1153万例文収録!

「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Testing Methodの意味・解説 > Testing Methodに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5388



例文

METHOD OF TESTING LIFE OF PHOTORECEPTOR AND APPARATUS FOR THE SAME例文帳に追加

感光体の寿命試験方法及びその装置 - 特許庁

ACTIVE MATRIX DISPLAY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

アクティブマトリクス型の表示装置およびその検査方法 - 特許庁

HYDRAULIC TESTING MACHINE OF STEEL PIPE, AND USE METHOD THEREFOR例文帳に追加

鋼管の水圧試験装置およびその使用方法 - 特許庁

ADJUSTMENT TESTING METHOD FOR DIGITAL COMMUNICATION EQUIPMENT AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

デジタル通信機器の調整試験方法及び装置 - 特許庁

例文

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体装置及び半導体装置の試験方法 - 特許庁


例文

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

PENETRATION OR CONSISTENCY TESTER AND TESTING METHOD例文帳に追加

針入度またはちょう度試験器および試験方法 - 特許庁

LIFE TESTING METHOD AND DEVICE FOR INDUSTRIAL ROBOT例文帳に追加

産業用ロボットの寿命測定方法および装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTER AND TESTING METHOD USING IT例文帳に追加

半導体試験装置及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

例文

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体の検査方法及び半導体の検査装置 - 特許庁

例文

CIRCUIT PATTERN TESTER AND CIRCUIT PATTERN TESTING METHOD例文帳に追加

回路パターン検査装置及び回路パターン検査方法 - 特許庁

TIMING GENERATOR, TESTING DEVICE, AND SKEW ADJUSTMENT METHOD例文帳に追加

タイミング発生器、試験装置、及びスキュー調整方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND APPARATUS OF FUNCTION IN FINE STRUCTURE ELEMENT例文帳に追加

微細構造素子の機能の試験方法及び装置 - 特許庁

PLASMA PROCESSOR, AND FLOW DIVIDING RATIO TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

プラズマ処理装置及びその分流比検定方法 - 特許庁

MULTI-CHIP MODULE AND METHOD FOR TESTING CONNECTION BETWEEN CHIP例文帳に追加

マルチチップモジュール及びそのチップ間接続テスト方法 - 特許庁

ON-BOARD FAILURE DIAGNOSIS APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SAME例文帳に追加

車載故障診断装置およびその試験方法 - 特許庁

LEAKAGE TESTING METHOD FOR DRAIN PIPE AND TEST JIG例文帳に追加

排水管の漏洩試験方法及び試験用治具 - 特許庁

MACHINE AND METHOD FOR TESTING ROCKWELL HARDNESS例文帳に追加

ロックウェル硬さ試験機及びロックウェル硬さ試験方法 - 特許庁

SOLID INSULATING SWITCHGEAR AND METHOD OF TESTING ITS INSULATION例文帳に追加

固体絶縁スイッチギヤおよびその絶縁試験方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING INTERNET例文帳に追加

インターネット試験実施方法およびインターネット試験システム - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING WITHSTAND VOLTAGE OF GAS INSULATED DEVICE例文帳に追加

ガス絶縁機器の耐電圧試験装置および方法 - 特許庁

LOAD TESTING DEVICE AND METHOD FOR TELECOMMUNICATION NETWORK例文帳に追加

テレコミュニケーション・ネットワーク用負荷試験装置及び方法 - 特許庁

APPARATUS FOR AUTOMATICALLY CREATING CONTROL PROGRAM AND TESTING METHOD PLAN例文帳に追加

制御プログラム及び試験方案自動作成装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL FIBER HAVING BRANCH例文帳に追加

分岐を有する光ファイバの試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SUBSCRIBER CIRCUIT, AND PROGRAM例文帳に追加

加入者回路試験方法と装置ならびにプログラム - 特許庁

TIMING GENERATOR, TESTING DEVICE, AND TIMING GENERATING METHOD例文帳に追加

タイミング発生器、試験装置、及びタイミング発生方法 - 特許庁

OUTPUT CIRCUIT AND DRIVE CAPABILITY TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

出力回路及びそのドライブ能力テスト方法。 - 特許庁

COOLING METHOD OF TEST BEARING IN BEARING TESTING MACHINE例文帳に追加

軸受試験機に於ける供試軸受の冷却方法 - 特許庁

INFORMATION PROCESSING DEVICE, NETWORK TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、ネットワーク試験方法、及びプログラム - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR APPARATUS例文帳に追加

半導体装置を試験するための装置及び方法 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING APPROXIMATE WAVEFORM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

近似波形生成方法及び半導体試験装置 - 特許庁

To provide a method for testing semiconductors.例文帳に追加

半導体をテストするための方法を提供すること。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING AAL1-SAR FUNCTION例文帳に追加

AAL1−SAR機能の試験方法及び装置 - 特許庁

MEDIA CONVERTER, LOOP TESTING METHOD, AND LOOP TEST PROGRAM例文帳に追加

メディアコンバータ、ループ試験方法及びループ試験プログラム - 特許庁

CIRCUIT BOARD AND METHOD OF TESTING DEFECTIVE SOLDERING例文帳に追加

回路基板およびその半田付け不良検査方法 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING PROCEDURE OF EXECUTION IN SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置の実行手順制御方式 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板検査方法および回路基板検査装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING OF SIGNAL SECURITY SYSTEM例文帳に追加

信号保安システムの試験装置および試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ACCELERATED CORROSION OF STEEL MATERIAL IN ATMOSPHERIC ENVIRONMENT例文帳に追加

鋼材の大気環境促進腐食試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND POWDER FOR CONFIRMING WATER-WETTING例文帳に追加

被水確認試験方法及び被水確認用粉末 - 特許庁

TESTING METHOD FOR INFORMATION PROCESSOR AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

情報処理装置の試験方法及び記録媒体 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEALING OF CAN例文帳に追加

缶の気密性試験装置及び気密性試験方法 - 特許庁

WIND TUNNEL TESTING METHOD FOR PREDICTING SEA-SALT PARTICLE SCATTER AMOUNT例文帳に追加

海塩粒子飛散量予測風洞実験方法 - 特許庁

CIRCUIT CONSTITUTION AND METHOD FOR TESTING MICROPROCESSOR例文帳に追加

マイクロプロセサをテストするための回路構成とテスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR CAPACITOR IN INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD THEREOF例文帳に追加

集積回路のコンデンサの試験装置および方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子機器用試験装置および電子機器試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING FOLDING-RESISTANT STRENGTH OF CASTING SAND例文帳に追加

鋳砂の抗折強度試験方法及びその装置 - 特許庁

ULTRASONIC ARRAY PROBE AND ULTRASONIC TESTING METHOD例文帳に追加

超音波アレイ探触子及び超音波探傷方法 - 特許庁

IMPACT RESPONSE TESTER AND METHOD FOR IMPACT RESPONSE TESTING例文帳に追加

打撃応答試験機および打撃応答試験方法 - 特許庁

例文

METHOD FOR TESTING BONDED CONNECTION AND WIRE BONDER例文帳に追加

ボンディングした接続をテストする方法及びワイヤボンダー - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS