「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(37ページ目) - Weblio英語例文検索

COMPACT APPARATUS AND METHOD FOR TESTING MATERIAL例文帳に追加

小型材料試験装置および材料試験方法 - 特許庁

IMAGE FORMING DEVICE AND CUSTOMIZATION PROGRAM TESTING METHOD例文帳に追加

画像形成装置およびカスタマイズプログラム試験方法 - 特許庁

FUEL CELL POWER GENERATION SYSTEM AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

燃料電池発電システムおよびその試験方法 - 特許庁

SMOKE SENSOR AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

加煙感知器および加煙感知器の試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING HYGROSCOPIC AND EXOTHERMIC PROPERTY例文帳に追加

吸湿発熱性試験方法および試験装置 - 特許庁

RELIABILITY TESTING DEVICE AND RELIABILITY TEST METHOD例文帳に追加

信頼性試験装置および信頼性試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DURABILITY OF INSULATION- COATING FILM例文帳に追加

絶縁皮膜の耐久試験方法および装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR LEAK TESTING, AND HEAT SENSITIVE MEMBER例文帳に追加

リークテスト装置及び方法並びに感温部材 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING HIGH FREQUENCY MODULE例文帳に追加

高周波用モジュールのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING DIGITAL FILTER例文帳に追加

デジタルフィルタのテスト装置及びデジタルフィルタのテスト方法 - 特許庁

WETTING APPARATUS, AND METHOD FOR TESTING STRENGTH OF WETTED PAPER例文帳に追加

湿潤用器具及び湿潤紙力試験方法 - 特許庁

FRICTIONAL ABRASION TESTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

摩擦摩耗試験装置および摩擦摩耗試験方法 - 特許庁

FILM EVALUATION TESTER AND FILM EVALUATION TESTING METHOD例文帳に追加

皮膜評価試験機及び皮膜評価試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING MEMORY AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

メモリ試験方法及び装置並びに記憶媒体 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OPTICAL FIBER BLOCK例文帳に追加

光ファイバ用ブロックの検査装置及び検査方法 - 特許庁

PATTERN GENERATOR, PATTERN GENERATION METHOD AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

パターン発生器、パターン発生方法及び試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR ELECTRONIC CONTROL SYSTEM例文帳に追加

電子制御システムの試験装置及び試験方法 - 特許庁

INTERFACE DEVICE AND METHOD FOR TESTING FREQUENCY FLUCTUATION例文帳に追加

インタフェース装置及び周波数変動試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD FOR SAME例文帳に追加

半導体装置および半導体装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING INTERFACE例文帳に追加

境界面検査方法及び境界面検査装置 - 特許庁

VIRTUAL USB DEVICE AND METHOD FOR TESTING PERSONAL COMPUTER例文帳に追加

仮想ＵＳＢデバイスとパーソナルコンピュータのテスト方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING ACTIVE MATRIX SUBSTRATE AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の検査方法およびその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法および装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE AND ITS CALIBRATION METHOD例文帳に追加

半導体試験装置およびそのキャリブレーション方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置および方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体デバイス及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CONTACT FAILURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TO WHICH THE SAME TESTING METHOD IS APPLIED例文帳に追加

半導体装置のコンタクト不良検査方法及びその検査方法が適用される半導体装置 - 特許庁

PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブ試験方法と半導体ウェハ及びプローブカード - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験方法および半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体記憶装置および半導体試験方法 - 特許庁

WAFER PROBER DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

ウエハプローバ装置及び半導体ウエハのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS AC SPECIFICATION TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置及びそのＡＣスペック検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING TOOL AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体回路検査治具及びその製造方法 - 特許庁

USB CONTROLLER AND METHOD OF TESTING USB CONTROLLER例文帳に追加

ＵＳＢコントローラ及びＵＳＢコントローラ試験方法 - 特許庁

a method of inference that employs the use and testing of hypothesis 例文帳に追加

仮説を検証しながら行う推論方式 - EDR日英対訳辞書

a method of testing the effect of an advertisement 例文帳に追加

フォーカスグループ法という,広告効果の事前テスト法 - EDR日英対訳辞書

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CHARACTERISTIC OF MAGNETIC HEAD例文帳に追加

磁気ヘッドの特性試験方法および試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DROPLET EJECTING HEAD例文帳に追加

液滴吐出ヘッドの試験方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR REMOTE AND AUTOMATIC TESTING OF PRIVATE LINE例文帳に追加

専用線遠隔自動試験方法及び装置 - 特許庁

DATA DAMAGE TESTING METHOD FOR HIERARCHICAL STORAGE SYSTEM例文帳に追加

階層的記憶システム用のデータ破損試験方法 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加

磁気記録媒体の検査装置および検査方法 - 特許庁

THIN-FILM TRANSISTOR ARRAY SUBSTRATE AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加

薄膜トランジスタアレイ基板及びその検査方法 - 特許庁

BURN-IN TESTING DEVICE AND METHOD, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

バーンイン試験装置、試験方法及び記憶媒体 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING FLASH MEMORY例文帳に追加

フラッシュメモリのテスト装置及びフラッシュメモリのテスト方法 - 特許庁