| 例文 (9件) |
cluster testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 9件
A test zone specification part 14 of a test environment setting device 1 specifies a test zone including a cluster area in the range of a moving device for test 2 and an adjacent cluster area.例文帳に追加
試験環境設定装置１の試験ゾーン特定部１４が、試験用移動機２の在圏クラスタエリアと隣接クラスタエリアとを含む試験ゾーンを特定する。 - 特許庁
A VC cluster 300, a test vector cluster 304 and a function verifying model 320 by purpose are included in the VCDB 100.例文帳に追加
ＶＣＤＢ１００には、ＶＣクラスタ３００と、テストベクタクラスタ３０４と、目的別機能検証モデル３２０とが含まれている。 - 特許庁
Similarity between the feature representation of the transformed test cluster and each feature representation stored in DB10 is computed, and an ID of a training cluster with maximum similarity is sent to a predictor selection section 70.例文帳に追加
変換されたテストクラスタの特徴表現とＤＢ１０に保存された各特徴表現との類似度を算出し、該類似度が最大の訓練クラスタのＩＤを予測器選択部７０に送る。 - 特許庁
A similarity calculation section 50 uses the transformation matrix in DB40 to transform a feature representation of an input test cluster.例文帳に追加
類似度計算部５０は、入力されたテストクラスタの特徴表現をＤＢ４０の変換行列にて変換する。 - 特許庁
A fully functioning cluster of chip sites or an almost fully functioning chip sites is identified by a wafer level test.例文帳に追加
ウェーハ・レベルのテストを使って、完全に機能するチップ・サイト、またはほとんど完全に機能するチップ・サイトのクラスタが識別される。 - 特許庁
A database 402 for system verification including a shared test cruster 410 and a peripheral model cluster 420 is arranged in the VCDB 100.例文帳に追加
ＶＣＤＢ１００内には、共用テストクラスタ４１０と周辺モデルクラスタ４２０とを含むシステム検証用データベース４０２が配置されている。 - 特許庁
A test data generation part 13 generates test data simulating the link states between the respective nodes constituting the node group by integrating all the graph data generated by the graph data generation part 12 based upon the identification information by performing control such that the cluster generation processing and graph data generation processing are repeated as many times as multiplex association is possible.例文帳に追加
テストデータ生成部１３は、クラスタ生成処理及びグラフデータ生成処理を多重帰属可能数繰り返すように制御することでグラフデータ生成部１２により生成された全てのグラフデータを識別情報に基づいて統合することで、ノード群を構成する各ノード間のリンク状態を模擬したテストデータを生成する。 - 特許庁
A circuit simulator 12 inputs the outputted test pattern 18 for power analysis and timing information 23 differently prepared in order to operate the pattern, and calculates circuit information 24 and signal toggle information 25 for each cluster by using a combinatorial circuit as a unit, and executes circuit simulation by using the calculated results.例文帳に追加
回路シミュレータ１２は、この出力された電力解析用テストパターン１８とこれを動作させるために別途準備されたタイミング情報２３とを入力として、組合せ回路を単位とするクラスタ毎に回路情報２４と信号トグル情報２５とを算出し、これを用いて回路シミュレーションを行う。 - 特許庁
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