「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(62ページ目) - Weblio英語例文検索

The method(200) includes a step(202) for deciding, if a first testing device or a second testing device is connected to the system.例文帳に追加

本方法(200)は、第１の試験装置または第２の試験装置がシステムに接続されているか否かを判定するステップ(202)を含む。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING AS WELL AS COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM STORING SEMICONDUCTOR TESTING AND PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

半導体テスト装置、半導体テスト方法、および半導体テスト処理プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING DEVICE, SOFTWARE OPERATION TESTING METHOD, SOFTWARE OPERATION TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM TO WHICH THE PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加

画像処理装置、情報処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEBUGGING PROGRAM FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND PROGRAM FOR DEBUGGING PROGRAM FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路試験用プログラムのデバッグ方法及び装置並びに半導体集積回路試験用プログラムのデバッグプログラム - 特許庁

INFORMATION-PROCESSING DEVICE, IMAGE-PROCESSING DEVICE, METHOD FOR TESTING SOFTWARE OPERATION, PROGRAM FOR TESTING SOFTWARE OPERATION, AND RECORDING MEDIUM WITH THE RECORDED PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、画像処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a testing device and testing method for efficiently executing the operation test of codec software.例文帳に追加

本発明は、コーデックソフトウェアの動作試験を効率的に実行可能な試験装置及び試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a cycle life testing method for a lithium secondary battery which can shorten duration of existing cycle life testing.例文帳に追加

既存のサイクル寿命検査の期間を短縮することができるリチウム二次電池のサイクル寿命検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method optimum for testing a macro block including a physical layer circuit for data communication.例文帳に追加

データ通信用の物理層回路を含むマクロブロックのテストに最適なテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method for an impervious sheet without the necessity for providing an electrode in the bottom side in testing the impervious sheet.例文帳に追加

遮水シートの検査に際しその下側に電極を設置することの不要な遮水シート検査方式を提供する。 - 特許庁

OPTIMIZATION METHOD AND PROGRAM FOR OPTIMIZING TIMING SET OF SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE, AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験装置のタイミングセットの最適化方法、半導体試験装置のタイミングセットの最適化プログラム、半導体試験装置 - 特許庁

To provide a testing method for semiconductor device suitable and more efficient for testing a mass-produced semiconductor device.例文帳に追加

大量生産された半導体装置を試験するときに好適な、より効率的な半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

ELECTRIC CONTACT DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING SOCKET USING IT, SEMICONDUCTOR MODULE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加

電気的接触装置とそれを用いた半導体デバイスのテストソケットおよび半導体モジュールならびに半導体デバイスのテスト方法 - 特許庁

To provide an inexpensive material testing method resistant to outside vibration and capable of grasping the testing force at the initial stage of destruction in accurate timing.例文帳に追加

安価で外部振動に強く、破壊初期の試験力を正確なタイミングで捉えられる材料試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an accelerated weathering resistant testing method whose correlativity with respect to an exposure to weather is high and whose testing time is shortened.例文帳に追加

自然曝露との相関性が高く、試験時間を大幅に短縮することができる促進耐候性試験方法を提供する。 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS METHOD AND METHOD FOR ADJUSTING TIMING AND METHOD FOR ADJUSTING TEST VECTOR ADDRESS例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置とその試験方法、タイミング調整方法、テストベクタアドレス調整方法 - 特許庁

DIFFRACTION GRATING PATCH STRUCTURE, LITHOGRAPHIC APPARATUS, METHOD OF TESTING, METHOD OF MANUFACTURING DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURED BY THE METHOD例文帳に追加

回折格子パッチ構造、リソグラフィ装置、試験方法、デバイス製造方法及び該方法によって製造したデバイス - 特許庁

METHOD FOR AMPLIFYING ATP IN CHAINLIKE MANNER AND METHOD FOR TESTING TRACE ATP USING THE AMPLIFICATION METHOD例文帳に追加

ＡＴＰを連鎖的に増幅させる方法及び該方法を利用して極微量のＡＴＰを検査する方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING WEATHERABILITY OF COATING FILM AND METHOD, AND APPARATUS FOR TESTING ACCELERATED DETERIORATION OF THE COATING FILM例文帳に追加

塗膜の耐候性評価方法及び促進劣化試験方法並びに促進劣化試験装置 - 特許庁

To provide a method for testing semiconductor devices, the method capable of measuring waveform without requiring a solder-connection.例文帳に追加

半田接続することなく波形測定が可能な半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TESTING METHOD FOR ELECTRONIC PART AND SYSTEM THEREFOR, AND ELECTRONIC PART MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電子部品の気密性の検査方法とこれに用いる装置、及び電子部品の製造方法 - 特許庁

SCREW CHARACTERISTIC TESTING DEVICE AND EXPERIENCE LEARNING METHOD, AND PRACTICAL SKILL EDUCATIONAL METHOD USING THE SAME例文帳に追加

ねじの特性試験装置とその装置を用いた体験学習方法及び実技教育方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR GENERATING TEST PATTERN AND ITS DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法と試験パタン生成方法及び装置並びにプログラム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CENTERING DISK ON SPINDLE, METHOD OF TESTING WITH SPINSTAND, AND SPINSTAND例文帳に追加

スピンドル上のディスクのセンタリング方法及び装置、スピンスタンドを用いた試験方法、並びに、スピンスタンド - 特許庁

METHOD OF TESTING OXYGEN-FREE COPPER WIRE ROD FOR MAGNET WIRE AND METHOD OF MANUFACTURING OXYGEN-FREE COPPER MAGNET WIRE例文帳に追加

