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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OPTICAL FIBER BLOCK例文帳に追加
光ファイバ用ブロックの検査装置及び検査方法 - 特許庁
FILM EVALUATION TESTER AND FILM EVALUATION TESTING METHOD例文帳に追加
皮膜評価試験機及び皮膜評価試験方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING DIGITAL FILTER例文帳に追加
デジタルフィルタのテスト装置及びデジタルフィルタのテスト方法 - 特許庁
PATTERN GENERATOR, PATTERN GENERATION METHOD AND TESTING APPARATUS例文帳に追加
パターン発生器、パターン発生方法及び試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE AND METHOD FOR ELECTRONIC CONTROL SYSTEM例文帳に追加
電子制御システムの試験装置及び試験方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING HIGH FREQUENCY MODULE例文帳に追加
高周波用モジュールのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING OPTICAL FIBER COMMUNICATION LINE例文帳に追加
光ファイバ通信線路の試験システムおよび方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MAGNETIC RECORDING MEDIUM AND METHOD FOR PRODUCTION OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM INCLUDING TESTING STEP例文帳に追加
磁気記録媒体の検査方法、およびその検査工程を有する磁気記録媒体の製造方法 - 特許庁
TESTING TIP, AND METHOD FOR EVALUATING CONNECTION RESISTANCE VALUE例文帳に追加
試験用チップおよび接続抵抗値評価方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING PHYSIOLOGICAL FUNCTION AND TESTING FOOD例文帳に追加
生理機能の計測方法及び試験用食品 - 特許庁
PUSH-IN TESTING MACHINE, INDENTOR SHAFT, AND DISPLACEMENT MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
押込み試験機、圧子軸及び変位測定方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING MAGNETIC HEAD SERVICE LIFE例文帳に追加
磁気ヘッドの寿命を試験する方法及び装置 - 特許庁
CURRENT MEASURING APPARATUS, TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加
電流測定装置、試験装置、及び試験方法 - 特許庁
LOOP TESTING METHOD OF MEDIA CONVERTER, AND TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加
メディアコンバータのループ試験方法、および伝送システム - 特許庁
ELECTROMAGNETIC RELAY TESTER AND ELECTROMAGNETIC RELAY TESTING METHOD例文帳に追加
電磁リレ—試験装置および電磁リレ—の試験方法 - 特許庁
QUADRUPOLAR NUCLEAR EQUIPMENT FOR TESTING SAMPLES AND ITS METHOD例文帳に追加
サンプルをテストする四極子核装置および方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体装置および半導体装置のテスト方法 - 特許庁
FRICTIONAL ABRASION TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
摩擦摩耗試験装置および摩擦摩耗試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND METHOD OF PREVENTIVE MAINTENANCE THEREFOR例文帳に追加
半導体試験装置及びその予防保守方法 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING AND TESTING RELIABILITY, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
信頼性評価試験方法および記録媒体 - 特許庁
TESTING DEVICE AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト装置および方法 - 特許庁
DUPLEX BUS CONFIGURATION SYSTEM AND COMMUNICATION/TESTING METHOD例文帳に追加
二重化バス構成システムおよび通信・試験方法 - 特許庁
PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD例文帳に追加
プローブ試験方法と半導体ウェハ及びプローブカード - 特許庁
SEMICONDUCTOR TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験方法および半導体試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体デバイス及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING CONTACT FAILURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TO WHICH THE SAME TESTING METHOD IS APPLIED例文帳に追加
半導体装置のコンタクト不良検査方法及びその検査方法が適用される半導体装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の試験方法および装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE AND ITS CALIBRATION METHOD例文帳に追加
半導体試験装置およびそのキャリブレーション方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体記憶装置および半導体試験方法 - 特許庁
WAFER PROBER DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
ウエハプローバ装置及び半導体ウエハのテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS AC SPECIFICATION TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置及びそのACスペック検査方法 - 特許庁
USB CONTROLLER AND METHOD OF TESTING USB CONTROLLER例文帳に追加
USBコントローラ及びUSBコントローラ試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING TOOL AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体回路検査治具及びその製造方法 - 特許庁
a method of inference that employs the use and testing of hypothesis 例文帳に追加
仮説を検証しながら行う推論方式 - EDR日英対訳辞書
a method of testing the effect of an advertisement 例文帳に追加
フォーカスグループ法という,広告効果の事前テスト法 - EDR日英対訳辞書
DATA DAMAGE TESTING METHOD FOR HIERARCHICAL STORAGE SYSTEM例文帳に追加
階層的記憶システム用のデータ破損試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CHARACTERISTIC OF MAGNETIC HEAD例文帳に追加
磁気ヘッドの特性試験方法および試験装置 - 特許庁
METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加
磁気記録媒体の検査装置および検査方法 - 特許庁
THIN-FILM TRANSISTOR ARRAY SUBSTRATE AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加
薄膜トランジスタアレイ基板及びその検査方法 - 特許庁
BURN-IN TESTING DEVICE AND METHOD, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
バーンイン試験装置、試験方法及び記憶媒体 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING FLASH MEMORY例文帳に追加
フラッシュメモリのテスト装置及びフラッシュメモリのテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SOLID-STATE IMAGE SENSOR AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
固体撮像素子の検査方法及びその装置 - 特許庁
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