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test moduleの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 413件
To provide a memory module test device which operates at a high speed by solving problems of round trip delay time and impedance mismatching.例文帳に追加
ラウンドトリップ遅延時間及びインピダンス不整合の問題を解決することにより、高速で動作するメモリモジュールのテスト装置を提供する。 - 特許庁
To provide a driving module of a plasma display panel which has a function to detect a PKG, that is conducting an abnormal operation, by means of a test signal.例文帳に追加
テスト信号により、異常な動作をしているPKGを検出する機能を有するプラズマディスプレイパネルの駆動モジュールを提供する。 - 特許庁
To provide a connection test circuit for determining the connection state between each pad simply and quickly in a COC type multichip module.例文帳に追加
COC型のマルチチップモジュールにおいて、パッド同士の接続状態を簡易迅速に判定するための接続テスト用回路を提供する。 - 特許庁
To provide a solar cell string and a solar cell module which ensure reliability in a high-temperature keeping test and a high temperature cycle.例文帳に追加
高温保持試験並びに高温温度サイクルでの信頼性を確保できる太陽電池ストリング及び太陽電池モジュールを提供する。 - 特許庁
A display device and other output parts are installed to output information about the battery condition from the battery test module.例文帳に追加
また、バッテリテストモジュールからの蓄電池状態の情報を出力するために、表示装置やその他の出力部が設置されている。 - 特許庁
By using this system, the simulation and the test of the decentralized process control system software and control module are made possible.例文帳に追加
このシステムを使用することによって、分散型処理制御システムソフトウェアおよび制御モジュールのシミュレーションおよびテストを可能にする。 - 特許庁
The curses. ascii module supplies name constants for ASCII characters and functions to test membership in variousASCII character classes.例文帳に追加
curses.ascii モジュールでは、 ASCII 文字を指す名前定数と、様々な ASCII 文字区分についてある文字が帰属するかどうかを調べる関数を提供します。 - Python
To provide an information processor capable of exchanging a memory module to one of the same size whose specifications such as a bank configuration differ and performing a memory test when re-installing an identical memory module.例文帳に追加
同じサイズながらバンク構成などの仕様が異なるメモリモジュールに交換したり、同一メモリモジュールを装着し直したりする際にもメモリテストを実施できる情報処理装置を提供する。 - 特許庁
To provide a carrier module for semiconductor element test handler capable of stably grasping and transferring a semiconductor element even in a case that the semiconductor element includes a lead or ball distributed over the whole area or in the periphery, and stably connecting it to a test socket to test it.例文帳に追加
リード、またはボールが半導体素子の全領域や周縁に分布される場合にも、半導体素子を安定的に把持して移送すると共に、テストソケットに安定的に接続させ、テストができるようにした、半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュールを提供する。 - 特許庁
This multichip module is equipped with a plurality of semiconductor chips 102, 103 wherein each input-output cell 106, 107 is connected respectively to an external terminal 108 of the multichip module 101, and test circuits 104, 105 for the multichip module for setting optionally the state of the input-output cells.例文帳に追加
各入出力セル106、107がマルチチップモジュール101の外部端子108にそれぞれ接続される複数の半導体チップ102、103と、入出力セルの状態を任意に設定するマルチチップモジュール用テスト回路104、105と、を備える。 - 特許庁
The irregular luminance adjusting module 40 obtains a luminance correction factor for every light emitting element through a test print in order to eliminate the irregular luminance of the light emitting element.例文帳に追加
発光素子の輝度むらをなくすために、テストプリントを通じて発光素子毎の輝度補正係数を求める輝度むら調整モジュール40。 - 特許庁
To accurately evaluate durability by accurately controlling the test temperature of a power module without separately providing a temperature detection means.例文帳に追加
別途温度検出手段を設けることなく、精度よくパワーモジュールの試験温度を制御して耐久性能を精度良く評価することができる。 - 特許庁
Test data for a circuit module 24 inputted from a TIN terminal during testing operation sequentially shifts scan cells from 31,1 to 31,4, 32,1 to 32,4, 33,1 to 33,4, and to 34,1 to 34,4.例文帳に追加
テスト動作時にTIN端子から入力された回路モジュール2_4のテストデータがスキャンセル3_1,1 〜3_1,4 ,3_2,1 〜3_2,4 ,3_3,1 〜3_3,4 ,3_4,1 〜3_4,4 を順にシフトする。 - 特許庁
The processor 330 is programmed to test for the presence/absence of a controller module 340 through each of the plurality of data ports.例文帳に追加
プロセッサ330は、交互に、これらの複数のデータ・ポートのそれぞれを通じてコントローラ・モジュール340の有無をテストするようにプログラムされている。 - 特許庁
To provide a circuit module having circuit blocks in multiple stages and a function for executing the operation test only of the target circuit block.例文帳に追加
複数段の回路ブロックを備え、動作テストの対象となる回路ブロックのみの動作テストを行う機能を設けた回路モジュールを提供する。 - 特許庁
To reduce an electric current consumption in an operation time of an electronic circuit caused by a test module for testing the electronic circuit.例文帳に追加
電子回路を試験する試験モジュールに起因する電子回路の動作時の電流消費を低減する方法およびデバイスを提供すること。 - 特許庁
To reduce a difference characteristics in a sealing state and those at the time of characteristic test, of an optical module including a semiconductor optical element of which the end face is sealed.例文帳に追加
半導体光素子を含み、その端面を封止した光モジュールにおいて、封止状態と特性検査時での特性の差を小さくする。 - 特許庁
The system profile includes a set of compatible vendor software components and a selected TOS for testing a particular hardware test module version.例文帳に追加
システムプロファイルは、1組の互換性のあるベンダソフトウェアコンポーネントと、特定のハードウェア試験モジュールバージョンを試験する選択されたTOSとを含む。 - 特許庁
To provide an aligner lifting device of a handler capable of correctly accommodating a device in a carrier module of a test tray without generating the deflection.例文帳に追加
テストトレイのキャリアモジュールにデバイスの撓みが発生しないように正確に収容することができるハンドラーのアライナ上昇装置を提供する。 - 特許庁
If so, that module provides a DocTestSuite class that can automatically buildunittest.TestSuite instances from the existing test code.New in version 2.3. 例文帳に追加
その場合、モジュールは既存のテストコードから unittest.TestSuite インスタンスを自動的に構築できる DocTestSuite クラスを提供します。 バージョン 2.3 で 新たに追加 された仕様です。 - Python
To provide an IC test system capable of dispensing with additional installation of a time measuring module, and enlarging a measuring throughput at a low measurement cost.例文帳に追加
時間測定モジュールの増設等を不要とし、低い測定コストで、測定スループットを拡大するICテストシステムを提供することである。 - 特許庁
Module type measuring devices 9a, 9b, having a plurality of measurement modules 12-17 to which sensors 1 each measuring at least one of values of temperature, strain and acceleration of the product under test are connected, are arranged on the product under test side.例文帳に追加
供試体側にはこの供試体の温度,ひずみ,加速度の少なくともいずれかを測定するセンサ1が接続される測定モジュール12〜17を複数個有するモジュール型計測器9a,9bを配置する。 - 特許庁
In the image forming device, a reflection-type sensor module 16 employs an ultraviolet LED light source 40, and therefore even if the test pattern is printed in any of C, M, Y, and K colors, a pattern of the highest concentration can be discriminated with high precision from the test pattern.例文帳に追加
反射型センサモジュール16に紫外LED光源40を用いているので、CMYKいずれの色で印字されたテストパターンでも、高い精度で最も濃度の濃いパターンを判別することができる。 - 特許庁
A test module part 22 of the display unit 2 selectively transfers the change notification of a preregistered picture or picture configuration components with a test procedure execution engine part 12, and the engine part 12 performs operation confirmation.例文帳に追加
同表示器2内の試験モジュール部22は、予め登録された画面又は画面構成部品の表示変更通知を選択的に試験手順実行エンジン部12との間でやり取りし、同部12は動作確認を行う。 - 特許庁
The camera module 40 picks up the image of a test pattern on a test target 86 and the focusing accuracy is determined from the image forming state and the microcontroller 82 judges whether a barrel 40 is extended or not.例文帳に追加
カメラモジュール40がテストターゲット86上のテストパターンの画像を撮像し、その画像結像状態から焦点調節精度が求められて、マイクロコントローラ82はバレル40を繰り出すか繰り込むかを判定する。 - 特許庁
The focus control device for a camera module to control a focus by using test charts is provided with a magnifying glass 6, and first chart 2 and second charts 3-5 which are used for test charts.例文帳に追加
この発明は、テストチャートを用いてフォーカス調整を行なうカメラモジュールのフォーカス調整装置にかかり、拡大鏡6と、テストチャートとなる少なくとも第1のチャート2および第2のチャート3,4,5とを備える。 - 特許庁
In the insulation test method and apparatus for the solar battery module, part of or all the solar battery module is covered with a hydrophilic element that soaks an electrically conductive solution, and a voltage is applied between the solar battery module covered with the hydrophilic element and the output terminal of the solar battery module so that insulation performance of the solar battery module can be detected.例文帳に追加
太陽電池モジュールの絶縁試験方法または装置において、電気伝導性を有する液体を吸水した吸水性の素材で太陽電池モジュールの一部または全部を覆い、該素材で覆われた太陽電池モジュールと該太陽電池モジュールの出力端子との間に電圧を印加し、該太陽電池モジュールの絶縁性能を検出するように構成する。 - 特許庁
A measuring part 4 is equipped with a calibration liquid tank 41 into which calibration liquid is introduced, a test water tank 42 into which test water is introduced, a tube 43 for partitioning the calibration liquid tank 41 from the test water tank 42, and a cleaning member 44 for cleaning the detection part 34 of the sensor module 3.例文帳に追加
測定部4は、校正液が導かれる校正液槽41と、検水が導かれる検水槽42と、校正液槽41と検水槽42とを仕切るためのチューブ43と、センサモジュール3の検出部34を洗浄するための洗浄部材44と、を備えている。 - 特許庁
In the hub, memory module, memory system and reading method and writing method, test writing and test reading can be carried out on all the memory modules, memory devices and memory units by bypassing identification information on the memory modules, memory devices and memory units in a test mode.例文帳に追加
ハブ、メモリモジュール、メモリシステム、及びこれについての読み込み方法及び書き込み方法は、テストモードである時には、メモリモジュール、メモリ装置、乃至メモリユニット識別情報を無視することにより、全てのメモリモジュール、メモリ装置、乃至メモリユニットにテスト書き込み又はテスト読み込みを行うことができる。 - 特許庁
To provide a test method for testing a general-purpose memory incorporated in a multi-chip module without preparing a special circuit for the testing.例文帳に追加
本発明は、試験用の特別な回路を設けることなくマルチチップモジュール内蔵の汎用メモリを試験する試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
The circuit for setting up common voltage to be used for a display panel 113 is provided with a voltage dividing circuit 120, a coupler 109, a switch 111, and a test module 117.例文帳に追加
表示パネル113に用いるコモン電圧の設定回路は、分圧回路120、結合器109、スイッチ111及びテストモジュール117を備える。 - 特許庁
Thus, a test point is extracted while linked with the change situation of the program module, and a retest place caused by function addition is easily specified.例文帳に追加
これにより、プログラムモジュールの変更状況に連動して試験ポイントが抽出され、機能追加に起因する再試験箇所が容易に特定される。 - 特許庁
Calibration is performed by acquiring an S parameter by using an unknown-though method, with an RF power source, two cables, a multi-stage impedance module and a test port connector.例文帳に追加
RF電源、2つのケーブル、マルチステートインピーダンスモジュール、テストポートコネクタを有し、アンノウンスルー法を用いてSパラメータを取得してキャリブレーションを行う。 - 特許庁
The test terminal 14 is formed while being not in contact with the surface of a printed circuit board when the semiconductor module 100 is mounted on the printed circuit board.例文帳に追加
検査用端子14は、半導体モジュール100をプリント基板に実装した際に、プリント基板の表面と接触しないように形成される。 - 特許庁
A parameter extraction module 24 extracts the 1st parameter value from the carrier stream and a decoder 22 extends the carrier stream and generates a test video signal.例文帳に追加
パラメータ抽出モジュール24は、搬送ストリームから第1パラメータ値を抽出し、デコーダ22は、搬送ストリームを伸長して試験ビデオ信号を発生する。 - 特許庁
To provide a module executable by a processor of a clinical diagnostic analyzer for detecting a questionable test result in the clinical diagnostic analyzer.例文帳に追加
臨床診断分析機における疑わしい試験結果を検出するための、臨床診断分析機のプロセッサで実行可能なモジュールを提供する。 - 特許庁
A test signal is modulated so that the frequency varies with time and fault of the transmission/reception module is diagnosed from relation between an evaluation formula and a threshold value.例文帳に追加
試験信号を時間経過とともに周波数が変化するように変調し、評価式と閾値との関係から送受信モジュールの故障を診断する。 - 特許庁
The execution module is executed to generate an execution log recording transmitting and receiving messages exchanged between the test object program and the pseudo program in time series.例文帳に追加
実行モジュールを実行し、試験対象プログラムと擬似プログラムの間で交わされた送受信メッセージを時系列に記録した実行ログを生成する。 - 特許庁
For debugging, a host substrate is connected with a connection connector 142 of a 1394 test substrate 100, and a 1394 functional module is connected with a connection connector 141.例文帳に追加
デバッグ時には、ホスト基板を1394試験基板100の接続用コネクタ142で接続し、接続用コネクタ141で1394機能モジュールを接続する。 - 特許庁
The test signal generator includes: a FPGA 21; a memory 22 whose circuit data are referenced by the FPGA 21; and a connector 26 to which a module board 10 to be inspected is connected.例文帳に追加
FPGA21と、このFPGA21が回路データを参照するメモリ22と、被検査モジュール基板10が接続されるコネクタ26とを設ける。 - 特許庁
To provide an access method by which the number of input pins of a memory can be decreased in order to reduce electrical wiring density of a memory module, and to save test costs of a memory chip.例文帳に追加
メモリモジュールの電気配線密度を減らし、メモリチップの試験費用節減のために、メモリの入力ピン数を減少できるアクセス方法を提供する。 - 特許庁
To provide a technology for facilitating operation test of individual semiconductor elements in a semiconductor module having a plurality of semiconductor elements.例文帳に追加
複数の半導体素子を有する半導体モジュールにおいて、個々の半導体素子の動作試験を容易に行うことができる技術を提供する。 - 特許庁
When the total amount of a memory module passing the test is more than required, an image work memory is constituted of teh accepted memory modules.例文帳に追加
テストに合格したメモリモジュールの総メモリ量が、必要とされる画像用ワークメモリより多い場合、それらの合格メモリモジュールから、画像用ワークメモリを構成する。 - 特許庁
A local Pearson mutual correlation coefficient module 46 forms a local Pearson mutual correlation coefficient image based on the representative test line and the representative reference line.例文帳に追加
ローカル・ピアソン相互相関係数モジュール46は代表試験ライン及び代表基準ラインに基づいてローカル・ピアソン相互相関係数画像を生成する。 - 特許庁
When the total memory amount of a memory module passing the test is less than the required image work memory, the IC itself is not manufactured as a defecting item.例文帳に追加
テストに合格したメモリモジュールの総メモリ量が、必要とされる画像用ワークメモリより少ない場合、そのIC自体を欠陥品として製造しない。 - 特許庁
To provide a module for testing that does not damage an electrode pad of a semiconductor device and restrains test costs, and to provide a testing method of the semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置の電極パッドへの損傷を与えず、且つ、試験コストを抑える試験用モジュール及び半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁
The on-line interactive compiler is faster than the off-line module compiler, so that in a phase of frequent modifications to source code you can rapidly test new versions of your code. 例文帳に追加
オンライン・インタラクティブコンパイラはオフライン・モジュールコンパイラより速い。従ってソースコードを頻繁に修正する段階ではそのコードの新版を早急にテストできる。 - コンピューター用語辞典
To provide an IC socket module capable of maintaining a temperature of an IC constant during an evaluation test on a high temperature condition of an internal wire and a wiring material for the IC.例文帳に追加
ICの内部配線及び配線材の高温状態の評価試験において、ICの温度を一定に保ち得るICソケットモジュールを提供する。 - 特許庁
The luminescence test measurement is conducted by a reader apparatus adapted to receive the assay module using the assay module having an integrated electrode, to conduct luminescence, preferably to induce electrode-induced luminescence, in the well or the assay region of the assay module, and to measure the induced luminescence.例文帳に追加
一体型電極を有するアッセイモジュールを使用して、アッセイモジュールを受け取り、アッセイモジュールのウエル又はアッセイ領域中で発光、好ましくは電極誘起発光を誘起し、誘起された発光を測定するように適合されたリーダ機器によって発光試験測定を行う。 - 特許庁
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