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method analysisの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8804件
MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR THIN FILM ANALYSIS AND THIN FILM ANALYZING METHOD例文帳に追加
薄膜分析用サンプルの製造方法及び薄膜分析方法 - 特許庁
METHOD FOR INCORPORATING ANALYSIS TO FEATURE OF MODEL OF OBJECT AND ITS USING METHOD例文帳に追加
オブジェクトのモデルのフィーチャに解析を組込んで利用する方法 - 特許庁
POWDER HOLDER, MEASURING SAMPLE MANUFACTURING METHOD, AND SAMPLE ANALYSIS METHOD例文帳に追加
粉体ホルダ、測定用試料製造方法及び試料分析方法 - 特許庁
METHOD FOR CREATING ANALYTICAL MODEL AND METHOD AND APPARATUS FOR HEAT TRANSFER ANALYSIS例文帳に追加
解析モデルの作成方法、熱伝導解析方法および装置 - 特許庁
FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS METHOD AND EVALUATION METHOD OF SAMPLE STRUCTURE例文帳に追加
蛍光X線分析方法及び試料構造の評価方法 - 特許庁
ELEMENT GROUPING METHOD FOR FINITE ELEMENT METHOD ANALYSIS, AND PROGRAM例文帳に追加
有限要素法解析における要素のグループ化方法及びプログラム - 特許庁
SUBSTRATE FOR MULTIPLE ANALYSIS, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND ANALYTICAL METHOD例文帳に追加
複合分析用基板、及びその製造方法、並びに分析方法 - 特許庁
FAILURE VERIFICATION DEVICE, FAILURE VERIFICATION METHOD AND FAILURE ANALYSIS METHOD例文帳に追加
故障検証装置、故障検証方法および故障解析手法 - 特許庁
DISPLACEMENT MEASURING METHOD, DISPLACEMENT MEASURING DEVICE, TOOL FOR MEASURING DISPLACEMENT, TOOL OF HOLDER FOR X RAY ANALYSIS, X RAY ANALYSIS METHOD, AND X RAY ANALYSIS DEVICE例文帳に追加
変位測定方法、変位測定装置、変位測定用冶具、X線分析用ホルダの治具、X線分析方法及びX線分析装置 - 特許庁
To provide a device, a method, and a program for determining input attribute conditions, a data analyzer, a data analysis method, and a data analysis program, that make data analysis efficient.例文帳に追加
データ分析の効率化を図れる入力属性条件決定装置、方法、プログラム、および、データ分析装置、方法、プログラムを提供する。 - 特許庁
GLOW DISCHARGE LIGHT EMISSION SPECTRAL ANALYSIS METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
グロー放電発光分光分析方法および装置 - 特許庁
ANALYSIS SYSTEM AND METHOD OF PULSE DIAGNOSIS IN DOCTOR OF CHINESE MEDICINE例文帳に追加
漢方医における脈診の分析システムと方法 - 特許庁
STRUCTURE ANALYSIS METHOD FOR CELL STRUCTURE AND CELL STRUCTURE例文帳に追加
セル構造体の構造解析法及びセル構造体 - 特許庁
SEPARATION ANALYSIS METHOD AND APPARATUS OF ANIONIC COMPOUND例文帳に追加
陰イオン性化合物の分離分析方法及び装置 - 特許庁
BUSINESS ACTIVITY ANALYSIS METHOD AND BUSINESS SUPPORT SYSTEM例文帳に追加
営業活動分析方法及び営業支援システム - 特許庁
INSTRUMENT AND METHOD FOR CLEANING SAMPLE FOR ANALYSIS例文帳に追加
分析用試料の洗浄器具および洗浄方法 - 特許庁
OXIDIZABILITY ANALYSIS METHOD AND DEVICE OF METAL SURFACE例文帳に追加
金属表面の酸化性解析方法および装置 - 特許庁
