| 例文 |
measuring analysisの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 785件
ANALYSIS OBJECT MEASURING METHOD, BIOSENSOR, AND MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
分析対象物の測定方法、バイオセンサおよび測定器 - 特許庁
MEASURING METHOD, ANALYSIS METHOD, MEASURING DEVICE, ANALYSIS DEVICE, ELLIPSOMETER, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
測定方法、解析方法、測定装置、解析装置、エリプソメータ及びコンピュータプログラム - 特許庁
MEASURING METHOD, ANALYSIS METHOD, MEASURING DEVICE, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
測定方法、解析方法、測定装置、及びコンピュータプログラム - 特許庁
OPTICAL DISK FOR ANALYSIS AND MEASURING DEVICE THEREFOR例文帳に追加
分析用光学ディスク及びその測定器 - 特許庁
CARTRIDGE FOR ANALYSIS, AND ABSORBANCE MEASURING DEVICE例文帳に追加
分析用カートリッジ及び吸光度測定装置 - 特許庁
IN-LINE MEASURING POLARIZATION ANALYSIS SYSTEM AND POLARIZATION ANALYSIS METHOD例文帳に追加
インライン計測型の偏光解析装置および偏光解析方法 - 特許庁
PULSE WAVE MEASURING INSTRUMENT FOR ANALYSIS OF SPHYGMOPALPATION例文帳に追加
脈診解析のための脈波測定装置 - 特許庁
CHEMICAL ANALYSIS SENSOR AND INTERACTION MEASURING DEVICE例文帳に追加
化学分析センサ及び相互作用計測装置 - 特許庁
SIMPLE METHOD FOR MEASURING ANALYSIS SUBSTANCE, REACTION TUBE, AND KIT FOR SIMPLE METHOD FOR MEASURING ANALYSIS SUBSTANCE例文帳に追加
分析物質の簡易測定方法、反応管および分析物質の簡易測定のためのキット - 特許庁
MULTILAYER THIN-FILM ANALYSIS METHOD AND MEASURING APPARATUS例文帳に追加
多層薄膜分析方法および測定装置 - 特許庁
DISPLACEMENT MEASURING METHOD, DISPLACEMENT MEASURING DEVICE, TOOL FOR MEASURING DISPLACEMENT, TOOL OF HOLDER FOR X RAY ANALYSIS, X RAY ANALYSIS METHOD, AND X RAY ANALYSIS DEVICE例文帳に追加
変位測定方法、変位測定装置、変位測定用冶具、X線分析用ホルダの治具、X線分析方法及びX線分析装置 - 特許庁
INTERFERENCE FRINGE ANALYSIS METHOD, INTERFERENCE FRINGE ANALYSIS PROGRAM AND INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加
干渉縞解析方法、干渉縞解析プログラム、及び干渉測定装置 - 特許庁
SAMPLE MEASURING SUBSTRATE FOR NEAR FIELD SPECTRAL ANALYSIS例文帳に追加
近接場分光分析用の試料測定基板 - 特許庁
PULSE WAVE MEASURING APPARATUS AND BIOLOGICAL WAVE ANALYSIS PROGRAM例文帳に追加
脈波測定装置および生体波解析プログラム - 特許庁
METHOD FOR PRODUCING DRY ANALYSIS ELEMENT FOR MEASURING PANCREATIC LIPASE例文帳に追加
膵リパーゼ測定用乾式分析要素の製造方法 - 特許庁
SKIN CONDUCTANCE MEASURING DEVICE, COMPONENT CONCENTRATION ANALYSIS DEVICE, SKIN CONDUCTANCE MEASURING METHOD AND COMPONENT CONCENTRATION ANALYSIS METHOD例文帳に追加
皮膚コンダクタンス測定装置、成分濃度分析装置、皮膚コンダクタンス測定方法および成分濃度分析方法 - 特許庁
EARTH SURFACE POTENTIAL MEASURING INSTRUMENT AND INFORMATION ANALYSIS SYSTEM THEREOF例文帳に追加
地表電位測定装置とその情報分析システム - 特許庁
OPTICAL WAVELENGTH MEASURING METHOD, OPTICAL WAVELENGTH MEASURING DEVICE, AND OPTICAL SPECTRUM ANALYSIS DEVICE例文帳に追加
光波長測定方法、光波長測定装置および光スペクトラム解析装置 - 特許庁
COMPONENT ANALYSIS METHOD SHORTENED IN MEASURING TIME AND COMPONENT ANALYSIS DEVICE FOR EXECUTING IT例文帳に追加
計測時間を短縮した成分分析方法並びにこれを実施する成分分析装置 - 特許庁
MOTOR FUNCTION MEASURING SENSOR, MOTOR FUNCTION MEASURING DEVICE, AND MOTOR FUNCTION ANALYSIS DEVICE例文帳に追加
運動機能測定用のセンサ、運動機能測定装置及び運動機能解析装置 - 特許庁
CAPACITY VALUE MEASURING CIRCUIT AND ANALYSIS METHOD FOR WIRING CHARACTERISTIC例文帳に追加
容量値測定用回路及び配線特性の解析方法 - 特許庁
VIBRATION ANALYSIS APPARATUS, AND AUTOMATIC DETECTION METHOD OF ANALYSIS SECTION IN VIBRATION MEASURING USING THE SAME例文帳に追加
振動解析装置及びこれを用いた振動計測時の解析区間の自動検出方法 - 特許庁
To provide an ophthalmological analysis method for measuring an intraocular pressure in an eye (11) with an analysis system.例文帳に追加
本発明は、分析システムにより眼球(11)の眼圧を測定する眼科分析方法に関する。 - 特許庁
To provide an ophthalmological analysis method for measuring an ocular tension in an eyeball (11) with an analysis system.例文帳に追加
本発明は、分析システムにより眼球(11)の眼圧を測定する眼科分析方法に関する。 - 特許庁
PHOTOMETRIC ANALYSIS MEASURING PROBE APPARATUS, SOLUTION CONCENTRATION MONITORING METHOD AND SPECTROSCOPIC ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加
光分析測定用プローブ装置および溶液濃度モニタリング方法、ならびに分光分析装置 - 特許庁
To provide a waveform analysis device, along with a waveform measuring device, a waveform analysis program, and a waveform analysis method, capable of reliably suppressing an analysis error of fourier transform method.例文帳に追加
フーリエ変換法の解析誤差を確実に抑える波形解析装置、波形測定装置、波形解析プログラム、及び波形解析方法を提供する。 - 特許庁
To provide a plasma potential measuring method which has few error factors without the necessity of an analysis, and to provide plasma potential measuring equipment.例文帳に追加
誤差要因の少ない解析不要のプラズマ電位測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁
REAGENT USED FOR MEASURING METAL IN SAMPLE BY FLOW SEPARATION ANALYSIS METHOD AND MEASURING METHOD例文帳に追加
流れ分離分析法による試料中の金属測定に使用する試薬及び測定方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING WOOD DENSITY BY LASER INDUCED PLASMA EMISSION ANALYSIS例文帳に追加
レーザ誘起プラズマ発光分析による木材密度の測定方法 - 特許庁
A cerebral function measuring analysis signal is obtained by using the plurality of brain-wave signals obtained in the actual measuring step and by the fractal dimension analysis method.例文帳に追加
実測ステップで得た複数の脳波信号とフラクタル次元解析法とを用いて脳機能計測用解析信号を取得する。 - 特許庁
POWDER HOLDER, MEASURING SAMPLE MANUFACTURING METHOD, AND SAMPLE ANALYSIS METHOD例文帳に追加
粉体ホルダ、測定用試料製造方法及び試料分析方法 - 特許庁
To facilitate measuring operation and data analysis and to lower installation cost.例文帳に追加
測定作業やデータ解析を容易にして設置コストを安価にする。 - 特許庁
SURFACE CHARACTERISTICS MEASURING APPARATUS, SHAPE ANALYSIS PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
表面性状測定機、形状解析プログラムおよび記録媒体 - 特許庁
CHEMICAL REACTION ANALYSIS SENSOR USING SURFACE PLASMON RESONANCE MEASURING METHOD例文帳に追加
表面プラズモン共鳴測定法を用いる化学反応解析センサ - 特許庁
MEASUREMENT METHOD AND ANALYSIS METHOD OF SAMPLE SURFACE, AND MEASURING DEVICE AND ANALYSIS DEVICE OF SAMPLE SURFACE例文帳に追加
試料表面の測定方法及び分析方法並びに試料表面の測定装置及び分析装置 - 特許庁
To provide an analysis device capable of simply and speedily measuring many analysis items by a small amount of sample.例文帳に追加
少量の検体で多数の分析項目を簡便かつ迅速に測定できる分析具を提供する。 - 特許庁
MEASURING METHOD OF TESTPIECE SURFACE, ANALYSIS DEVICE AND ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加
試料鏡面の測定方法及び分析装置並びに電子ビーム装置 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|