文帳に追加

棒状物品の通気検査方法及びその装置 - 特許庁

TROUBLE GENERATING DEVICE AND TESTING METHOD FOR COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

障害発生装置およびコンピュータシステムの試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING ELECTRO-OPTICAL DEVICE, DEVICE FOR TESTING THE ELECTRO-OPTICAL DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE ELECTRO-OPTICAL DEVICE例文帳に追加

電気光学装置の検査方法、電気光学装置の検査装置、及び電気光学装置の製造方法 - 特許庁

VIRTUAL SYSTEM TESTING METHOD AND VIRTUAL UNIT USED THEREFOR例文帳に追加

仮想システムテスト方法およびそれに用いる仮想ユニット - 特許庁

COLLISION TESTING DEVICE, VEHICLE DESIGN METHOD AND VEHICLE例文帳に追加

衝突試験装置、車両の設計方法、及び車両 - 特許庁

TRANSMISSION OIL BEHAVIOR TEST METHOD AND ITS TESTING DEVICE例文帳に追加

トランスミッションオイル挙動試験方法およびその試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路試験装置、及び集積回路試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CONSTITUTION OF DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

装置の構成をテストする方法および半導体装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING PERFORMANCE OF CONTAMINANT TREATING MATERIAL例文帳に追加

汚染物質処理材の性能試験方法及び装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING CONNECTION STRENGTH OF BUMP ELECTRODE例文帳に追加

バンプ電極の接合強度試験装置と試験方法 - 特許庁

COMMUNICATION SYSTEM AND APPARATUS, AND COMMUNICATION QUALITY TESTING METHOD例文帳に追加

通信システム、通信装置及び通信品質試験方法 - 特許庁

BOARD CONVERSION CABLE FOR MULTIPLE-PIN TESTER AND IC TESTING METHOD例文帳に追加

多ピンテスター用ボード変換ケーブルおよびICテスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, METHOD AND PROGRAM OF INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加

情報処理装置の試験装置及び方法及びプログラム - 特許庁

METHOD FOR TESTING TUNNEL MAGNETORESISTANCE ELEMENT AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

トンネル磁気抵抗効果素子の検査方法及び装置 - 特許庁

TEST METHOD, ORGANIC GAS SUPPLY DEVICE, AND TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

試験方法、有機ガス供給装置及び試験装置 - 特許庁

TEST SIGNAL GENERATING DEVICE AND TESTING METHOD OF VIDEO APPARATUS例文帳に追加

テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法 - 特許庁

TEST METHOD OF FERROELECTRIC MATERIAL AND TESTING DEVICE例文帳に追加

強誘電体材料の試験方法および試験装置 - 特許庁

METHOD AND LEAKAGE FOR TESTING PIPING LEAK例文帳に追加

配管漏洩検査装置及び配管の漏洩検査方法 - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR TESTING MEMORY OF COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

コンピュータシステムのメモリ試験方法およびメモリ試験プログラム - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM DESCRIBING TESTING METHOD例文帳に追加

集積回路の試験装置、及び試験方法、及び試験方法を記述した制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

PROBE CARD, PROBE UNIT, METHOD FOR TESTING PROBE AND PROBE NEEDLE例文帳に追加

プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法及びプローブ針 - 特許庁

FALLING WEIGHT TESTING APPARATUS AND CALCULATION METHOD OF COLLISION SPRING例文帳に追加

落錘試験装置及び衝突ばねの算出方法 - 特許庁

ERASE FUNCTION TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR NONVOLATILE MEMORY例文帳に追加

半導体不揮発性メモリの消去機能試験方法 - 特許庁

CHARACTERISTIC EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体装置の特性評価方法及び試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリ試験装置及び半導体メモリ試験方法 - 特許庁

EQUIPMENT DIAGNOSTIC METHOD, REMOTE TESTING DEVICE AND NETWORK EQUIPMENT例文帳に追加

機器診断方法、遠隔試験装置及びネットワーク機器 - 特許庁

PARTIAL DISCHARGE DETECTOR, AND PARTIAL DISCHARGE TESTING METHOD例文帳に追加

部分放電検出装置および部分放電試験方法 - 特許庁

PRESS STARTING POINT DETECTING METHOD AND HARDNESS TESTING DEVICE例文帳に追加

押し込み開始点検出方法および硬さ試験装置。 - 特許庁

SIGNAL GENERATOR, SIGNAL GENERATING METHOD AND TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

信号発生装置、信号発生方法、及び試験装置 - 特許庁

SUBSCRIBER LINE TERMINAL DEVICE AND RETURN TESTING METHOD例文帳に追加

加入者線端局装置および折り返し試験方法 - 特許庁

例文

TESTING DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR EXCHANGE CONTROLLER例文帳に追加

交換機制御装置の試験装置、方法及びプログラム - 特許庁




  
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