Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
In order to improve the tire testing facility, the tire testing facility comprises a tire testing device which has one or more testing heads 5 testing an inside cruise surface 8 of the tire 1, one or more testing heads 5 testing outside walls 3, 2 of the tire 1.例文帳に追加
タイヤ試験施設を改善するために、タイヤ試験施設は、タイヤ(1)の内側走行表面(8)を試験する1つ以上の試験ヘッド(5)、およびタイヤ(1)の外側サイドウォール(3、2)を試験する1つ以上の試験ヘッド(5)を持つタイヤ試験装置を備える。 - 特許庁
CRACK DEVELOPMENT TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
き裂進展試験方法及び装置 - 特許庁
TWISTED-PAIR ELECTRICAL CABLE TESTING例文帳に追加
撚った対の電気ケーブルの試験法 - 特許庁
MULTIAXIAL LOAD TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
多軸負荷試験装置及び方法 - 特許庁
To provide an image sensor, and testing system and testing method for the same.例文帳に追加
イメージセンサ及びそのためのテストシステム並びにテスト方法を提供する。 - 特許庁
METABOLIC SYNDROME PREDICTING AND TESTING METHOD例文帳に追加
メタボリックシンドロームの予知検査方法 - 特許庁
METHOD FOR WITHSTAND VOLTAGE TESTING AND APPARATUS FOR WITHSTAND VOLTAGE TESTING USED FOR THIS METHOD例文帳に追加
耐電圧試験方法とこの方法に使用する耐電圧試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE OF SOLDER PASTE CHARACTERISTIC AND TESTING METHOD OF SOLDER PASTE CHARACTERISTIC例文帳に追加
はんだペースト特性試験装置およびはんだペースト特性試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MUTUAL AUTHENTICATION DEVICE例文帳に追加
相互認証デバイスの試験方法 - 特許庁
CIRCUIT BOARD, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, ELECTRICAL TESTING TOOL, AND ELECTRICAL TESTING APPARATUS例文帳に追加
回路基板、その製造方法、電気検査ジグ、および電気検査装置 - 特許庁
PEEL STRENGTH TESTING METHOD AND PEEL STRENGTH TESTING JIG USABLE THEREIN例文帳に追加
剥離強さ試験方法及びこれに使用できる剥離強さ試験治具 - 特許庁
FATIGUE TESTING INSTRUMENT AND FATIGUE TESTING METHOD FOR RING FOR ENDLESS METAL BELT例文帳に追加
無端金属ベルト用リングの疲労試験装置および疲労試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
半導体装置とそのテスト方法。 - 特許庁
TESTING DEVICE AND CALIBRATION METHOD例文帳に追加
試験装置、及びキャリブレーション方法 - 特許庁
INFORMATION PROCESSING APPARATUS, ALLOWABLE VOLTAGE TESTING SYSTEM, AND ALLOWABLE VOLTAGE TESTING METHOD例文帳に追加
情報処理装置、許容電圧試験システム、許容電圧試験方法 - 特許庁
SYSTEM RESET CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加
システムリセット回路およびテスト方法 - 特許庁
MATERIAL TESTING MACHINE AND DISPLACEMENT MEASURING METHOD IN MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加
材料試験機および材料試験機における変位量測定方法 - 特許庁
ELECTRONIC CIRCUIT BOARD AND TESTING DEVICE例文帳に追加
電子回路基板およびテスト装置 - 特許庁
PENETRATION SENSOR FOR TESTING CONE PENETRATION例文帳に追加
コーン貫入試験用貫入センサ - 特許庁
DATA SAMPLING METHOD IN MATERIAL TESTING MACHINE AND MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加
材料試験装置におけるデータサンプル方法および材料試験装置 - 特許庁
To provide a testing device concurrently serving as a shock testing device and as a chassis dynamometer.例文帳に追加
ショックテスト装置とシャシーダイナモメータを兼ねる試験装置を提供する。 - 特許庁
AIR-CONDITIONING SYSTEM FOR BRAKE TESTING APPARATUS例文帳に追加
ブレーキ試験装置の空調システム - 特許庁
RECYCLABLE CIRCULATING MATERIAL CORROSION TESTING METHOD AND ITS TESTING DEVICE例文帳に追加
リサイクル型流通式材料腐食試験方法及びその試験装置 - 特許庁
ULTRAHIGH TEMPERATURE THERMAL EXPANSION TESTING DEVICE例文帳に追加
超高温熱膨張試験装置 - 特許庁
ELECTRONIC PART TESTING SOCKET AND ELECTRONIC PART TESTING DEVICE USING IT例文帳に追加
電子部品試験用ソケットおよびこれを用いた電子部品試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
半導体試験装置および方法 - 特許庁
To provide a leakage testing apparatus capable of testing occurring of leakage with high accuracy.例文帳に追加
高い精度で漏れの発生を検査できる漏れ検査装置の提供。 - 特許庁
ANEMOMETER FOR WEATHER/LIGHT RESISTANCE TESTING MACHINE, AND WEATHER/LIGHT RESISTANCE TESTING MACHINE USING IT例文帳に追加
耐候光試験機用風速計及びそれを用いた耐候光試験機 - 特許庁
MATERIAL TESTING MACHINE AND METHOD FOR MEASURING TEST PIECE WIDTH OF MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加
材料試験機および材料試験機の試験片の幅測定方法 - 特許庁
ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC PARTS例文帳に追加
電子部品用環境試験装置 - 特許庁
ROTARY ELECTRIC MACHINE FOR DYNAMO TESTING DEVICE例文帳に追加
ダイナモ試験装置用回転電機 - 特許庁
CURRENT MEASURING DEVICE, TESTING DEVICE, CURRENT MEASURING METHOD, AND TESTING METHOD例文帳に追加
電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 - 特許庁
ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENTS例文帳に追加
電子部品用環境試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体デバイスおよび試験方法 - 特許庁
BELT DURABILITY TESTING METHOD AND BELT DURABILITY TESTING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加
ベルト耐久試験方法及びそれを用いたベルト耐久試験装置 - 特許庁
SEQUENCE MONITOR FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置のシーケンスモニタ - 特許庁
TESTING METHOD OF TARGET FOR SPUTTERING例文帳に追加
スパッタリング用ターゲットの検査方法 - 特許庁
PSEUDO CALL TESTING METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING PSEUDO CALL TESTING PROGRAM例文帳に追加
疑似呼試験方法および疑似呼試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
半導体試験方法および装置 - 特許庁
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