「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND MACHINE FOR TESTING SEALING MATERIAL例文帳に追加

シーリング材の試験方法および試験機 - 特許庁

TEMPLATE TESTING METHOD, TEMPLATE MANUFACTURING METHOD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT MANUFACTURING METHOD USING THE TEMPLATE AND TESTING SYSTEM FOR THE TEMPLATE例文帳に追加

検査方法、テンプレート製造方法、半導体集積回路製造方法および検査システム - 特許庁

TESTING DEVICE, TESTING METHOD, PRODUCTION METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE, TEST SIMULATOR, AND TEST SIMULATION METHOD例文帳に追加

試験装置、試験方法、電子デバイスの生産方法、試験シミュレータ、及び試験シミュレーション方法 - 特許庁

RECYCLABLE CIRCULATING MATERIAL CORROSION TESTING METHOD AND ITS TESTING DEVICE例文帳に追加

リサイクル型流通式材料腐食試験方法及びその試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE OF SOLDER PASTE CHARACTERISTIC AND TESTING METHOD OF SOLDER PASTE CHARACTERISTIC例文帳に追加

はんだペースト特性試験装置およびはんだペースト特性試験方法 - 特許庁

CIRCUIT BOARD, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, ELECTRICAL TESTING TOOL, AND ELECTRICAL TESTING APPARATUS例文帳に追加

回路基板、その製造方法、電気検査ジグ、および電気検査装置 - 特許庁

PEEL STRENGTH TESTING METHOD AND PEEL STRENGTH TESTING JIG USABLE THEREIN例文帳に追加

剥離強さ試験方法及びこれに使用できる剥離強さ試験治具 - 特許庁

MATERIAL TESTING MACHINE AND DISPLACEMENT MEASURING METHOD IN MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

材料試験機および材料試験機における変位量測定方法 - 特許庁

FATIGUE TESTING INSTRUMENT AND FATIGUE TESTING METHOD FOR RING FOR ENDLESS METAL BELT例文帳に追加

無端金属ベルト用リングの疲労試験装置および疲労試験方法 - 特許庁

MICRO FLUID DEVICE, METHOD FOR TESTING SOLUTION TO BE TESTED, AND SYSTEM FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

マイクロ流体デバイス並びに試液の試験方法および試験システム - 特許庁

INFORMATION PROCESSING APPARATUS, ALLOWABLE VOLTAGE TESTING SYSTEM, AND ALLOWABLE VOLTAGE TESTING METHOD例文帳に追加

情報処理装置、許容電圧試験システム、許容電圧試験方法 - 特許庁

DATA SAMPLING METHOD IN MATERIAL TESTING MACHINE AND MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

材料試験装置におけるデータサンプル方法および材料試験装置 - 特許庁

MATERIAL TESTING MACHINE AND METHOD FOR MEASURING TEST PIECE WIDTH OF MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

材料試験機および材料試験機の試験片の幅測定方法 - 特許庁

PSEUDO CALL TESTING METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING PSEUDO CALL TESTING PROGRAM例文帳に追加

疑似呼試験方法および疑似呼試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR, AND METHOD OF TESTING PARASITIC EFFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置および半導体素子の寄生効果試験方法 - 特許庁

(iv) Division of the Testing Method for which the test shall be conducted in the testing laboratory accredited 例文帳に追加

四　登録を受けた試験所において行う試験方法の区分 - 日本法令外国語訳データベースシステム

IMMUNOLOGICAL TESTING METHOD OF SPECIMEN, AND TESTING INSTRUMENT USED THEREIN例文帳に追加

検体の免疫学的検査方法及びその方法に用いる検査器具 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR CONNECTING STRUCTURE OF SECONDARY CELL, AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

二次電池用連接構造体の検査装置およびその検査方法 - 特許庁

THERMAL SHOCK TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD FOR THERMAL SHOCK TEST例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法 - 特許庁

WORK CONDITION OBSERVING AND TESTING MACHINE, AND WORK CONDITION OBSERVING AND TESTING METHOD例文帳に追加

加工状況観察試験機および加工状況観察試験方法 - 特許庁

To provide an image sensor, and testing system and testing method for the same.例文帳に追加