マグネットワイヤ用無酸素銅線材の試験方法及び無酸素銅マグネットワイヤの製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AMPLITUDE OF PERIODIC SIGNAL AND METHOD AND DEVICE FOR TESTING MAGNETIC HEAD例文帳に追加

周期信号の振幅測定方法および装置並びに磁気ヘッドの試験方法および装置 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR INSULATING OIL, TEST METHOD OF INSULATING OIL, AND MAINTENANCE CONTROL METHOD OF TRANSFORMER例文帳に追加

絶縁油の試験装置及び絶縁油の試験方法ならびに変圧器の保守管理方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

半導体装置の試験装置、半導体装置の試験方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER, TIMING GENERATOR, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR GENERATING TIMING例文帳に追加

半導体デバイス試験装置、タイミング発生器、半導体デバイス試験方法及びタイミング発生方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR EQUIPMENT, DEVICE FORMATION SUBSTRATE, WIRING CONNECTION TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、デバイス形成基板、配線接続試験方法、および半導体装置の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE OR MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置または半導体装置の検査方法または半導体装置の製造方法 - 特許庁

WATER-FILLING TESTING METHOD OF LNG TANK, ITS SYSTEM, LNG TANK AND ITS CONSTRUCTION METHOD例文帳に追加

ＬＮＧタンクの水張り試験方法およびそのシステム、並びにＬＮＧタンクおよびその建造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WAFER, METHOD OF TESTING IT AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT COMPONENTS例文帳に追加

半導体集積回路ウェハ、その試験方法および半導体集積回路部品の製造方法 - 特許庁

The method is the tire crack testing method for performing the crack test for a pneumatic tire 2 by using a drum tester.例文帳に追加

ドラム試験機を用いて空気入りタイヤ２のクラック試験を行うタイヤクラック試験方法である。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ANCHOR BODY, METHOD FOR ADJUSTING, AND SUPPORTING TABLE AND LOAD CELL USED IN THESE METHODS例文帳に追加

アンカー体の試験方法及び調整方法並びにそれら方法に用いる支持台及びロードセル - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR FAULT TEST AND RECORDING MEDIUM WHERE FAULT TESTING METHOD IS RECORDED例文帳に追加

障害試験装置及び障害試験方法及び障害試験方法を記録した記録媒体 - 特許庁

To provide an immunity testing method and immunity testing device capable of realizing evaluation on the immunity characteristics in an arbitrary direction of a specimen with enough reliability, and a rotary magnetic field generating device used in the testing method and testing device.例文帳に追加

十分な信頼度で試供体の任意方向におけるイミュニティ特性の評価を実現することのできる、新規なイミュニティ試験方法及びイミュニティ試験装置、並びにこれらの試験方法及び試験装置に用いる回転電磁界発生装置を提供する。 - 特許庁

In a method for testing skin sensitivity of the testing substance, after mixing peptide containing cysteine in a molecular weight of not higher than 50,000 as a monomer with the testing substance, presence or absence of a coupled substance of the peptide and the testing substance is measured.例文帳に追加

モノマーとしての分子量が５万以下のシステイン含有ペプチドと被験物質とを混合した後、前記ペプチドと被験物質との結合物の有無を測定することを特徴とする被験物質の皮膚感作性の検定方法。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing a margin concerning a read operation in a short testing period of time even when a keeper circuit is connected to a bit line, and also to provide a testing method thereof.例文帳に追加

ビット線にキーパー回路を接続しても、読み出し動作に関するマージンを短いテスト時間で検査することのできる半導体記憶装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a data sampling method in a material testing machine and the material testing device continuously grasping the material testing conditions in a pretreatment process and in a main process.例文帳に追加

材料試験の前処理工程および本工程における状態を継続して把握することができる材料試験装置におけるデータサンプル方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device to be tested, a testing system, a testing method, and a program capable of testing a nonvolatile memory, an input part and a display part even though they are defective.例文帳に追加

本発明は、不揮発メモリ、入力部、表示部に不良があってもテストを行える試験対象装置、試験システム、テスト方法及びプログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a substrate testing apparatus and a substrate testing method for testing whether the mesa direction is adequate direction to the standard linear line within a short period of time with non-destructive system.例文帳に追加

基準直線に対してメサ方向が適切な方向であるか否かを短時間且つ非破壊で検査することができる基板検査装置及び基板検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a piping leak testing apparatus and a piping leak testing method for testing leaks without having to halt apparatuses regardless of the degree of vacuum in vacuum piping.例文帳に追加

真空配管内の真空度に関わらず、装置を停止させることなく漏洩検査を行うことができる配管漏洩検査装置及び配管の漏洩検査方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEALED CAN, AND CASE PACKED WITH SEALED CAN例文帳に追加

密閉缶の検査方法及び検査装置並びに密閉缶を梱包したケース - 特許庁

ESTIMATION METHOD OF POWDER FLOW CHARACTERISTICS AND TESTING MACHINE OF POWDER FLOW CHARACTERISTICS例文帳に追加

粉体流動特性の推定方法及び粉体流動特性試験装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, METHOD FOR TESTING THE SAME AND LIQUID CRYSTAL DRIVING DEVICE例文帳に追加

集積回路の試験方法ならびに集積回路および液晶駆動装置 - 特許庁