siⁿ-kの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8件
Information e[k]=M*sin(ψ) representing the phase difference ψ between the input data x[k] and the output data y[k] is calculated with the first and second orthogonalizers 3 and 4 and the phase difference calculator 5.例文帳に追加
第1,第2直交化器3,4及び位相差算出器5で入力データx[k]と出力データy[k]の位相差ψを示す情報e[k]=M・sin(ψ)を算出する。 - 特許庁
A second generating part 64 generates a numerical string CB comprising a coefficient value CB(k) corresponding to a phase difference of each frequency between the sound signal SIN_L and the sound signal SIN_R in accordance with a difference between an amplitude sum of the respective sound signal SIN_L and sound signal SIN_R and amplitude of the sum component M of the both sound signals SIN_L and SIN_R.例文帳に追加
第2生成部64は、音響信号SIN_Lと音響信号SIN_Rとの周波数毎の位相差に応じた係数値CB[k]で構成される数値列CBを、音響信号SIN_Lおよび音響信号SIN_Rの各々の振幅和と両者の和成分Mの振幅との相違に応じて生成する。 - 特許庁
Therefore, the height of the reticle 1' can be measured as h=x/(k×sin θ).例文帳に追加
従って、レチクル1’の高さは、h=x/(k・sinθ)として測定できる。 - 特許庁
A signal processing part 38 makes the respective coefficient values (Ge(k) and Gs(k)) of the processing coefficient string (Ge and Gs) act on respective frequency components (LAk(e^jω) and RAk(e^jω)) of the sound signal SIN_L and the sound signal SIN_R.例文帳に追加
信号処理部38は、音響信号SIN_Lおよび音響信号SIN_Rの各々の各周波数成分(LAk(e^jω),RAk(e^jω))に処理係数列(Ge,Gs)の各係数値(Ge[k],Gs[k])を作用させる。 - 特許庁
Each of unit processing sections U[n] creates a processing coefficient sequence Ge_n comprised of coefficient values Ge[1]_n to Ge[K] for each frequency from stereo acoustic signals SIN_L and SIN_R.例文帳に追加
各単位処理部U[n]は、周波数毎の係数値Ge[1]_n〜Ge[K]で構成される処理係数列Ge_nをステレオ形式の音響信号SIN_Lおよび音響信号SIN_Rから生成する。 - 特許庁
A first generating part 62 generates a numerical string CA (sequence of coefficient values CA(k) of each frequency) that emphasizes or suppresses the normal position component of a specific position in a sound signal SIN_L and a sound signal SIN_R of a stereo type.例文帳に追加
第1生成部62は、ステレオ形式の音響信号SIN_Lおよび音響信号SIN_Rにおける特定位置の定位成分を強調または抑圧する数値列CA(周波数毎の係数値CA[k]の系列)を生成する。 - 特許庁
In relation to the upper p-SiN film 12, the real part (n) of the complex index of refraction is set in the range of 1.7-2.4, the imaginary part (k) in the range of 0.15-0.75 and the film thickness in the range of 10-40 nm.例文帳に追加
上層p−SiN膜12に関して、複素屈折率の実部nを1.7以上2.4以下の範囲内に、虚部kを0.15以上0.75以下の範囲内に及び膜厚を10nm以上40nm以下の範囲内に設定している。 - 特許庁
In relation to the lower p-SiN film 11, the real part (n) of the complex index of refraction is set in the range of 1.9-2.5, the imaginary part (k) in the range of 0.9-1.7 and the film thickness in the range of 20-60 nm.例文帳に追加
下層p−SiN膜11に関して、複素屈折率の実部nを1.9以上2.5以下の範囲内に、虚部kを0.9以上k以下1.7の範囲内に及び膜厚を20nm以上60nm以下の範囲内に設定している。 - 特許庁
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