「pattern Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

INSPECTION METHOD OF PATTERN FORMATION BODY例文帳に追加

パターン形成体の検査方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF PATTERN CONNECTING PRECISION例文帳に追加

パターン接続精度検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INSPECTION PATTERN AND SEMICONDUCTOR INSPECTION METHOD例文帳に追加

半導体検査パターン及び半導体検査方法 - 特許庁

IMAGING METHOD, PATTERN INSPECTION METHOD, IMAGING APPARATUS AND PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

撮像方法、パターン検査方法、撮像装置、及びパターン検査装置 - 特許庁

CREATION METHOD OF PATTERN INSPECTION DATA例文帳に追加

パターン検査データの作成方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD FOR RESIST PATTERN例文帳に追加

レジストパターンの欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION METHOD, RECORD MEDIUM HAVING RECORDED PROGRAM FOR PATTERN INSPECTION THEREON, AND RECORDED MEDIUM HAVING RECORDED DATA FOR PATTERN INSPECTION THEREON例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法、パターン検査用プログラムを記録した記録媒体、及びパターン検査用データを記録した記録媒体 - 特許庁

CYCLIC PATTERN NONUNIFORMITY INSPECTION DEVICE例文帳に追加

周期性パターンのムラ検査装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS, IMAGE DISPLAY APPARATUS, PATTERN INSPECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

パターン検査装置、画像表示装置、パターン検査方法およびプログラム - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD, PATTERN INSPECTION DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK, AND PATTERN TRANSFER METHOD例文帳に追加

パターン検査方法、パターン検査装置、フォトマスク製造方法、およびパターン転写方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン検査方法及びその装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

パターン検査方法及びその装置 - 特許庁

FLAW DETECTION METHOD OF PATTERN, AND FLAW INSPECTION DEVICE OF PATTERN例文帳に追加

パターン欠陥検出方法および検査装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

パターン検査方法及びその装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE FOR SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップのパターン検査装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

パターン検査方法及びその装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR PREPARING MASTER DATA FOR PATTERN INSPECTION例文帳に追加

パターン検査装置およびパターン検査のためのマスタデータの作成方法 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE, CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

回路パターン検査装置並びに回路パターン検査方法及び記録媒体 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF TIRE IRREGULARITY PATTERN, AND INSPECTION DEVICE OF TIRE IRREGULARITY PATTERN例文帳に追加

タイヤ凹凸図形の検査方法、および、タイヤ凹凸図形検査装置 - 特許庁

To improve pattern inspection accuracy for an inspection sample.例文帳に追加

被検査試料のパターン検査の精度を高めること。 - 特許庁

ILLUMINATION DEVICE AND PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

照明装置及びパタン検査装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE OF SEMICONDUCTOR CIRCUIT PATTERN例文帳に追加

半導体回路パターンの検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PATTERN INSPECTION例文帳に追加

パターン検査方法およびその装置 - 特許庁

WIRING PATTERN AND INSPECTION METHOD THEREOF例文帳に追加

配線パターン及びその検査方法 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN INSPECTION APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

回路パターン検査装置及び方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE AND ITS MANUFACTURE例文帳に追加

パターン検査装置およびその方法 - 特許庁

INSPECTION INSTRUMENT AND INSPECTION METHOD OF CIRCUIT PATTERN例文帳に追加

回路パターンの検査装置、および、回路パターンの検査方法 - 特許庁

IRREGULARITY INSPECTION DEVICE AND IRREGULARITY INSPECTION METHOD FOR CYCLIC PATTERN例文帳に追加

周期性パターンのムラ検査装置及びムラ検査方法 - 特許庁

FINE PATTERN FORMING APPARATUS AND FINE PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

微細パターン形成装置及び微細パターン検査装置 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN INSPECTING DEVICE AND CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加

回路パターン検査装置及び回路パターン検査方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS, PATTERN INSPECTION METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR CIRCUIT PATTERN INSPECTION例文帳に追加

回路パターン検査装置及び方法 - 特許庁

MICROSCOPIC PATTERN INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

微小パターン検査装置及び方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS, PATTERN INSPECTION METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF MICROSTRUCTURE例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法、および微細構造体の製造方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

パターン検査装置及びその方法 - 特許庁

PATTERN QUALITY INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン品質検査方法及び装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE OF PERIODIC PATTERN例文帳に追加

周期性パターンの欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁

PRINT PATTERN INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

印刷絵柄検査装置および方法 - 特許庁

CIRCUIT-PATTERN INSPECTION METHOD AND ITS APPARATUS例文帳に追加

回路パターン検査方法とその装置 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN DETECTOR AND CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加

回路パターン検出装置および回路パターン検査方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF EXPOSURE PATTERN AND RETICLE FOR PATTERN EXPOSURE例文帳に追加

露光パターンの検査方法及びパターン露光用レチクル - 特許庁

PATTERN FLAW INSPECTION METHOD, AND PATTERN FLAW INSPECTING DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法、及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁

IRREGULAR PATTERN INSPECTING APPARATUS AND IRREGULAR PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加

凹凸パターン検査装置及び凹凸パターン検査方法 - 特許庁

PATTERN DRAWING APPARATUS, METHOD FOR DRAWING PATTERN, AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

パターン描画装置、パターン描画方法、および検査装置 - 特許庁