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test moduleの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 413件
SEMICONDUCTOR TEST MODULE例文帳に追加
半導体試験モジュール - 特許庁
TEST MODULE AND METHOD FOR COMPARISON TEST例文帳に追加
テストモジュールおよび比較テストのための方法 - 特許庁
The second test module also returns the test pattern to the first interconnect test module.例文帳に追加
第2のテストモジュールは、テストパターンを、第1の相互接続部テストモジュールに戻すこともできる。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, COMMUNICATION MODULE TEST DEVICE, WAFER TEST DEVICE, AND WAFER例文帳に追加
半導体テスト装置、通信モジュールテスト装置、ウエハテスト装置、およびウエハ - 特許庁
TEST METHOD OF MEMORY, TEST DEVICE AND MEMORY MODULE FOR TESTING例文帳に追加
メモリのテスト方法、テスト装置及びテスト用メモリモジュール - 特許庁
To provide a test apparatus, a synchronization module and a synchronization method which can synchronize a plurality of test modules.例文帳に追加
複数の試験モジュールの試験を同期させる。 - 特許庁
Each test module performs a test on a corresponding test object device on a test site.例文帳に追加
各テストモジュールは、テストサイトにおいて対応するテスト対象装置上でテストを行う。 - 特許庁
This test sequencer includes a management module and an execution module.例文帳に追加
本テストシーケンサは、管理モジュールと実行モジュールを含む。 - 特許庁
TEST SYSTEM AND MODULE CONTROL METHOD例文帳に追加
試験システム及びモジュール制御方法 - 特許庁
SYSTEM FOR CONTROLLING MODULE TEST IN IC CHIP例文帳に追加
ICチップ内モジュールテスト制御方式 - 特許庁
TEST CASSETTE OF OPTICAL SEMICONDUCTOR MODULE例文帳に追加
光半導体モジュールの試験用カセット - 特許庁
CARRIER MODULE FOR SEMICONDUCTOR TEST HANDLER例文帳に追加
半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール - 特許庁
SEMICONDUCTOR TEST MODULE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体試験モジュールおよび半導体装置の試験方法。 - 特許庁
CARRIER MODULE FOR PLATE TYPE PACKAGE AND TEST TRAY CONTAINING CARRIER MODULE例文帳に追加
板型パッケージ用キャリアモジュール及びこれを含むテストトレイ - 特許庁
MULTICHIP MODULE AND ITS CONNECTION TEST METHOD例文帳に追加
マルチチップモジュール及びその接続テスト方法 - 特許庁
SOLAR CELL MODULE RELIABILITY TEST APPARATUS AND SOLAR CELL MODULE RELIABILITY TEST METHOD例文帳に追加
太陽電池モジュールの信頼性試験装置、及び太陽電池モジュールの信頼性試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, MEMORY MODULE AND TEST METHOD OF MEMORY MODULE例文帳に追加
半導体記憶装置、メモリモジュール及びメモリモジュールの検査方法 - 特許庁
OPTICAL-MODULE TEST APPARATUS AND MEASUREMENT METHOD OF OPTICAL MODULE CHARACTERISTICS例文帳に追加
光モジュール試験装置及び光モジュール特性の測定方法 - 特許庁
DURABILITY TEST APPARATUS OF SOLAR CELL MODULE例文帳に追加
太陽電池モジュールの耐久性試験装置 - 特許庁
CARRIER MODULE FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST HANDLER, AND TEST ARRAY PROVIDED THEREWITH例文帳に追加
半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール及びこれを備えたテストトレイ - 特許庁
ANALYTICAL TEST STRIP HAVING ELECTROLUMINESCENT MODULE例文帳に追加
電子発光モジュールを有する分析用試験片 - 特許庁
KELVIN CONTACT MODULE FOR MICROCIRCUIT TEST SYSTEM例文帳に追加
超小型回路テストシステム用のケルビンコンタクトモジュール - 特許庁
POWER SEMICONDUCTOR MODULE AND TEST METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
パワー半導体モジュールおよびその試験方法 - 特許庁
DUAL IN-LINE MEMORY MODULE AND TEST SYSTEM THEREFOR例文帳に追加
テスト用デュアルインラインメモリモジュール及びそのテストシステム - 特許庁
HEAT GENERATION COMPENSATING DEVICE FOR MODULE IC TEST HANDLER例文帳に追加
モジュールICのテストハンドラ用発熱補償装置 - 特許庁
TEST SYSTEM FOR MULTI CHIP MODULE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
マルチチップモジュールのテストシステム及びその製造方法 - 特許庁
TEST SPRING MODULE AND FIXTURE FOR INSERTING WIRING CONNECTION TERMINAL INTO TEST SPRING MODULE例文帳に追加
試験弾器モジュール及び該試験弾器モジュールの内部に配線接続用端子を圧入するための治具 - 特許庁
To use effectively a resource carried by a test module.例文帳に追加
試験モジュールが有するリソースを有効に使用する。 - 特許庁
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