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「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(65ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Testing Methodの意味・解説 > Testing Methodに関連した英語例文

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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5393



例文

To provide a device and method for testing immunity which reduces omission of fault detection at the time of testing EMC of the immunity.例文帳に追加

EMCイミュニティ試験時の不具合検出漏れを減少させ、且つ省力化が可能なイミュニティ試験装置及び試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a delayed fault testing circuit and a method for the same for testing the delayed fault without decreasing detection rate of the delayed fault.例文帳に追加

本発明は、遅延故障検出率を低下させずに遅延故障試験する遅延故障試験回路及び方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR HOLDING LIVING BODY, METHOD FOR TESTING LIVING BODY, METHOD FOR GROWING LIVING BODY, SHEET FOR HOLDING LIVING BODY, AND APPARATUS FOR PROCESSING LIVING BODY例文帳に追加

生体の保持方法、生体の試験方法、生体の成育方法、生体の保持用シートおよび生体の処理装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MODELING OPERATIONAL SPEED OF WORKING MACHINE, METHOD AND DEVICE FOR OPTIMIZING OPERATIONAL ROUTE, AND METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPERATIONAL SPEED例文帳に追加

加工機の動作速度モデル化方法、装置、動作経路最適化方法、装置、及び、動作速度検定方法、装置 - 特許庁

例文

AE MEASUREMENT BODY, FUNCTION TESTING METHOD FOR AE MEASUREMENT BODY, AE MEASURING METHOD, AND ACTIVE NATURAL GROUND STABILIZATION EVALUATING METHOD例文帳に追加

AE計測体、AE計測体の機能点検方法、AE計測方法、及び能動的地山安定評価方法 - 特許庁


例文

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MOUNTING STRUCTURE, ITS MOUNTING METHOD, ITS TESTING METHOD, ITS QUALITY DISPLAYING METHOD, ITS TRANSPORTING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、その実装構造、その実装方法、その試験方法、その品質表示方法、その運搬方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING FLUORESCENT BEAD OR FLUORESCENT DOT ARRAY, AND DNA TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

蛍光ビーズ又は蛍光ドットアレーの検出方法及び装置並びにDNA検査方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING FIRE RESISTANCE OF LINING SEGMENT, AND METHOD OF DESIGNING LINING SEGMENT例文帳に追加

覆工セグメントの耐火性試験方法及び耐火性試験装置並びに覆工セグメントの設計方法 - 特許庁

ECCENTRICITY ERROR MEASURING METHOD, COMPONENT CARRYING METHOD, COMPONENT CARRYING APPARATUS, SURFACE MOUNT MACHINE, AND COMPONENT TESTING APPARATUS例文帳に追加

偏心誤差測定方法、部品搬送方法、部品搬送装置、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁

例文

RESPONSE OUTPUT SIGNAL READING METHOD OF IC TO BE TESTED AND IC TESTING DEVICE USING THIS READING METHOD例文帳に追加

被試験ICの応答出力信号読取方法及びこの読取方法を用いたIC試験装置 - 特許庁

例文

QUALITY DETERMINATION METHOD OF BUTTON OF ELECTRONIC APPARATUS, METHOD FOR MANUFACTURING THE ELECTRONIC APPARATUS, AND ELECTRONIC APPARATUS BUTTON TESTING DEVICE例文帳に追加

電子機器のボタンの良否判定方法、電子機器の製造方法及び電子機器ボタン試験装置 - 特許庁

GOVERNOR ROPE LIFTING LEVER, GOVERNOR ROPE LIFTING TOOL, METHOD FOR LIFTING, AND DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELEVATOR GOVERNOR例文帳に追加

ガバナロープ引上げレバー、ガバナロープ引上げ冶具、引上げ方法、エレベータ調速機試験装置及び試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING NETWORK EQUIPMENT, AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE THE SAME METHOD例文帳に追加

ネットワーク機器試験装置、ネットワーク機器試験方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラム - 特許庁

PRETREATMENT METHOD IN PERFORMING EVALUATION TEST FOR REGENERATED AGGREGATE AND TESTING METHOD FOR REGENERATED AGGREGATE例文帳に追加

再生骨材に対する評価試験を行う際の前処理方法、および再生骨材の試験方法 - 特許庁

TEST CONDITION DETERMINATION METHOD OF ADHESIVE CAPACITY TO TITANIUM TYPE HARD COAT LENS BASE MATERIAL, AND TESTING METHOD例文帳に追加

