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「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Testing Methodの意味・解説 > Testing Methodに関連した英語例文

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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5393



例文

WATER QUALITY TESTING DEVICE AND ITS CLEANING METHOD例文帳に追加

水質検査装置及びその洗浄方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING OIL PUMP INTEGRATED WITH ENGINE BALANCER例文帳に追加

エンジンバランサ一体式オイルポンプの試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路を試験する装置および方法 - 特許庁

DNA TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

DNA検査方法及びDNA検査装置 - 特許庁

例文

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリ試験装置及び試験方法 - 特許庁


例文

METHOD FOR TESTING GADOLINIA-ADDED URANIUM DIOXIDE PELLET例文帳に追加

ガドリニア添加二酸化ウランペレットの試験方法 - 特許庁

JUNCTION PART TESTING METHOD IN WATER SEALING SHEET例文帳に追加

遮水シートにおける接合部試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING PIXEL例文帳に追加

ピクセルの検査方法、及び、ピクセルの検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体装置および半導体試験方法 - 特許庁

例文

METHOD OF TESTING CIRCUIT IN ADSL SYSTEM例文帳に追加

ADSLシステムにおける回線試験方式 - 特許庁

例文

TEST CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テスト回路および集積回路のテスト方法 - 特許庁

CONNECTOR, AND METHOD OF TESTING CONNECTOR JOINT例文帳に追加

コネクタ及び該コネクタの接続部の検査方法 - 特許庁

TIRE CURBSTONE RUN-OVER TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

タイヤ縁石乗り越し試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING FUEL-CLADDING TUBE例文帳に追加

燃料被覆管の試験方法および装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND METHOD FOR FILM THICKNESS UNEVENNESS例文帳に追加

膜厚むらの検査装置および検査方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING TOXICITY IN UNDERWATER CONTAMINANT例文帳に追加

水中汚染物質の有害性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING CHARACTERISTICS THEREOF例文帳に追加

半導体素子及びその特性検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEQUENCER PROGRAM例文帳に追加

シーケンサプログラムの試験装置および試験方法 - 特許庁

SIMULATION TESTING METHOD AND APPARATUS OF TRAIN TRAVEL例文帳に追加

列車走行の模擬試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING DURABILITY OF MEMBER FOR BACKLIGHT例文帳に追加

バックライト用部材の耐久性試験方法 - 特許庁

IMAGE INPUTTING DEVICE AND FAILURE TESTING METHOD例文帳に追加

画像入力装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD OF TESTING LEAKAGE IN FIRE EXTINGUISHER例文帳に追加

消火器の漏れ検査装置と検査方法 - 特許庁

BEARING TESTING DEVICE AND BEARING TEST METHOD例文帳に追加

軸受試験装置および軸受試験方法 - 特許庁

RADIO BASE STATION TESTING METHOD AND TESTER例文帳に追加

無線基地局試験方法及び試験装置 - 特許庁

UNINTERRUPTIBLE POWER SUPPLY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

無停電電源装置およびその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CRYSTALLINITY OF SEMICONDUCTOR THIN FILM例文帳に追加

半導体薄膜の結晶性検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SURFACE SHAPE例文帳に追加

表面形状検査方法およびその装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING MATERIAL例文帳に追加

材料試験装置及び材料試験方法 - 特許庁

EXTREME-ULTRAVIOLET RAY MICROSCOPE AND TESTING METHOD例文帳に追加

極端紫外線顕微鏡及び検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体検査方法および半導体装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, DIAGNOSIS PROGRAM AND DIAGNOSIS METHOD例文帳に追加

試験装置、診断プログラムおよび診断方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置およびその検査方法 - 特許庁

VIDEO MEMORY TESTING AND DIAGNOSING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

ビデオメモリ試験診断方法およびその装置 - 特許庁

INSTRUMENT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加

半導体回路試験装置及び試験方法 - 特許庁

TEST PAD, SUBSTRATE, AND METHOD FOR TESTING SUBSTRATE例文帳に追加

テスト用パッド、基板、及び基板の試験方法 - 特許庁

CRITICALITY ALARMING DEVICE AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

臨界警報装置およびその試験方法 - 特許庁

SPECIMEN TESTING METHOD AND DYNAMO CONTROLLER例文帳に追加

供試体試験方法およびダイナモ制御装置 - 特許庁

TESTING METHOD FOR CHLORIDE ION DIFFUSION OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの塩化物イオン拡散試験方法 - 特許庁

PROBE, PROBE SET, PROBE-IMMOBILIZED CARRIER AND METHOD FOR TESTING例文帳に追加

プローブ、プローブ固定担体及び検査方法 - 特許庁

METHOD FOR RECOGNIZING OR TESTING SECURITIES例文帳に追加

有価証券を認識し又はテストする方法 - 特許庁

YARN ABRASION TESTING METHOD AND MACHINE例文帳に追加

糸の磨耗試験方法及び糸磨耗試験機 - 特許庁

TESTING METHOD FOR ELEVATOR EMERGENCY CALL DEVICE例文帳に追加

エレベーター用非常通話装置の試験方法 - 特許庁

VIBRATION TESTING DEVICE AND VIBRATION TEST METHOD例文帳に追加

振動試験装置および振動試験方法 - 特許庁

EXPLOSIBILITY TESTING METHOD FOR CONCRETE OF HIGH STRENGTH例文帳に追加

高強度コンクリートの爆裂性試験方法 - 特許庁

CMOS-LSI TESTING METHOD AND DEVICE FOR IT例文帳に追加

CMOS−LSI試験方法及び装置 - 特許庁

ULTRASONIC DIAGNOSTIC EQUIPMENT AND ELEMENT TESTING METHOD例文帳に追加

超音波診断装置及び素子試験方法 - 特許庁

STRESS-TESTING METHOD AND APPARATUS OF SHELL STRUCTURE例文帳に追加

殻構造の応力試験方法及び装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体メモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁

例文

METHOD AND CIRCUIT FOR TESTING RAM例文帳に追加

RAMテスト方法およびRAMテスト回路 - 特許庁




  
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