| 意味 | 例文 |
analysis methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8804件
APPLICATION ASSET ANALYSIS PROGRAM, APPLICATION ASSET ANALYSIS METHOD AND APPLICATION ASSET ANALYSIS DEVICE例文帳に追加
アプリケーション資産分析プログラム、アプリケーション資産分析方法およびアプリケーション資産分析装置 - 特許庁
CLOCK DELAY ANALYSIS DEVICE, CLOCK DELAY ANALYSIS METHOD, CLOCK DELAY ANALYSIS PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
クロック遅延解析装置、クロック遅延解析方法、クロック遅延解析プログラム、および記録媒体 - 特許庁
ANALYSIS PARAMETER OUTPUT METHOD, ANALYSIS PARAMETER OUTPUT APPARATUS AND ANALYSIS PARAMETER OUTPUT PROGRAM例文帳に追加
分析パラメータ出力方法、分析パラメータ出力装置および分析パラメータ出力プログラム - 特許庁
DOCUMENT ANALYSIS PROCESSOR, IMAGE PROCESSOR, DOCUMENT ANALYSIS PROCESSING PROGRAM AND DOCUMENT ANALYSIS PROCESSING METHOD例文帳に追加
文書解析処理装置、画像処理装置、文書解析処理プログラム、文書解析処理方法 - 特許庁
CONTROL METHOD OF PRODUCTION OPERATION WITH NEAR INFRARED ANALYSIS METHOD例文帳に追加
近赤外分析による製造運転制御方法 - 特許庁
ELEMENT DIVIDING METHOD FOR ANALYSIS BY FINITE ELEMENT METHOD例文帳に追加
有限要素法解析における要素分割方法 - 特許庁
SIMULATION ANALYSIS METHOD AND METHOD OF DESIGNING MOLD例文帳に追加
シミュレーション解析方法および金型の設計方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD AND ANALYSIS METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の製造方法および分析方法 - 特許庁
METHOD FOR CREATING ANALYSIS DATA AND DEVICE IMPLEMENTING THE METHOD例文帳に追加
分析用データ作成方法及びその実施装置 - 特許庁
RESIDUAL STRESS ANALYSIS METHOD BY FINITE ELEMENT METHOD例文帳に追加
有限要素法による残留応力解析方法 - 特許庁
ANALYSIS METHOD, ANALYZING APPARATUS, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
分析方法、分析装置およびこれの製造方法 - 特許庁
To provide an analysis method, which is data analysis method of a microarray, having remarkably high analysis speed in comparison with a conventional method.例文帳に追加
マイクロアレイのデータ解析方法であり、従来の手法に比較し、格段に解析の速度が速い、解析手法を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING REACTOR, REACTOR, ANALYSIS METHOD, AND IMMOBILIZATION METHOD例文帳に追加
リアクターの製造方法、リアクター、分析装置および固定方法 - 特許庁
SUPPLY VOLTAGE VARIATION ANALYSIS METHOD, SUPPLY CURRENT VARIATION ANALYSIS METHOD, SUPPLY VOLTAGE VARIATION ANALYSIS DEVICE AND SUPPLY CURRENT VARIATION ANALYSIS DEVICE例文帳に追加
電源電圧変動解析方法、電源電流変動解析方法、電源電圧変動解析装置および電源電流変動解析装置 - 特許庁
COMPUTERIZED ANALYSIS DISPLAY METHOD AND MEASUREMENT ANALYSIS DISPLAY DEVICE例文帳に追加
計算機動作の分析表示方法および測定分析表示装置 - 特許庁
MOBILE TELEPHONE, ANALYSIS DEVICE INCLUDED THEREIN, AND ANALYSIS METHOD THEREOF例文帳に追加
携帯電話機、これに内蔵された解析装置、及びその解析方法 - 特許庁
SPRING-BACK ANALYSIS METHOD, SPRING-BACK ANALYSIS DEVICE, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
スプリングバック解析方法、スプリングバック解析装置、プログラム、及び記憶媒体 - 特許庁
PLATE MOLDING ANALYSIS METHOD AND STORAGE MEDIUM STORING ANALYSIS PROGRAM THEREFOR例文帳に追加
板成形解析方法及びその解析プログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁
TEXT ANALYSIS DEVICE, TEXT ANALYSIS METHOD AND SPEECH SYNTHESIZER例文帳に追加
テキスト解析装置およびテキスト解析方法ならびに音声合成装置 - 特許庁
INVESTIGATION ACTIVITY ANALYSIS SUPPORT DEVICE, AND INVESTIGATION ACTIVITY ANALYSIS SUPPORT METHOD例文帳に追加
検討活動分析支援装置および検討活動分析支援方法 - 特許庁
COMMUNITY ANALYSIS SYSTEM, COMMUNITY ANALYSIS METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
コミュニティ分析装置、およびコミュニティ分析方法、並びにコンピュータ・プログラム - 特許庁
SUBSTRATE FOR MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS, AND METHOD OF MANUFACTURING SUBSTRATE FOR MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS例文帳に追加
質量分析用基板及び質量分析用基板の製造方法 - 特許庁
ANALYSIS METHOD FOR FINAL PRESSING, PROGRAM, STORAGE MEDIUM, AND ANALYSIS DEVICE FOR FINAL PRESSING例文帳に追加
決め押し解析方法、プログラム、記憶媒体、及び、決め押し解析装置 - 特許庁
X-RAY ANALYSIS DEVICE, X-RAY ANALYSIS METHOD AND SURFACE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
X線分析装置、X線分析方法、及び表面検査装置 - 特許庁
UNIT FOR BIOCHEMICAL ANALYSIS, AND METHOD FOR THE BIOCHEMICAL ANALYSIS USING THE UNIT例文帳に追加
生化学解析用ユニットおよびそれを用いた生化学解析方法 - 特許庁
SOURCE ANALYSIS SUPPORT METHOD AND DEVICE, AND SOURCE ANALYSIS SUPPORT PROGRAM例文帳に追加
ソース解析支援方法及びその装置並びにソース解析支援プログラム - 特許庁
SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS APPARATUS, SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS METHOD, AND PROBE UNIT例文帳に追加
表面特性解析装置、表面特性解析方法およびプローブユニット - 特許庁
ANALYSIS METHOD USING COMPUTER, ANALYSIS SYSTEM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
コンピュータを用いた解析処理方法、解析処理システムおよび記録媒体 - 特許庁
CONNECTION ANALYSIS SYSTEM OF ELECTRONIC COMPONENT, CONNECTION ANALYSIS METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
電子部品の接続部解析システム、接続部解析方法、およびプログラム - 特許庁
ANALYSIS DEVICE FOR TRACE COMPONENT IN GAS, AND ANALYSIS METHOD USING THE SAME例文帳に追加
ガス中の微量成分分析装置及びそれを用いた分析方法 - 特許庁
INFORMATION ANALYSIS DEVICE, INFORMATION ANALYSIS METHOD AND INFORMATION ANALYZING PROGRAM例文帳に追加
情報分析装置、情報分析方法、及び情報分析用プログラム - 特許庁
WARP ANALYSIS METHOD FOR BASE BOARD, ITS SYSTEM, AND WARP ANALYSIS PROGRAM FOR BASE BOARD例文帳に追加
基板の反り解析方法及びそのシステム、基板の反り解析プログラム - 特許庁
TECHNICAL LITERATURE ANALYSIS DEVICE, PROGRAM AND TECHNICAL LITERATURE ANALYSIS METHOD例文帳に追加
技術文献解析装置及びプログラム並びに技術文献解析方法 - 特許庁
ANALYSIS MODEL CREATION METHOD, CAD SYSTEM AND ANALYSIS MODEL CREATION PROGRAM例文帳に追加
解析モデル作成方法、CADシステム、及び解析モデル作成プログラム - 特許庁
MAGNETIC MATERIAL ANALYSIS APPARATUS, MAGNETIC MATERIAL ANALYSIS METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
磁性材料解析装置、磁性材料解析方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁
ANALYSIS SAMPLE HOLDING APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING ANALYSIS SAMPLE HOLDING APPARATUS例文帳に追加
分析試料保持装置及び分析試料保持装置の製造方法 - 特許庁
IMPURITY ANALYSIS METHOD, AND IMPURITY ANALYSIS JIG OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加
半導体基板の不純物分析方法および不純物分析用冶具 - 特許庁
METHOD FOR OPTIMIZING PROBE CARD ANALYSIS AND SCRUB MARK ANALYSIS DATA例文帳に追加
プローブカード解析及びスクラブマーク解析データを最適化するための方法 - 特許庁
ANALYSIS METHOD FOR GRAVITY CASTING, AND ANALYSIS SYSTEM FOR THE GRAVITY CASTING例文帳に追加
重力鋳造の解析方法、及び、重力鋳造の解析システム - 特許庁
OPERATION DATA ANALYSIS SYSTEM, ANALYSIS METHOD, COMPUTER PROGRAM, AND RECORD MEDIUM例文帳に追加
操業データ解析システム、解析方法、コンピュータプログラム、及び記録媒体 - 特許庁
FACILITY ENVIRONMENT DATA ANALYSIS SYSTEM, AND FACILITY ENVIRONMENT DATA ANALYSIS METHOD例文帳に追加
設備環境データ分析システムおよび設備環境データ分析方法 - 特許庁
INFORMATION ANALYSIS APPARATUS, INFORMATION ANALYSIS METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
情報分析装置、および情報分析方法、並びにコンピュータ・プログラム - 特許庁
PLATE HOLDING ANALYSIS METHOD AND STORAGE MEDIUM STORING ANALYSIS PROGRAM THEREFOR例文帳に追加
板成形解析方法及びその解析プログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁
ANALYSIS METHOD FOR WELDED STRUCTURE AND ANALYSIS DEVICE FOR WELDED STRUCTURE例文帳に追加
溶接構造物の解析方法および溶接構造物の解析装置 - 特許庁
THREE-DIMENSIONAL ANALYSIS METHOD OF CONCRETE, THREE-DIMENSIONAL ANALYSIS APPARATUS, AND PROGRAM例文帳に追加
コンクリートの3次元解析方法、3次元解析装置およびプログラム - 特許庁
NUMERICAL ANALYSIS METHOD AND NUMERICAL ANALYSIS DEVICE FOR CONTINUOUS ROLLING LINE, AND PROGRAM例文帳に追加
連続圧延ラインの数値解析方法、数値解析装置及びプログラム - 特許庁
MANUFACTURE HISTORY ANALYSIS SUPPORT DEVICE AND MANUFACTURE HISTORY ANALYSIS SUPPORT METHOD例文帳に追加
製造履歴分析支援装置および製造履歴分析支援方法 - 特許庁
LAYOUT ANALYSIS METHOD AND LAYOUT ANALYSIS APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のレイアウト解析方法及びレイアウト解析装置 - 特許庁
MAGNETOPHORETIC ANALYSIS METHOD FOR PARTICULATE AND MAGNETOPHORETIC ANALYSIS DEVICE FOR PARTICULATE例文帳に追加
微粒子の磁気泳動分析法、及び微粒子の磁気泳動分析装置 - 特許庁
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