「needle probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PROBE NEEDLE, PROBE CARD, INSPECTION DEVICE AND METHOD USING THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

プローブ針、プローブカード、プローブ針を用いた検査装置及び方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE NEEDLE AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブ針の製造方法及びプローブカード - 特許庁

PROBE NEEDLE, PROBE CARD, AND MANUFACTURING METHOD OF PROBE CARD例文帳に追加

プローブ針、プローブカード、及びプローブカードの作製方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブ針とその製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE, WIRE ROD FOR PROBE NEEDLE, AND MANUFACTURING METHOD OF WIRE ROD FOR PROBE NEEDLE例文帳に追加

プローブ針およびプローブ針用線材ならびにプローブ針用線材の製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE, USING METHOD THEREFOR, AND MANUFACTURING METHOD FOR PROBE NEEDLE例文帳に追加

プローブ針及びその使用方法並びにプローブ針の製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブ針及びその製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

プローブ針及びその製造方法 - 特許庁

METHOD FOR EXCHANGING PROBE CARD WITH PROBE NEEDLE OF POGO PIN STRUCTURE WITH PROBE NEEDLE例文帳に追加

ポゴピン構造のプローブ針を有するプローブカードとプローブ針の交換方法 - 特許庁

MEASURING NEEDLE FOR PROBE CARD, PROBE CARD, AND MANUFACTURING METHOD OF MEASURING NEEDLE例文帳に追加

プローブカード用測定針、プローブカード及び測定針形成方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE AND POLISHING METHOD THEREOF例文帳に追加

プロ−ブ針及びその研磨方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE CONTACT DETECTING METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

プローブ触針検知法及び装置 - 特許庁

PROBE NEEDLE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブ針及びその製造方法 - 特許庁

PROBER AND METHOD FOR TOUCHING PROBE NEEDLE例文帳に追加

プローバ及びプローブ針接触方法 - 特許庁

METHOD FOR POLISHING NEEDLE POINT OF PROBE CARD, AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブカードの針先研磨方法、及びプローブ装置 - 特許庁

PROBE NEEDLE, METHOD OF MANUFACTURING PROBE NEEDLE, AND METHOD OF MANUFACTURING THREE DIMENSIONAL SOLID STRUCTURE例文帳に追加

プローブ針、プローブ針の製造方法および三次元立体構造の製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD AND PROBE CARD WITH THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

半導体装置のテスト用プローブ針とその製造方法およびそのプローブ針を備えたプローブカード - 特許庁

PROBE NEEDLE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE DEVICE USING THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

半導体装置のテスト用プローブ針とその製造方法、このプローブ針を用いたプローブ装置 - 特許庁

PROBE NEEDLE, CANTILEVER, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

プローブ針、カンチレバー及びそれらの製造方法 - 特許庁

VERTICAL PROBE NEEDLE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

垂直型プローブ針及びその製造方法 - 特許庁

METHOD FOR SELLING PROBE NEEDLE AND SYSTEM FOR THE SAME例文帳に追加

プローブ針の販売方法及びそのシステム - 特許庁

PROBE SENSING PAD AND METHOD OF DETECTING CONTACT POSITION OF PROBE NEEDLE例文帳に追加

プローブセンシング用パッド及びプローブ針接触位置検査方法 - 特許庁

ELECTRODE NEEDLE, PROBE CARD, PROBE DEVICE, PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電極針、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE WITH INSULATING COATING, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

絶縁被膜付きプローブ針及びその製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE FOR WAFER TEST AND ITS PRODUCTION METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTED WITH THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

ウエハテスト用プロ—ブ針とその製造方法およびそのプロ—ブ針によってテストした半導体装置 - 特許庁

NEEDLE MARK INSPECTOR, PROBE DEVICE, AND NEEDLE MARK INSPECTION METHOD AND MEMORY MEDIUM例文帳に追加

針跡検査装置、プローブ装置、及び針跡検査方法、並びに記憶媒体 - 特許庁

NEEDLE TRACK INSPECTING APPARATUS, PROBE APPARATUS, NEEDLE TRACK INSPECTING METHOD, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

針跡検査装置、プローブ装置、及び針跡検査方法、並びに記憶媒体 - 特許庁

METHOD OF ALIGNING WAFER AND PROBE NEEDLE WITH EACH OTHER AND METHOD AND DEVICE FOR PROBE TEST例文帳に追加

ウエーハとプローブ針との位置合わせ方法、プローブ検査方法及びプローブ検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING TIP POSITION OF PROBE NEEDLE例文帳に追加

プローブ針の針先位置の検出方法及び検出装置 - 特許庁

CLEANING DEVICE AND CLEANING METHOD FOR PROBE NEEDLE OF TEST PROBE DEVICE FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路用テストプローブ装置のプローブニードルの洗浄装置および洗浄方法 - 特許庁

CHARACTERISTIC INSPECTION APPARATUS, TAPE SUBSTRATE, CHARACTERISTIC INSPECTION METHOD, AND PROBE NEEDLE POLISH METHOD例文帳に追加

特性検査装置、テープ基板、特性検査方法およびプローブ針の研磨方法 - 特許庁

CONTACT NEEDLE FOR EVALUATING ELECTRIC CHARACTERISTIC, PROBE STRUCTURE, PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD OF CONTACT NEEDLE FOR EVALUATING ELECTRIC CHARACTERISTIC例文帳に追加

電気的特性評価用接触針、プローブ構造体、プローブカード、および電気的特性評価用接触針の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR APPARATUS FOR DETECTING POOR PROBE NEEDLE PRESSURE, SYSTEM FOR DETECTING POOR PROBE NEEDLE PRESSURE, AND METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR APPARATUS例文帳に追加

プローブ針圧力不良検出用の半導体装置、プローブ針圧力不良検出システム及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR CLEANING PROBE NEEDLE AND WAFER AND WAFER PROBER EQUIPMENT TO BE USED THEREFOR例文帳に追加

プローブ針のクリーニング方法、これに用いるウエハおよびウエハプローバ装置 - 特許庁

PROCESSING METHOD OF NEEDLE-LIKE SAMPLE FOR ATOM PROBE, AND FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

アトムプローブ用針状試料の加工方法及び集束イオンビーム装置 - 特許庁

PROBE FOR PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE MICROSCOPE, NEEDLE-SHAPED BODY AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND ELECTRONIC ELEMENT AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブ顕微鏡探針及びその製造方法並びにプローブ顕微鏡並びに針状体及びその製造方法並びに電子素子及びその製造方法 - 特許庁

PROBE TYPE STEP PROFILER FOR SURFACE SHAPE MEASUREMENT AND ITS NEEDLE PRESSURE CORRECTION METHOD例文帳に追加

表面形状測定用触針式段差計及びその針圧補正方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF NEEDLE CRYSTAL, AND CANTILEVER OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

針状結晶の製造方法、及び走査型プローブ顕微鏡のカンチレバー - 特許庁

POSITION DETECTION METHOD OF PROBE NEEDLE, SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

プローブ針の位置検出方法、半導体装置および半導体検査装置 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS, METHOD OF APPLYING GEL, AND PUNCTURING METHOD OF PUNCTURE NEEDLE例文帳に追加

超音波探触子、超音波診断装置、ゲルの塗布方法及び穿刺針の穿刺方法 - 特許庁

To provide a probe needle and a probe card for preventing the shift of contact point of needle tip with an electrode due to vibration from the outside and a curve of an inspection object, and an inspection device and method using the probe needle.例文帳に追加

外部からの振動や検査対象物の反りなどによる、電極に対する針先の接触位置のずれを防ぐプローブ針、プローブカード、プローブ針を用いた検査装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

METHOD OF SETTING NEEDLE POINTING REGION OF PROBE CARD USED FOR INSPECTION OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハの検査に用いるプローブカードの針立て領域の設定方法。 - 特許庁

The method obtains the relationship between the current flowing through the coil of the needle pressure generation device and the needle pressure of the probe, from this relationship, the fluctuation of the needle pressure of the probe is automatically calibrated.例文帳に追加

本発明の方法は、針圧発生装置のコイルに流す電流と探針の針圧との関係を求め、求めた関係に基いて探針の針圧の変化を自動的に較正する。 - 特許庁

METHOD OF CLEANING NEEDLE TIP OF PROBE CARD, WAFER-TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, DATA RECORDING MEDIUM例文帳に追加

プローブカードの針先クリーニング方法，半導体装置のウエハ検査装置，データ記録媒体 - 特許庁

To provide a probe card of low control cost for determining a life of a probe needle tip part, and a control method therefor.例文帳に追加

プローブ針先端部の寿命を判定するための管理コストの低いプローブカードおよびその管理方法を提供する。 - 特許庁