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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
TEST CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
テスト回路および集積回路のテスト方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING FUEL-CLADDING TUBE例文帳に追加
燃料被覆管の試験方法および装置 - 特許庁
CONNECTOR, AND METHOD OF TESTING CONNECTOR JOINT例文帳に追加
コネクタ及び該コネクタの接続部の検査方法 - 特許庁
TELEPHONE EXCHANGE TESTING DEVICE, AND METHOD THEREOF例文帳に追加
電話交換機試験装置およびその方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING COMMUNICATION APPARATUS例文帳に追加
通信装置の試験システムおよび試験方法 - 特許庁
DRAIN PIPE LEAKAGE TESTING METHOD AND JIG例文帳に追加
排水管の漏洩試験方法及び治具 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING OF DISPLAY PANEL例文帳に追加
ディスプレーパネルの検査装置および検査方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加
回路基板の検査装置および検査方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL例文帳に追加
液晶ディスプレイパネル試験装置及び方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING CONNECTION OF COMPOSITE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
複合半導体装置の接続試験方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路を試験する装置および方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリ試験装置及び試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING GADOLINIA-ADDED URANIUM DIOXIDE PELLET例文帳に追加
ガドリニア添加二酸化ウランペレットの試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体装置および半導体試験方法 - 特許庁
METHOD AND CIRCUIT FOR TESTING RAM例文帳に追加
RAMテスト方法およびRAMテスト回路 - 特許庁
NON-CONTACT CONTINUITY TESTING METHOD DEVICE例文帳に追加
非接触導通検査方法及びその装置 - 特許庁
OPTICAL INFORMATION MEDIUM AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
光情報媒体およびその試験方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ENVIRONMENT例文帳に追加
環境試験装置及び環境試験方法 - 特許庁
PEEL TESTING MACHINE AND PEELABILITY EVALUATION METHOD例文帳に追加
剥離試験機及び剥離性の評価方法 - 特許庁
TEST SYSTEM, TESTER AND TESTING METHOD例文帳に追加
試験システムおよび試験器および試験方法 - 特許庁
ABRASION TESTING DEVICE AND ABRASION TEST METHOD例文帳に追加
擦傷試験装置および擦傷試験方法 - 特許庁
WATER QUALITY TESTING DEVICE AND ITS CLEANING METHOD例文帳に追加
水質検査装置及びその洗浄方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND METHOD FOR FILM THICKNESS UNEVENNESS例文帳に追加
膜厚むらの検査装置および検査方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING TOXICITY IN UNDERWATER CONTAMINANT例文帳に追加
水中汚染物質の有害性試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING CHARACTERISTICS THEREOF例文帳に追加
半導体素子及びその特性検査方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING DURABILITY OF MEMBER FOR BACKLIGHT例文帳に追加
バックライト用部材の耐久性試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体検査方法および半導体装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置およびその検査方法 - 特許庁
VIDEO MEMORY TESTING AND DIAGNOSING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
ビデオメモリ試験診断方法およびその装置 - 特許庁
INSTRUMENT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加
半導体回路試験装置及び試験方法 - 特許庁
SPECIMEN TESTING METHOD AND DYNAMO CONTROLLER例文帳に追加
供試体試験方法およびダイナモ制御装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING QUALITY OF CONCRETE AND SENSING DEVICE例文帳に追加
コンクリートの品質試験方法と検知装置 - 特許庁
CONTROL DEVICE, TESTING DEVICE AND CONTROL METHOD例文帳に追加
制御装置、試験装置および制御方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SELF-EXCITED CONVERTER例文帳に追加
自励式変換器の試験方法および装置 - 特許庁
TESTING SYSTEM, BURN-IN TEST METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
試験システム、バーンイン試験方法及びプログラム - 特許庁
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