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「pattern Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > pattern Inspectionに関連した英語例文

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pattern Inspectionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1746



例文

PATTERN INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

パタン検査装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン検査方法および装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

パターン検査装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン検査装置 - 特許庁

例文

PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン検査方法及びその装置 - 特許庁


例文

PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン検査方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン検査装置及びパターン検査方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

パターン検査方法及びパターン検査装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE AND PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン検査装置、及び、パターン検査方法 - 特許庁

例文

PATTERN INSPECTION DEVICE AND PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン検査装置、及びパターン検査方法 - 特許庁

例文

PATTERN INSPECTION DEVICE AND PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン検査装置及びパターン検査方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン検査方法及びパターン検査装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

パターン検査方法およびパターン検査装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン検査装置およびパターン検査方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE AND PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン検査装置およびパターン検査方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン検査方法およびパターン検査装置 - 特許庁

PATTERN DATA INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターンデータ検査方法 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

回路パターン検査装置 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

回路パターン検査装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS, PATTERN INSPECTION METHOD, AND RETICLE例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法、及びレチクル - 特許庁

AUTOMATIC PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン自動検査装置 - 特許庁

AUTOMATIC PATTERN INSPECTION INSTRUMENT例文帳に追加

パターン自動検査装置 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE AND PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加

回路パターン検査装置及びパターン検査方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD, PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN PROCESSING APPARATUS例文帳に追加

パターン検査方法,パターン検査装置及びパターン処理装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

パターン検査方法及び検査装置 - 特許庁

WIRING PATTERN INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

配線パターン検査装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS, PATTERN INSPECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法およびプログラム - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS, PATTERN INSPECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法及びプログラム - 特許庁

PATTERN INSPECTION/MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

パターン検査・計測装置 - 特許庁

INSPECTION OF MASK PATTERN例文帳に追加

マスクパターンの検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

パターン欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD, PATTERN INSPECTION DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

パターン検査方法、パターン検査装置及びプログラム - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法およびプログラム - 特許庁

WIRING PATTERN INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

配線パタ—ン検査装置 - 特許庁

Pattern inspection is carried out by a reticle pattern inspection apparatus.例文帳に追加

レチクルパターン検査装置でパターン検査を行う。 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD OF PATTERN INSPECTION AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン検査方法及び検査装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン検査装置および検査方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION METHOD, AND TEST PIECE FOR INSPECTION例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法、及び検査対象試料 - 特許庁

ELECTRODE PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

電極パターン検査装置 - 特許庁

CONDUCTIVE PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

導電パターン検査装置 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

回路パターンの検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査方法 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS OF CIRCUIT PATTERN例文帳に追加

回路パターンの検査装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS, PATTERN INSPECTION METHOD AND INSPECTED PRODUCT例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法、及び被検査物 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE, AND CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加

回路パターン検査装置及び回路パターン検査方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE OF CIRCUIT PATTERN例文帳に追加

回路パターンの検査装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE OF PATTERN, INSPECTION METHOD OF PATTERN, AND MANUFACTURING METHOD OF THE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法及びデバイス製造方法 - 特許庁

INSPECTION REGION SETTING METHOD, PATTERN INSPECTION METHOD, AND PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

検査領域設定方法、パターン検査方法及びパターン検査装置 - 特許庁

例文

PATTERN INSPECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION METHOD AND STRUCTURE WITH PATTERN例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法、およびパターンを有する構造体 - 特許庁




  
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