「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING NON-VOLATILE MEMORY例文帳に追加

不揮発性メモリのテスト回路および方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING VIBRATION例文帳に追加

振動試験装置及び振動試験方法 - 特許庁

DIRECT GRIP TESTING METHOD AND TEST JIG例文帳に追加

直接つかみ試験方法及び試験治具 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING PHASE LOCKED LOOP例文帳に追加

位相同期ループのテスト装置および方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING LEAKAGE例文帳に追加

漏洩検査方法および漏洩検査装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING TRANSMISSION BELT例文帳に追加

伝動ベルトの試験装置及び試験方法 - 特許庁

METHOD AND KIT FOR RAPIDLY TESTING BACTERIAL GENE例文帳に追加

迅速細菌遺伝子検査法及びキット - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING MATERIAL OF STEEL PLATE例文帳に追加

鋼板の材質試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING IMAGE GAS-RESISTANCE, AND INK SET例文帳に追加

画像耐ガス性試験方法及びインクセット - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING HEAD ELEMENT, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

ヘッド素子の製造方法及び試験装置 - 特許庁

DEVICE TEST EQUIPMENT AND DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加

デバイス試験装置およびデバイス試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置のテスト回路とテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験方法及び半導体装置 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE TESTING METHOD OF SOLAR CELL MODULE例文帳に追加

太陽電池モジュールの耐電圧試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SCAN TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路およびスキャンテスト法 - 特許庁

IC TESTER AND TESTING METHOD OF IC TESTER例文帳に追加

ＩＣテスタ及びＩＣテスタの試験方法 - 特許庁

IN VITRO TESTING METHOD USING LIVING TISSUE例文帳に追加

生体組織を用いたインビトロ試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路とその試験方法 - 特許庁

a method of testing bloodstains, called luminol test 例文帳に追加

ルミノール検査という,血痕の検査方法 - EDR日英対訳辞書

DEVICE AND METHOD FOR TESTING LOCAL LOAD例文帳に追加

局部載荷試験装置および試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING VIBRATION例文帳に追加

振動試験装置及び振動試験方法 - 特許庁

BASE STATION APPARATUS AND BASE STATION TESTING METHOD例文帳に追加

基地局装置及び基地局試験方法 - 特許庁

HIGH-PRESSURE GAS FATIGUE TESTING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

高圧気体疲労試験方法及び装置 - 特許庁

VIBRATION TESTING METHOD AND VIBRATION TESTER例文帳に追加

振動試験方法及び振動試験装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING APPEARANCE例文帳に追加

外観検査方法及び外観検査装置 - 特許庁

TESTING MEASURING APPARATUS, MEASURING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

試験測定機器、測定システム及び方法 - 特許庁

FERROELECTRIC MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

強誘電体メモリ装置及び試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM AND TEST METHOD OF SHORT MESSAGE例文帳に追加

ショートメッセージ試験システム及び試験方法 - 特許庁

COLLAPSE TESTING DEVICE AND COLLAPSE TEST METHOD例文帳に追加

崩壊試験装置及び崩壊試験方法 - 特許庁

DEFORMATION TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

変形試験装置および変形試験方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING TESTING EQUIPMENT, AND EQUIPMENT例文帳に追加

試験機器の較正方法および試験機器 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING AND TESTING MEMBRANE DAMAGE OF FILTRATION MEMBRANE例文帳に追加

ろ過膜の膜損傷検知試験方法 - 特許庁

NETWORK TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

ネットワーク試験装置及びネットワーク試験方法 - 特許庁

PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE, PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING METHOD, PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING PROGRAM, AND PRINTED CIRCUIT BOARD MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プリント回路基板試験装置、プリント回路基板試験方法、プリント回路基板試験プログラム、プリント回路基板製造方法 - 特許庁

LOGIC CIRCUIT AND DESIGNING METHOD THEREOF, AND TESTING METHOD例文帳に追加

ロジック回路およびその設計方法並びにテスト方法 - 特許庁

PRESSURE TESTING METHOD AND KNOCKING METHOD OF CATHODE- RAY TUBE例文帳に追加

陰極線管の耐圧試験方法及びノッキング方法 - 特許庁

COMPLEMENTARITY TESTING METHOD AND GOLD PARTICLE FOR USE IN THE METHOD例文帳に追加

相補性試験方法及びそれに用いる金粒子 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体装置とその試験方法及び製造方法 - 特許庁

SIGNAL GENERATOR, SIGNAL GENERATION METHOD AND TESTING METHOD例文帳に追加

信号発生装置、信号発生方法及び試験方法 - 特許庁

METHOD FOR PREVENTING COLLAPSE OF POROUS WALL, CASING, AND TESTING METHOD例文帳に追加

孔壁崩落抑制方法、ケーシング、及び試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, MEASURING DEVICE, TEST METHOD AND MEASURING METHOD例文帳に追加

試験装置、測定装置、試験方法および測定方法 - 特許庁

CORROSION RESISTANCE TESTING METHOD AND EVALUATING METHOD FOR STEEL MATERIAL例文帳に追加

鋼材の耐食性試験方法及び評価方法 - 特許庁

METHOD FOR ACTIVATING GAS DIFFUSION ELECTRODE AND TESTING METHOD例文帳に追加

ガス拡散電極の活性化方法及び試験方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD AND TESTING METHOD FOR ION MIGRATION OF CONNECTOR例文帳に追加

コネクタのイオンマイグレーション評価方法及び試験方法 - 特許庁

SLURRY EXECUTION METHOD, SLURRY TESTING METHOD AND SLURRY TESTER例文帳に追加

スラリー施工方法、スラリー試験方法及びスラリー試験器 - 特許庁