「pattern Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

IMAGE CORRECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION DEVICE, IMAGE CORRECTION METHOD, AND PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン検査方法 - 特許庁

MASK PATTERN APPEARANCE INSPECTION METHOD, PROGRAM THEREFOR, AND MASK PATTERN APPEARANCE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

マスクパターン外観検査方法及びそのプログラム及びマスクパターン外観検査装置 - 特許庁

METHOD FOR VERIFICATION OF ROM INSPECTION PATTERN例文帳に追加

ＲＯＭ検査パターンの検証方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パターンの検査装置、パターンの検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF CIRCUIT PATTERN AND ITS DEVICE例文帳に追加

回路パターン検査方法とその装置 - 特許庁

PATTERN FLAW INSPECTION DEVICE, PATTERN FLAW INSPECTION METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING PHOTOMASK例文帳に追加

パターン欠陥検査装置、パターン欠陥検査方法、及びフォトマスクの製造方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS, METHOD FOR PREPARING APPROXIMATE CURVE, PATTERN INSPECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

パターン検査装置、近似曲線の作成方法、パターン検査方法およびプログラム - 特許庁

To provide a pattern inspection device enhanced in S/N ratio, and a pattern inspection method.例文帳に追加

Ｓ／Ｎ比が高いパターン検査装置及びパターン検査方法を提供する。 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE USING ELECTRON BEAM AND PATTERN INSPECTION METHOD USING ELECTRON BEAM例文帳に追加

電子線を用いたパターン検査装置、及び、電子線を用いたパターン検査方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

検査装置、検査方法及びパターン基板の製造方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

検査装置及び検査方法、パターン基板の製造方法 - 特許庁

To perform a highly accurate pattern inspection at a low inspection frequency.例文帳に追加

低い検査頻度で高精度のパターン検査を実現する。 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE FOR SUBSTRATE HAVING METAL PATTERN例文帳に追加

金属パターンを有する基板の検査方法及び検査装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD AND METHOD FOR PRODUCING PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

検査装置、検査方法及びパターン基板の製造方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION UNIT AND SEMICONDUCTOR INSPECTION SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

パターン検査装置およびそれを用いた半導体検査システム - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE AND METHOD, AND INSPECTION OBJECT SAMPLE例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法、及び検査対象試料 - 特許庁

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

検査装置、検査方法及びパターン基板の製造方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF CIRCUIT PATTERN例文帳に追加

回路パターンの欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

回路パターン検査装置およびその方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PATTERN INSPECTION例文帳に追加

パターン検査方法およびパターン検査装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

パターン検査装置およびパターン検査方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PATTERN INSPECTION例文帳に追加

パターン検査方法及びパターン検査装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PATTERN INSPECTION例文帳に追加

パターン検査装置及びパターン検査方法 - 特許庁

WIRING PATTERN INSPECTION METHOD, AND ITS DEVICE例文帳に追加

配線パターン検査方法及びその装置 - 特許庁

PERIODICITY PATTERN INSPECTION APPARATUS AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

周期性パターン検査装置および方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

回路パターン検査方法及びその装置 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

パターン検査装置およびパターン検査方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン検査方法およびパターン検査装置 - 特許庁

IMAGE CORRECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION DEVICE, IMAGE CORRECTION METHOD, AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR PATTERN INSPECTION例文帳に追加

パターン検査装置及びパターン検査方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

絵柄検査装置および絵柄検査方法 - 特許庁

IRREGULARITY DETECTION DEVICE AND PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ムラ検出装置及びパターン検査装置 - 特許庁

PATTERN OBSERVING DEVICE AND MASK INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン観察装置およびマスク検査装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR PATTERN INSPECTION例文帳に追加

パターン検査装置、及びパターン検査方法 - 特許庁

IRREGULARITY INSPECTION METHOD OF PERIODIC LUMINESCENCE PATTERN例文帳に追加

周期性発光パターンのムラ検査方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR MASK PATTERN例文帳に追加

マスクパターンの検査装置及び検査方法 - 特許庁

PERIODIC PATTERN INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

周期性パターンの検査方法及び装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR COMPOSITE PATTERN AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

合成パターンの検査方法及び装置 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE AND METHOD OF INSPECTING CIRCUIT PATTERN THEREOF例文帳に追加

回路パターン検査装置及びその回路パターン検査方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

検査装置及び検査方法並びにパターン基板の製造方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

検査装置及び検査方法、並びにパターン基板の製造方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

検査装置及び検査方法並びにパターン基板の製造方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD OF DIFFRACTION STRUCTURE PATTERN DISPLAY BODY例文帳に追加

回折構造絵柄表示体の検査装置及び検査方法 - 特許庁