チタン系ハードコ−トのレンズ基材との密着性能の試験条件決定方法及び試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PROTECTION AGAINST DUST AND RESISTANCE TO WATER OF BODY STRUCTURE, AND POWDER FOR TEST PROTECTION AGAINST DUST USED FOR THE METHOD例文帳に追加

可動構体の防塵・防水試験方法およびその方法に用いられる防塵試験用粉体 - 特許庁

METHOD OF MANAGING MANUFACTURE HISTORY FOR SOLID-STATE IMAGING DEVICE AND DEVICE THEREFOR, AND METHOD FOR TESTING SOLID-STATE IMAGING DEVICE例文帳に追加

固体撮像素子の製造履歴管理方法及びその装置並びに固体撮像素子の試験方法 - 特許庁

To provide a method for testing a squamous cell, and to provide a method for screening a medicine for treating the squamous cell cancer.例文帳に追加

扁平上皮細胞の検査方法、扁平上皮癌の治療薬のスクリーニング方法の提供。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING INSULATION IN MANUFACTURING PROCESS OF COIL FOR ROTARY ELECTRICAL MACHINE, AND METHOD OF MANUFACTURING COIL FOR ROTARY ELECTRICAL MACHINE例文帳に追加

回転電機巻線の製造工程内絶縁試験方法及び回転電機巻線の製造方法 - 特許庁

PATTERN FOR ALIGNING, DISPLAY DEVICE, ASSEMBLY METHOD FOR DISPLAY DEVICE, AND TESTING METHOD OF ALIGNING OF DISPLAY DEVICE例文帳に追加

位置合わせ用パターン、表示デバイス、表示デバイスの組立て方法、表示デバイスの位置合わせ検査方法 - 特許庁

ELASTIC WAVE PROPAGATION VELOCITY MEASURING AND OPERATING METHOD AND NONDESTRUCTIVE COMPRESSIVE STRENGTH TESTING DEVICE USING THE METHOD例文帳に追加

弾性波伝播速度測定演算方法及び該方法を用いた非破壊圧縮強度試験装置 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING PARASITE AND PARASITE CONTROL APPARATUS USED THEREFOR AND METHOD FOR TESTING RESISTANT STRENGTH OF FISH BODY例文帳に追加

寄生虫の駆除方法及びそれに使用する寄生虫駆除装置並びに魚体耐力試験方法 - 特許庁

SUBSTRATE, SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME, AND TESTING METHOD AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

基板、これを用いた半導体装置、半導体装置の検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING HEAT RESISTANCE OF ALIPHATIC TERMINAL DIOL AND METHOD FOR PRODUCING THERMOPLASTIC RESIN BY USING THE SAME例文帳に追加

脂肪族末端ジオールの耐熱性の試験方法およびそれを用いた熱可塑性樹脂の製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING TEMPERATURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の温度制御方法及び装置、及び半導体装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DIFFUSION CIRCUIT IN COMMUNICATION DEVICE AND COMMUNICATION DEVICE EMPLOYING THE APPARATUS AND THE METHOD例文帳に追加

通信装置における拡散回路の試験装置及びその方法並びにそれを用いた通信装置 - 特許庁

FOREIGN LANGUAGE-PRONUNCIATIONTION LEARNING AND ORAL TESTING METHOD USING AUTOMATIC PRONUNCIATION COMPARING METHOD ON INTERNET例文帳に追加

インターネット上での自動発音比較方法を用いた外国語発音学習及び口頭テスト方法 - 特許庁

COMPONENT PART AND METHOD FOR FORMING AND TESTING ELECTRO-OPTICAL DISPLAY DEVICE例文帳に追加

電気光学表示装置を形成および検査するための構成部品および方法 - 特許庁

BALANCE TESTING MACHINE AND CORRECTION WEIGHT CALCULATING/PROCESSING METHOD BY THE SAME例文帳に追加

釣合い試験機及びこの釣合い試験機による修正重りの計算処理方法 - 特許庁

To provide a method for fabricating and testing a solar cell on which diagnostic devices are formed.例文帳に追加

診断装置が形成されたソーラーセルを製造しテストする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing the power supply of a computer without using any measurement equipment.例文帳に追加

