| 例文 (9件) |
str1を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 9件
A variable length encoder VLC1 uses the reference image number XchgRefNo1 whose sequence is rearranged for the reference image number, encodes a motion vector MV and motion compensation prediction error encoding data Vdif altogether and outputs an encoded signal Str1.例文帳に追加
可変長符号化器VLC1は、順序を並べ替えた参照画像番号XchgRefNo1を参照画像番号として、動きベクトルMVおよび動き補償予測誤差符号化データVdifとまとめて符号化し、符号化信号Str1を出力する。 - 特許庁
Meanwhile, stress STR1 which has been given to the catalyst is estimated, and a performance index value OSCe corresponding to the estimated stress is estimated from a predetermined relation L between a stress STR and a performance index value OSC.例文帳に追加
その一方で、触媒に与えられてきたストレスＳＴＲ１を推定し、推定されたストレスに対応した性能指標値ＯＳＣｅを、ストレスＳＴＲと性能指標値ＯＳＣとの間の所定の関係Ｌから推定する。 - 特許庁
Each of key switches SW1-SW6 short-circuits one end of a corresponding resistance R with a terminal end of a resistant string part STR1 according to input of keys KEY 1-KEY 6 assigned thereto, respectively.例文帳に追加
キースイッチＳＷ１〜ＳＷ６は、それぞれ割当てられたキーＫＥＹ１〜ＫＥＹ６の入力に応じて、対応の抵抗Ｒの一端と抵抗ストリング部ＳＴＲ１の終端とを短絡する。 - 特許庁
In addition, the substrate treatment apparatus 1 is provided with a carrying robot 20 or 22 for receiving and delivering the substrate between the main carrying path MTR and the sub carrying paths STR1 and STR2.例文帳に追加
また、主搬送経路ＭＴＲと副搬送経路ＳＴＲ１，ＳＴＲ２との間で基板の受け渡しをする搬送ロボット２０ないし２２を設ける。 - 特許庁
In the main bit line MBL0 side selected as a reference side, a transistor STr1 for selecting a sub-bit line is controlled to OFF by a control line LSG 3, and a sub-bit line SBL 1 is made non-selection.例文帳に追加
リファレンス側として選択される主ビット線ＭＢＬ０側では、制御線ＬＳＧ３により副ビット線選択用トランジスタＳＴｒ１をオフに制御して、副ビット線ＳＢＬ１を非選択とする。 - 特許庁
A second power shutdown switch (STR1) is provided between the power supply line and the internal power supply line, and has a current supply capability that an on-state current is raised to an amplitude capable of supplying current consumption in the circuit block.例文帳に追加
第２電源遮断スイッチ（ＳＴＲ１）は、電源線と内部電源線との間に設けられ、オン電流が回路ブロックの消費電流を供給可能な大きさになる電流供給能力を有する。 - 特許庁
A pin electronics 17 of this semiconductor testing device 1 includes a sub-driver control circuit 20, a main driver MDR1, a sub-driver SDR1, a comparator COMP1, a control transistor STR1, a switch SW1, a resistance R1 and a resistance R2.例文帳に追加
半導体試験装置１のピンエレクトロニクス１７には、サブドライバ制御回路２０、メインドライバＭＤＲ１、サブドライバＳＤＲ１、コンパレータＣＯＭＰ１、制御トランジスタＳＴＲ１、スイッチＳＷ１、抵抗Ｒ１、及び抵抗Ｒ２が設けられる。 - 特許庁
For example, the substrate which is not to be etched is by-passed to carry the etching unit 50 by selecting the sub carrying path STR1 by a control unit 80 and carrying the substrate to the conveyer 30 by the carrying robot 20.例文帳に追加
このような構成において、例えば、エッチング処理を行わない基板は、制御部８０が副搬送経路ＳＴＲ１を搬送経路として選択し、搬送ロボット２０がコンベア３０に搬送することにより、エッチングユニット５０を迂回搬送する。 - 特許庁
As the carrying paths of the substrate, the substrate treatment apparatus 1 is provided with a main carrying path MTR via an etching unit 50 and a peeling unit 51, a sub carrying path STR1 (conveyer 30) by-passing the etching unit 50, and a sub carrying path STR2 (buffer 41) by-passing the peeling unit 51.例文帳に追加
基板処理装置１において、基板の搬送経路として、エッチングユニット５０および剥離ユニット５１を経由する主搬送経路ＭＴＲと、エッチングユニット５０を迂回する副搬送経路ＳＴＲ１（コンベア３０）と、剥離ユニット５１を迂回する副搬送経路ＳＴＲ２（バッファ４１）とを設ける。 - 特許庁
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