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structural testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5件
That is, the collision testing device 1 enables the vehicle structural members to collide against the dummy DM not only by simply moving the vehicle structural members (for example as shown in Figure 10) but also by moving the vehicle structural members in a state that the vehicle structural member at different position has the different driving speed.例文帳に追加
すなわち、衝突試験装置1は、単に車両構造部材を移動させてダミーに衝突させる(例えば、図10参照)のみならず、位置によって異なる速度で移動させた状態にて車両構造部材をダミーDMに衝突させることが可能となる。 - 特許庁
An Ethernet-OAM testing apparatus stores structural information for artificially generating a network structure at each of a plurality of testings.例文帳に追加
Ethernet−OAM試験装置は、複数の試験ごとにネットワーク構成を擬似的に生成するための構成情報を記憶する。 - 特許庁
A collision testing device 1 has actuators 4A, 4B, 4C, 4D and 4E which move vehicle structural members of a vehicle toward a side of a mounting section 3 where a dummy DM is placed.例文帳に追加
衝突試験装置1は、ダミーDMが載置される載置部3側に向かって車両構造部材を移動させるアクチュエータ4A,4B,4C,4D,4Eを備えている。 - 特許庁
To provide a semiconductor module and its tester facilitating high-density mounting of electronic components, structural designing, testing, and failure analysis of semiconductor modules and to provide a small semiconductor module having a high frequency circuit capable of preventing or reducing deterioration of high frequency characteristics due to influence of internal wiring and excelling in test convenience.例文帳に追加
電子部品の高密度実装や半導体モジュールの構造設計、検査および故障解析などが容易である半導体モジュールとその検査装置を提供し、さらには、高周波回路を有する小型の半導体モジュールにおいて、内部配線の影響による高周波特性の劣化が防止あるいはより低減され且つ検査の利便性に優れた半導体モジュールを提供すること。 - 特許庁
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