UNIT FOR BIOCHEMICAL ANALYSIS AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
生化学解析用ユニットおよびその製造方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR LASER PLASMA X-RAY SPECTROSCOPIC ANALYSIS例文帳に追加
レーザプラズマX線分光分析装置および方法 - 特許庁
LARGE-SCALE BASE SEQUENCE ANALYSIS METHOD, PROGRAM, AND APPARATUS例文帳に追加
大規模塩基配列解析方法、プログラム及び装置 - 特許庁
CONTENT VIEWING TENDENCY ANALYSIS SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
コンテンツ視聴傾向分析システム、方法およびプログラム - 特許庁
OPERATION MANAGEMENT SYSTEM AND ANALYSIS METHOD TO INSUFFICIENT DEFINITION例文帳に追加
運用管理システムおよび定義不足の分析方法 - 特許庁
PURCHASE ACTION ANALYSIS DEVICE, METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
購買行動分析装置、方法及びコンピュータプログラム - 特許庁
THIN FILM FOR FIXING NUCLEIC ACID AND NUCLEIC ACID ANALYSIS METHOD例文帳に追加
核酸固着用薄膜及び核酸解析方法 - 特許庁
EXTRACTION ELECTRODE AND ANALYSIS METHOD USING IT例文帳に追加
引出電極およびこの電極を用いた分析方法 - 特許庁
DEFLECTION ANALYSIS SYSTEM AND METHOD FOR CIRCUIT DESIGN例文帳に追加
回路設計のための偏差解析システムおよび方法 - 特許庁
TRACE DATA EXTRACTING METHOD FOR DEBUG AND PERFORMANCE ANALYSIS例文帳に追加
デバッグ及び性能解析用トレースデータ採取方式 - 特許庁
NUMERICAL ANALYSIS METHOD IN PRODUCTION OF SILICON SINGLE CRYSTAL例文帳に追加
シリコン単結晶製造における数値解析方法 - 特許庁
DISPENSING DEVICE AND METHOD, AND AUTOMATIC ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加
分注装置、分注方法及び自動分析装置 - 特許庁
PREDICTION METHOD OF PROCESSING TIME AND AUTOMATIC ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加
処理時間の予測方法および自動分析システム - 特許庁
METHOD FOR SETTING ANALYSIS POSITION IN ELECTRON SPECTROMETER例文帳に追加
電子分光装置における分析位置設定方法 - 特許庁
FUNDUS IMAGE ANALYSIS METHOD, ITS INSTRUMENT AND PROGRAM例文帳に追加
眼底画像解析方法およびその装置とプログラム - 特許庁
INFORMATION PROCESSING DEVICE, SOUND ANALYSIS METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
情報処理装置、音声解析方法、及びプログラム - 特許庁
BLOOD GLUCOSE LEVEL ANALYSIS METHOD AND BLOOD GLUCOSE LEVEL ANALYZER例文帳に追加
血糖値分析方法、及び血糖値分析装置 - 特許庁
OPERATION CONTROL METHOD OF PLANT BY NEAR INFRARED ANALYSIS例文帳に追加
近赤外分析によるプラントの運転制御方法 - 特許庁
AUTOMATIC ANALYSIS APPARATUS AND OPERATION ENVIRONMENT SETTING METHOD例文帳に追加
自動分析装置および動作環境設定方法 - 特許庁
METHOD FOR DETECTION AND ANALYSIS USING PROTEIN ARRAY例文帳に追加
タンパク質アレイを用いた検出および解析方法 - 特許庁
AUTOMATIC ANALYSIS APPARATUS AND DISPENSATION ACCURACY VERIFICATION METHOD例文帳に追加
自動分析装置および分注精度確認方法 - 特許庁
PRETREATMENT METHOD AND PRETREATMENT APPARATUS FOR METAL ANALYSIS例文帳に追加
金属分析の前処理方法及び前処理装置 - 特許庁
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