計測器を使用しないでコンピュータの電源試験を行う方法を提供する。 - 特許庁

To provide a relaxation test method, testing device and a testing tool capable of measuring stress relaxation of a material efficiently and highly accurately by a simple method.例文帳に追加

材料の応力緩和を簡便な方法で、効率よく、高精度に測定することができるリラクゼーション試験方法及び試験装置、並びに試験治具を提供すること。 - 特許庁

PROBE CARD, TESTER HAVING PROBE CARD AND A TESTING METHOD USING TESTER例文帳に追加

プローブカード、そのプローブカードを有するテスト装置及び、そのテスト装置を用いたテスト方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING COMPONENT OF COMPUTER SYSTEM BY USING VOLTAGE MARGINING例文帳に追加

電圧マージニングを使用してコンピュータシステムのコンポーネントをテストするシステムおよび方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CHECKING, TESTING OPERATION OF PHASE SHIFTER CIRCUIT AND COMMUNICATION APPARATUS例文帳に追加

位相調整回路の動作確認試験方法および装置、並びに通信装置 - 特許庁

COLOR PRIMER COMPOSITION AND METHOD FOR TESTING PRIMER LAYER FORMED BY USING THE SAME例文帳に追加

呈色プライマー組成物およびこれを用いて形成したプライマー層の検査方法 - 特許庁

LINE CALL GENERATOR FOR FUNCTION TEST OF RADIO DATA SERVICE DEVICE AND FUNCTION TESTING METHOD例文帳に追加

無線デ—タサ—ビス装置の機能試験用回線呼発生器及び機能試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING DIELECTRIC BREAKDOWN IN TRANSFORMER FOR DISCHARGE LAMP, AND BALLAST FOR DISCHARGE LAMP例文帳に追加

放電灯用変圧器の絶縁破壊試験方法および放電灯用安定器 - 特許庁

COMPONENT AND METHOD FOR FORMING AND TESTING ELECTRO-OPTICAL DISPLAY DEVICE例文帳に追加

電気光学表示装置を形成および検査するための構成部品および方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT FOR PERFORMING BURN-IN TEST OF AC STRESS AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

交流ストレスのバーンインテスト可能な集積回路及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

自己テスト機能を備える半導体装置および当該半導体装置のテスト方法 - 特許庁

To provide a transformation automation client control service testing device, and a method of the same.例文帳に追加

変電自動化クライアント制御サービス試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, AND TYPE-SWITCHING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE FOR THE DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置及び該装置における半導体デバイスの品種切替方法 - 特許庁

DATA PROCESSOR AND METHOD FOR TESTING STABILITY OF MEMORY CELL IN MEMORY DEVICE例文帳に追加

メモリ・デバイス内のメモリ・セルの安定性をテストするためのデータ処理装置および方法 - 特許庁

CMIP PROTOCOL TEST AUTOMATING DEVICE AND CMIP PROTOCOL TESTING METHOD例文帳に追加

CMIPプロトコル試験自動化装置及びそれに用いるCMIPプロトコル試験方法 - 特許庁

ON-CHIP MODULE, AND SYSTEM AND METHOD FOR TESTING INTERCONNECTION BETWEEN ON-CHIP MODULES例文帳に追加

オンチップモジュ—ルおよびオンチップモジュ—ル間の相互接続をテストするシステムおよび方法 - 特許庁

METHOD FOR FITTING SPRING ELEMENT ONTO SEMICONDUCTOR DEVICE AND FOR TESTING WAFER LEVEL例文帳に追加

半導体デバイス上へのばね要素の取り付け、及びウエハレベルのテストを行う方法 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT HANDLER AND ITS OPERATION METHOD, AND TESTING TRAY AND PUSHER例文帳に追加

電子部品ハンドリング装置およびその運用方法、ならびに試験用トレイおよびプッシャ - 特許庁

CONTROLLING METHOD AND APPARATUS FOR PROBE-TIP SANDING OF SEMICONDUCTOR-ELEMENT TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体素子テスト装置のプローブチップサンディング制御方法及びサンディング制御装置 - 特許庁

例文

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING SELF-TESTING CIRCUIT, AND METHOD FOR DIAGNOSING FAULT IN THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

自己テスト回路内蔵の半導体集積回路およびその故障診断方法 - 特許庁




  
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