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Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD AND TESTING JIG例文帳に追加
半導体装置およびその製造方法と検査方法および検査用治具 - 特許庁
BATTERY FAULT DIAGNOSTIC TESTING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加
バッテリー故障診断方法及びシステム - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体装置及びそのテスト方法 - 特許庁
COMMUNICATION TESTING DEVICE, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
通信試験装置、方法、およびプログラム - 特許庁
DATA PROCESSOR AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
データ処理装置およびそのテスト方法 - 特許庁
MATERIAL DISCRIMINATION TESTING APPARATUS AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
材質識別検査装置および方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR TESTING IT例文帳に追加
半導体装置及びそのテスト方法 - 特許庁
TRANSMISSION AND RECEPTION TESTING METHOD FOR COMMUNICATION EQUIPMENT例文帳に追加
通信装置の送受信試験方法 - 特許庁
RADIOGRAPHIC TESTING METHOD OF WELDING SECTION例文帳に追加
溶接部の放射線透過試験方法 - 特許庁
ANTICOAGULANT AND BLOOD TESTING METHOD例文帳に追加
抗凝血剤及び血液検査方法 - 特許庁
FRETTING CORROSION TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
フレッチング腐食試験装置及び方法 - 特許庁
COMBINATION TEST METHOD AND TESTING DEVICE例文帳に追加
組合せ試験方法及び試験装置 - 特許庁
METHOD OF TESTING SEPARATOR FOR STORAGE DEVICE例文帳に追加
蓄電デバイス用セパレータの試験方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING MEDICAL IMAGING DEVICE例文帳に追加
医療撮像装置を試験する方法 - 特許庁
JOB PROCESSING SYSTEM AND JOB TESTING METHOD例文帳に追加
ジョブ処理システムおよびジョブテスト方法 - 特許庁
SHEARING PERMEABILITY TESTING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
せん断透水試験方法とその装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING BONDING STRENGTH例文帳に追加
付着強度試験方法および装置 - 特許庁
TESTING METHOD OF DROSS STICKINESS AND INSTRUMENT THEREFOR例文帳に追加
ドロス付着試験方法および装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR CIRCUIT AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体回路及びそのテスト方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING PERIPHERAL DEVICE例文帳に追加
周辺デバイス試験システム及び方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING CIRCUIT COMPONENT例文帳に追加
回路部品の試験装置および方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING COMPATIBILITY OF INK-JET PRINTER例文帳に追加
インクジェットプリンタの互換性検査方法 - 特許庁
DATA PROCESSOR AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
データ処理装置及びその試験方法 - 特許庁
DIGITAL PROTECTION RELAY AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
デジタル保護リレーおよびその試験方法 - 特許庁
TESTING TOOL AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
試験用具、およびそれの製造方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体試験装置及び試験方法 - 特許庁
ELECTRIC TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の電気的検査方法 - 特許庁
NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR PROJECTION WELDING例文帳に追加
プロジェクション溶接の非破壊検査方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR FILTRATION TESTING例文帳に追加
濾過試験装置、及び、濾過試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC TEST METHOD AND AUTOMATIC TESTING MACHINE例文帳に追加
自動試験方法及び自動試験機 - 特許庁
TESTING METHOD OF TV CAMERA FOR ROAD MONITORING例文帳に追加
道路監視用テレビカメラの試験方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING OF POOLED BLOOD SAMPLES例文帳に追加
プールされた血液サンプルの試験方法 - 特許庁
ARRANGEMENT AND METHOD FOR TESTING ELEMENT例文帳に追加
素子試験装置及び素子試験方法 - 特許庁
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