1153万例文収録!

「systematic sample」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > systematic sampleに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

systematic sampleの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5



例文

Then the system evaluates systematic deviations of feature parts between the passage of the first sample through the first separation column and the passage of the second sample through the second separation column.例文帳に追加

次いで、当該システムは、第1サンプルによる第1分離カラムの通過と第2サンプルによる第2分離カラムの通過との間の特徴部の系統的な偏移を評価する。 - 特許庁

To provide a device for cooling a cassette magazine containing a tissue sample capable of simultaneously performing the systematic keeping and cooling of the cassette magazine containing the tissue sample by a simple way.例文帳に追加

簡単なやり方で組織試料を含むカセットマガジンの体系的な保管と同時に冷却を可能とする、組織試料を含むカセットマガジンの冷却装置を提供する。 - 特許庁

The system adjusts the second feature part set detected on the passage of the second sample through the second separation column on the basis of evaluated systematic deviations to acquire an adjusted third feature part set.例文帳に追加

そして当該システムは、評価した系統的偏移に基づいて、第2サンプルによる第2分離カラムの通過について検出された第2の特徴部セットを調整し、調整された第3の特徴部セットを得る。 - 特許庁

Two points of the auxiliary sample 114 disposed in the periphery of the sample are measured by the displacement sensors 134, 136, and its surface shape is acquired, thereby enabling errors of a straightness error of the linear-movable slide 142, a rotational motion error of the rotatable spindle 112 and systematic errors caused by thermal expansion and the like to be all eliminated.例文帳に追加

試料外周部に設けた補助試料114を変位センサ134,136で2点測定して、表面形状を求めておくことにより、直動スライド142の真直度誤差、回転スピンドル112の回転運動誤差、熱膨張などによる系統誤差を全て除去できるようにしている。 - 特許庁

例文

Corrected wavelength values λ' are calculated, wherein a systematic error of the wavelength λ is corrected by the error quantity determined beforehand relative to acquired spectrum data (S2), and then the refractive index n' of a sample film is determined in each corrected wavelength value λ' (S3).例文帳に追加

取得されたスペクトルデータに対し、予め求めておいた誤差量により波長λの系統誤差を補正した修正波長値λ’を算出した後(S2)、各修正波長値λ’毎に試料膜の屈折率n’を求める(S3)。 - 特許庁





  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS