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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > optical interferometryに関連した英語例文

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optical interferometryの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 12



例文

OPTICAL FIBER ASSAY APPARATUS BASED ON PHASE-SHIFT INTERFEROMETRY例文帳に追加

位相シフト干渉法に基づく光ファイバー検定装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING THIN FILM ELEMENT USING OPTICAL MULTI-WAVELENGTH INTERFEROMETRY例文帳に追加

光学マルチ波長インターフェロメトリーを使用した薄膜素子測定方法 - 特許庁

INTERFEROMETER SYSTEM AND METHOD OF OPTICAL INTERFEROMETRY FOR MEASURING MOVING BODY例文帳に追加

動体測定用干渉計装置および動体測定用光干渉計測方法 - 特許庁

To provide a method for measuring a thin film element using an optical multi-wavelength interferometry.例文帳に追加

光学マルチ波長インターフェロメトリーを使用した薄膜素子測定方法の提供。 - 特許庁

例文

A method for measuring a film element using an optical multi-wavelength interferometry is revealed.例文帳に追加

光学マルチ波長インターフェロメトリー使用の薄膜素子測定方法が開示される。 - 特許庁


例文

To realize an interferometer system and a method of an optical interferometry for measuring a moving body, which carry out the optical interferometry for a test body having an object section to be measured which is moved sequentially.例文帳に追加

測定対象となる部分が順次移動するような被検体を光干渉計測し得る動体測定用干渉計装置および動体測定用光干渉計測方法を得る。 - 特許庁

To provide a wavefront aberration measuring device capable of measuring the wavefront aberration of an optical system under test by a relatively simple constitution without using an interferometry.例文帳に追加

干渉法を用いることなく、比較的簡素な構成にしたがって被検光学系の波面収差を計測することのできる波面収差計測装置。 - 特許庁

To provide a speckle reduction method and a system for EUV interferometry by which a wavefront quality measurement in an optical lithography tool is improved to be made even during wafer fabrication and exposure, without forcing the tool during measurement to be off-line.例文帳に追加

光リソグラフィツールにおける波面品質測定が、測定中のツールのオフラインを強いることなくウエハ作製/露光中でも可能となるように改善を行うこと。 - 特許庁

To provide a speckle reduction method and a system for EUV interferometry by which a wavefront quality measurement in an optical lithography tool is improved to be made even during wafer fabrication and exposure, without forcing the tool during measurement to be off-line.例文帳に追加

光リソグラフィツールにおける波面品質測定が、測定中のツールのオフラインを強いることなくウエハ作製/露光中でも可能となるように改善を行うこと。 - 特許庁

例文

To provide a surface shape measuring method capable of long-range measurement by improving measurement accuracy in two-wavelength phase-shifting interferometry and only slightly improving a conventional phase-shift optical system.例文帳に追加

2波長位相シフト干渉法の計測精度を改善し、従来の位相シフト光学系のわずかな改良で長レンジの計測を可能とする表面形状測定方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a method for producing a multilayer film with small dispersion of the thickness of the multilayer film and of each layer within the film, by making the thickness of each layer accurately measurable with optical interferometry.例文帳に追加

光干渉方式で、各層の厚みを正確に測定可能にすることにより多層フィルムおよびフィルム内各層の膜厚バラツキの少ない多層フィルムの製造方法を提供する。 - 特許庁

例文

This polyester film for optical uses having a coated layer having an easily bondable property with the curable resin on at least one of the film surfaces is characterized by having ≥0.7 density (number/mm^2) of projections having5th interference patterns observed by a double beam interferometry, on the coated layer surface.例文帳に追加

硬化性樹脂に対して易接着性を有する塗布層を少なくとも一方のフィルム面に有し、当該塗布層表面における二光束干渉法で観察される5次以上の干渉縞を有する突起の密度(個/mm^2)が0.7以上であることを特徴とする光学用ポリエステルフィルム。 - 特許庁




  
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