イメージセンサ及びそのためのテストシステム並びにテスト方法を提供する。 - 特許庁

BELT DURABILITY TESTING METHOD AND BELT DURABILITY TESTING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

ベルト耐久試験方法及びそれを用いたベルト耐久試験装置 - 特許庁

PULL-OUT RESISTANCE TESTING DEVICE FOR LOCK BOLT AND LOCK-BOLT PULL-OUT RESISTANCE TESTING METHOD例文帳に追加

ロックボルト用引抜抵抗試験装置及びロックボルト引抜抵抗試験方法 - 特許庁

HARDNESS TESTING MACHINE AND METHOD FOR CORRECTING STRAIN OF MACHINE BODY IN HARDNESS TESTING MACHINE例文帳に追加

硬さ試験機及び硬さ試験機における機体歪み補正方法 - 特許庁

TESTING METHOD, TESTING CIRCUIT AND BATTERY MODULE OF CELL VOLTAGE SENSING LINE例文帳に追加

電池電圧検出線の検査方法、検査回路及び電池モジュール - 特許庁

PRINTING TESTING METHOD OF GRAVURE INK AND PRINTING TESTING MACHINE USED FOR THE SAME例文帳に追加

グラビアインキの印刷試験方法及びそれに用いる印刷試験機 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD USING THE DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置及びその装置を用いた半導体試験方法 - 特許庁

THUNDER IMPULSE VOLTAGE TESTING APPARATUS AND THUNDER IMPULSE VOLTAGE TESTING METHOD例文帳に追加

雷インパルス電圧試験装置および雷インパルス電圧試験方法 - 特許庁

PARALLEL PROCESSING METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置の並列処理方法及び半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SELF-DIAGNOSTIC METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体試験装置の自己診断方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND UNIT CONNECTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置および半導体試験装置のユニット接続方法 - 特許庁

VDSL TESTING SYSTEM, ITS VTU-O/R, VDSL TESTING METHOD例文帳に追加

ＶＤＳＬ試験システム、そのＶＴＵ−Ｏ／Ｒ、ＶＤＳＬ試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TIMING CALIBRATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置および半導体試験装置のタイミング校正方法 - 特許庁

IMMUNITY TESTING METHOD, IMMUNITY TESTING DEVICE AND ROTARY MAGNETIC FIELD GENERATING DEVICE例文帳に追加

イミュニティ試験方法、イミュニティ試験装置及び回転磁界発生装置 - 特許庁

ENDOTOXIN TESTING METHOD, AND TREATING METHOD OF CULTURE例文帳に追加

エンドトキシン試験方法及び培養物の処理方法 - 特許庁

CHROMIUM PLATED PRODUCT, AND PRODUCTION METHOD AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

クロムめっき製品および製造方法、検査方法 - 特許庁

MCM, MCM-MANUFACTURING METHOD AND MCM-TESTING METHOD例文帳に追加

ＭＣＭおよびＭＣＭの製造方法とテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TESTING METHOD AND DESIGN METHOD例文帳に追加

半導体装置、そのテスト方法および設計方法 - 特許庁

FUEL ROD TESTING METHOD, FUEL ROD TESTING APPARATUS, AND FUEL ASSEMBLY MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

燃料棒検査方法、燃料棒検査装置および燃料集合体の製造方法 - 特許庁

PRODUCT TESTING APPARATUS, PRODUCT TESTING METHOD AND PROGRAM MAKING COMPUTER EXECUTE ITS METHOD例文帳に追加

製品検査装置、製品検査方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラム - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR PROTECTING TESTING OBJECT, AND TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

試験対象物の保護回路、試験対象物の保護方法、試験装置、及び試験方法 - 特許庁

STANDARD TEST PIECE FOR TESTING ANTIBACTERIAL PROPERTY, METHOD FOR PRODUCING THE SAME AND METHOD FOR TESTING ANTIBACTERIAL PROPERTY例文帳に追加

抗菌性試験用標準試験片、その製造方法及び抗菌性試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR RADIOGRAPHIC TESTING, AND ASSISTING METHOD FOR RADIOGRAPHIC TESTING例文帳に追加

放射線検査装置及び放射線検査方法並びに放射線検査支援方法 - 特許庁

METHOD OF NUCLEAR QUADRUPOLE RESONANCE TESTING AND METHOD OF CONFIGURING APPARATUS FOR NUCLEAR QUADRUPOLE RESONANCE TESTING例文帳に追加

核四極子共鳴テスト法および核四極子共鳴テスト装置を構成する方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING WAVELENGTH VARIABLE SEMICONDUCTOR LASER, AND METHOD FOR TESTING COHERENT LIGHT SOURCE例文帳に追加

波長可変半導体レーザの検査方法及び検査装置、コヒーレント光源の検査方法 - 特許庁