「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(59ページ目) - Weblio英語例文検索

CONTROL-SYSTEM TESTING DEVICE AND METHOD FOR RENEWING FIELD EQUIPMENT USING THE SAME例文帳に追加

制御系試験装置、及び、これを用いたフィールド機器の更新方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING MEMORY FOR BINARIZATION CIRCUIT IN OCR DEVICE例文帳に追加

ＯＣＲ装置における２値化回路用メモリのテスト方法及び装置 - 特許庁

FATIGUE-TESTING APPARATUS AND METHOD OF RING FOR ENDLESS METAL BELT例文帳に追加

無端金属ベルト用リングの疲労試験装置および疲労試験方法 - 特許庁

To provide a method for testing the operation of an electronic unit by simulation.例文帳に追加

電子ユニットの動作をシミュレーションで試験する方法を提供する。 - 特許庁

TAB TAPE AND ELECTRIC-CHARACTERISTIC MEASURING AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

ＴＡＢテープおよびＴＡＢテープの電気的特性測定試験方法 - 特許庁

IN-PLANE SHEARING TESTING METHOD FOR RUBBERY ELASTIC LAMINATE AND IN-PLANE SHEARING TEST EQUIPMENT例文帳に追加

ゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR REDUNDANCY CALCULATION, AND MEMORY TESTING DEVICE例文帳に追加

リダンダンシ演算装置及びリダンダンシ演算方法並びにメモリ試験装置 - 特許庁

APPARATUS, SYSTEM AND METHOD FOR TESTING LIGHT BEAM PATH例文帳に追加

光線路試験装置、光線路試験システム及び光線路試験方法 - 特許庁

IN-SERVICE TESTING METHOD AND DETERMINATION DEVICE FOR DETERMINING EXISTENCE/ABSENCE OF TEST LIGHT CUTOFF FILTER例文帳に追加

インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 - 特許庁

To provide a contact structure and method of burn-in testing after packaging.例文帳に追加

実装後のバーンイン試験の接触構造及び方法を提供する。 - 特許庁

COMPUTER SYSTEM AND PERIPHERAL DEVICE AND METHOD FOR TESTING PERIPHERAL DEVICE例文帳に追加

コンピュータシステムおよび周辺装置並びに周辺装置の試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR CALIBRATING AUTOMATIC CIRCUIT TESTING SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

自動回路試験システムを較正するシステム、方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁

ATS GROUND EQUIPMENT AND METHOD FOR TESTING PERFORMANCE OF ATS GROUND EQUIPMENT例文帳に追加

ＡＴＳ地上装置、及びＡＴＳ地上装置の性能試験方法 - 特許庁

ELECTRODE REACTION CHARACTERISTIC TESTING DEVICE AND ELECTRODE REACTION CHARACTERISTIC TEST METHOD例文帳に追加

電極反応特性試験装置及び電極反応特性試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR SHIELDING ELECTROMAGNETIC INTERFERENCE IN AUTOMATIC TESTING SYSTEM例文帳に追加

自動試験システム内において電磁干渉シールドする方法及び装置 - 特許庁

OSCILLOSCOPE TESTING METHOD, OSCILLOSCOPE TEST SYSTEM, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

オシロ装置試験方法、オシロ装置試験システム、プログラム、および記録媒体 - 特許庁

METHOD OF TESTING OXIDATION RESISTANCE LIFE OF FIBER GLASS SEPARATOR FOR LEAD STORAGE BATTERY例文帳に追加

鉛蓄電池用ガラス繊維セパレータの耐酸化寿命試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SENSITVITY OF VITAMIN D PITHECOID TO ANTITUMOR ACTIVITY例文帳に追加

ビタミンＤ類縁体の抗腫瘍活性に対する感受性検査法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置及び半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING CROSSMATCH TESTING CONTAINER WITH HUMAN ERYTHROCYTE SOLID-PHASED例文帳に追加

ヒト赤血球が固相化されたクロスマッチ試験用容器の製造方法 - 特許庁

TRANSFORMATION PLASTIC COEFFICIENT TESTING DEVICE AND TRANSFORMATION PLASTIC COEFFICIENT IDENTIFICATION METHOD例文帳に追加

変態塑性係数試験装置および変態塑性係数同定方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験回路、半導体記憶装置および半導体試験方法 - 特許庁

NOISE-WAVEFORM-ACCOMPANIED DRIVER INPUT GENERATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のノイズ波形を伴うドライバ入力発生方法 - 特許庁

METHOD FOR PREPROCESSING SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験用プログラムの前処理方法および半導体試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の検査方法および半導体集積回路 - 特許庁

