| 例文 (9件) |
random test generationの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 9件
TEST CIRCUIT FOR RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT, AND TEST METHOD FOR RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT例文帳に追加
乱数発生回路用テスト回路及び乱数発生回路用テスト方法 - 特許庁
RANDOM NUMBER GENERATION TEST METHOD AND RANDOM NUMBER GENERATION TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
乱数生成検定方法及びこれを用いた乱数生成検定装置 - 特許庁
To provide a test circuit and test method for a random number generation circuit, capable of easily setting an operation time for generating random numbers which never cause collision to the random number generation circuit.例文帳に追加
乱数発生回路に対して衝突が発生しない乱数を発生させるための動作時間の設定を簡単に行うことができる乱数発生回路用テスト回路及び乱数発生回路用テスト方法を提供する。 - 特許庁
In the branch prediction circuit test device 1, a random instruction generation part 11 generates a random instruction sequence, and a test execution control part 12 makes a device 2 of the test object execute the instruction sequence.例文帳に追加
分岐予測回路試験装置１のランダム命令生成部１１がランダム命令列を生成し、試験実行制御部１２が該命令列を被試験対象装置２に実行させる。 - 特許庁
This system characteristically comprises: the random number generation means for generating the random number using at least one among the lot number of the test object, the number of wafer number, and the coordinate representing the position on the wafer; and the data collection means for selecting and collecting the test result data from the test result memory by the random number by the random data generation means.例文帳に追加
本システムは、被試験対象のロット番号、ウェハ番号、ウェハ上の位置を示す座標の少なくとも１つを用いて乱数を発生する乱数発生手段と、この乱数発生手段の乱数により、試験結果記憶部から試験結果データを選択して収集するデータ収集手段とを備えたことを特徴とするシステムである。 - 特許庁
A semiconductor device includes a test object circuit (700), scan chains (650) that enable scanning of the test object circuit, and a first random generation circuit (100) that forms a test pattern supplied to the scan chains.例文帳に追加
テスト対象回路（７００）と、上記テスト対象回路のスキャンを可能とするスキャンチェイン（６５０）と、上記スキャンチェインに供給されるテストパタンを形成するための第１乱数発生回路（１００）とを設ける。 - 特許庁
The generation of the test program is performed by use of a test program-generating component group 101, a test program-generating component embodiment part 102, a random number generator 103, and a test program generator 100 having a test program output part 104.例文帳に追加
テストプログラムの生成は、テストプログラム生成用部品群１０１と、テストプログラム生成用部品具現化部１０２と、乱数器１０３と、テストプログラム出力部１０４とを備えたテストプログラム生成器１００を用いて行われる。 - 特許庁
This soft non-woven fabric is constituted by fibers consisting of a resin containing a propylene/ethylene random copolymer having 4.0-10.0 mol% ethylene content, as a main component, and has ≤10 KOSHI value and ≤0.2 mg/cm2 amount of piling generation in its abrasion test.例文帳に追加
柔軟性不織布は、エチレン含有量４．０〜１０．０ｍｏｌ％のプロピレン・エチレンランダム共重合体を主成分とする樹脂からなる繊維で構成され、KOSHI値が１０以下であり、かつ摩擦堅牢試験におけるよれ玉発生量が０．２ｍｇ／ｃｍ^2以下のものである。 - 特許庁
In this test circuit device, self-fault diagnosis for the self fault diagnosis circuit comprising a random number generation circuit part 101, a scan chain part 102, a counter circuit part 103 and a decision circuit part 104 is executed, and the output of a state hold register 105 is changed, on the basis of the result of the self fault diagnosis.例文帳に追加
乱数発生回路部１０１、スキャンチェーン部１０２、カウンタ回路部１０３、判定回路部１０４から成る自己故障診断回路の自己故障診断を行い、自己故障診断の結果から状態保持レジスタ１０５の出力を変化する。 - 特許庁
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