PROCESS TREATING DEVICE FOR WIRE HARNESS, AND CONDUCTION TESTING METHOD OF WIRE HARNESS例文帳に追加

ワイヤーハーネス用工程処理装置及びワイヤーハーネスの導通検査方法 - 特許庁

TACKINESS TESTING DEVICE FOR PREPREG AND TACKINESS TEST METHOD OF PREPREG例文帳に追加

プリプレグの粘着性試験装置およびプリプレグの粘着性試験方法 - 特許庁

This testing method utilizes an acoustic emission(AE) phenomenon.例文帳に追加

この試験法はアコースティック・エミッション（ＡＥ）現象を利用するものである。 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TESTING METHOD OF HEAT EXCHANGER HAVING OIL COOLER BUILT IN RADIATOR TANK例文帳に追加

ラジエータタンク内にオイルクーラを内蔵した熱交換器の気密試験方法 - 特許庁

POWER LINE ARTIFICIAL GROUND FAULT TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

配電線人工地絡試験装置および配電線人工地絡試験方法 - 特許庁

ONE-CHIP MICROCOMPUTER, AND OVERVOLTAGE IMPRESSION TESTING METHOD FOR ONE-CHIP MICROCOMPUTER例文帳に追加

ワンチップマイクロコンピュータ及びワンチップマイクロコンピュータの過電圧印加試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING SIGNAL, RECORDING MEDIUM, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

信号測定装置、信号測定方法、記録媒体、および試験装置 - 特許庁

EQUIPMENT AND METHOD FOR TESTING WIPING PERFORMANCE OF WIPER例文帳に追加

ワイパの払拭性能試験装置およびワイパの払拭性能試験方法 - 特許庁

INSPECTION TOOL AND METHOD FOR TESTING CHARGED STATE FOR LENS例文帳に追加

レンズ用帯電状態検査具及びレンズの帯電状態の検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SHAPE FOR DIGITAL IMAGE READER例文帳に追加

デジタル画像読取装置用形状検査装置および形状検査方法 - 特許庁

To provide a testing device for a D/A converter shortening a required time for a test even when the bits of the D/A converter are increased, and also to provide a testing method for the testing device.例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータが高ビット化しても、試験の所要時間を短縮することができるＤ／Ａコンバータの試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic head slider testing device and a magnetic head slider testing method capable of efficiently and highly accurately positioning a row bar on a testing stage by a simple structure.例文帳に追加

効率よく、簡単な機構でかつ高い精度でロウバーを検査ステージに位置決めできる磁気ヘッドスライダ検査装置および磁気ヘッドスライダ検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a tire testing device and a tire testing method for testing uniformity upon generating a flat spot to a tire under environment close to that of an actual vehicle.例文帳に追加

実車に近い環境でフラットスポットをタイヤに生成した上でユニフォーミティの試験を行うことができるタイヤ試験装置およびタイヤ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microbiological testing chip, testing instrument and testing method to prevent the generation of stray light caused by the reflection of excitation light, thereby preventing the decrease in the received light quantity of fluorescent light.例文帳に追加

励起光の反射による迷光の発生を回避し、蛍光量の受光量の減少を回避する微生物検査チップ、検査装置、および検査方法。 - 特許庁

To provide an explosibility testing method for concrete of high strength capable of evaluating easily explosibility in a testing object of large actual scale, using a simple testing object.例文帳に追加

簡易な試験体を用いて、実大規模の試験体における爆裂性を容易に評価することが可能な、高強度コンクリートの爆裂性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing system and a testing method, capable of testing a plurality of semiconductor devices stably in parallel, without causing the circuit size of the semiconductor devices to increase.例文帳に追加

半導体装置の回路規模を増大させることなく、複数の半導体装置を並行して安定に試験することが可能なテスト装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE CONSTITUTED TESTABLE USING THE METHOD, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY, AND THE SEMICONDUCTOR MEMORY CONSTITUTED TESTABLE USING THE METHOD例文帳に追加

半導体装置のテスト方法及び同方法を用いてテスト可能に構成した半導体装置、並びに半導体メモリのテスト方法及び同方法を用いてテスト可能に構成した半導体メモリ - 特許庁

CURRENT DETECTING METHOD FOR INVERTER, ITS CURRENT DETECTING CIRCUIT, ITS ABNORMALITY DETECTING METHOD, ABNORMALITY DETECTING CIRCUIT, DISPLAY DEVICE, INFORMATION PROCESSOR, TESTING METHOD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

インバータの電流検出方法、その電流検出回路、その異常検出方法、その異常検出回路、表示装置、情報処理装置、試験方法及び試験装置 - 特許庁

To provide a method of testing an A-D conversion circuit for testing a high-resolution (multi-bit) A-D conversion circuit in a short time and at low cost, and the A-D conversion circuit suitable for implementing the testing method.例文帳に追加

高分解能（多ビット）Ａ／Ｄ変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するＡ／Ｄ変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したＡ／Ｄ変換回路の提供。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ORAL CAVITY SANITARY STATE例文帳に追加

口腔内衛生状態検査装置及び口腔内衛生状態検査方法 - 特許庁