「test module」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The upper bit part (ADDRESS U) of the memory address (ADDRESS) is supplied to an error control module 132 as test mode instruction information (TEST MODE).例文帳に追加

エラー制御モジュール１３２には、メモリアドレス（ＡＤＤＲＥＳＳ）の上位ビット部（ＡＤＤＲＥＳＳ＿Ｕ）がテストモード指示情報（ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥ）として与えられる。 - 特許庁

The device for dynamically reconfiguring a test case to be executed according to the state of equipment comprises at least a test application of software, an API module and software.例文帳に追加

本発明は、機器の状態に合わせて実行するテストケースを動的に再構成する、ソフトウェアのテストアプリケーションと、ＡＰＩモジュールと、ソフトウェアとを少なくとも備えて構成される。 - 特許庁

The test system 100 is equipped with a module setting file 130 for setting a connection relation between the modules 108, and the test system 100 generates the deliverer 150 based on a content specified in the module setting file 130.例文帳に追加

また、この試験システム１００は、モジュール１０８の接続関係を設定するためのモジュール設定ファイル１３０を備え、試験システム１００は、モジュール設定ファイル１３０に規定された内容に基づいて、配送器１５０を生成する。 - 特許庁

A test terminal 14 is provided at the bottom part of the recess 16 for the application of an external signal or the measurement of the electrical state of the semiconductor module 100 in the test step of the semiconductor module 100.例文帳に追加

検査用端子１４は、半導体モジュール１００の試験工程において外部から信号を印加し、もしくは本半導体モジュール１００の電気的状態を測定するために設けられており、凹部１６の底部に形成される。 - 特許庁

The computer system having an operating system, a first component that comprises a first test module, a second component that comprises a second test module and an interconnect coupling that first component and the second component is provided.例文帳に追加

オペレーティングシステム、第１のテストモジュールを備える第１の構成要素、第２のテストモジュールを備える第２の構成要素、および、第１の構成要素と第２の構成要素とを連結する相互接続部を備えるコンピュータシステムが供給される。 - 特許庁

A test item extracting means 107 extracts text items that pass through the module in which the change is performed with reference to the passing module information storing means 105.例文帳に追加

テスト項目抽出手段１０７は、通過モジュール情報記憶手段１０５を参照し、変更が行われたモジュールを通過するテスト項目を抽出する。 - 特許庁

To provide a means for inspecting a module (DUT) to be tested, removed from a scan path for a chip test of ASIC, using a simple mechanism without using a special testing module or the like.例文帳に追加

ＡＳＩＣのチップ・テストのために、スキャン・パスから外れたＤＵＴを、特別なテスト・モヂュールなど無しに、簡単な機構で検査していく手段を実現すること。 - 特許庁

One test control signal 34 is generated, the at least one test module 30 is electrically separated at least partially from the at least one wire 38, 40 and/or the at least one terminal in an operation mode of the electronic circuit, using the test control signal, and a switching current is evaded in the at least one test module.例文帳に追加

１つの試験制御信号（３４）が生成され、この試験制御信号を用いて、電子回路の動作モードで、少なくとも１つの試験モジュール（３０）が、少なくとも部分的に、少なくとも１つの線（３８、４０）または少なくとも１つの端子から電気的に分離されて、少なくとも１つの試験モジュールにおいてスイッチング電流が回避される。 - 特許庁

To provide an inexpensive sure test method not requiring an expensive dedicated module, and to reduce a facility introduction cost.例文帳に追加

高価な専用モジュールを必要としない安価で確実な試験方法を提供し、設備導入費用の削減を図る。 - 特許庁

A test card 30 is provided with a development language API module to be called from the development language of an IC card system.例文帳に追加

テストカード３０にはＩＣカードシステムの開発言語から呼び出される開発言語ＡＰＩモジュールが備えられている。 - 特許庁

To determine quality of interchip connection in semiconductor chips in a multi-chip module, by a simple test circuit and a simple testing method.例文帳に追加

マルチチップモジュールにおける半導体チップ間の接続の良否判定を簡易なテスト回路とテスト方法により行う。 - 特許庁

In the Select the WSDL Document step, open the BPEL Module project, select the .wsdl file containing the operation you want to test, and then click Next. 例文帳に追加

「WSDL ドキュメントの選択」ステップで、BPEL モジュールプロジェクトを開き、テストする操作を含む .wsdl ファイルを選択して、「次へ」をクリックします。 - NetBeans

CONTROL MODULE AND CONTROL SYSTEM ACTING ON TEST ATMOSPHERE PARAMETER, METHOD FOR CONTROLLING MICROSCOPE APPARATUS AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

試験環境パラメータに作用する制御モジュールおよび制御システム、顕微鏡装置を制御する方法、および、コンピュータ・プログラム - 特許庁

To prevent an oversight in a test of error caused by improper contact in a circuit device for a burn-in test of a semiconductor module including a memory circuit provided with a connection terminal allowing a burn-in test signal of a burn-in test device having active/inactive conditions to be applied.例文帳に追加

活性／非活性状態を有しているバーン・インテスト装置のバーン・インテスト信号Ｔ１；Ｔ６が印加可能である接続端子を備えたメモリ回路１を含んでいる半導体モジュールのバーン・インテストのための回路装置において、コンタクト不良に起因するエラーの検査漏れを克服する。 - 特許庁

A step of a top module necessary for generating hardware logic simulation includes a step for converting an original unit test into an expansion unit test, and a step for generating an input pattern file by performing a unit test to the wrapper class by the expansion unit test.例文帳に追加

さらにハードウエアロジックシュミレーション発生に必要とするトップモジュールのステップは、オリジナルユニットテストを拡充ユニットテストに転換するステップ、拡充ユニットテストはラッパークラス（ｗｒａｐｐｅｒ ｃｌａｓｓ）に対してユニットテストを行い入力パターンファイルを発生するステップを含む。 - 特許庁

To solve the problem that a large number of test man-hours are required for repeatedly compiling and loading each of test modules to a debugger in order to operate a plurality of module tests when a STAB program only for testing is assembled for testing the modules in a test target program.例文帳に追加

テスト対象プログラム内のモジュールテストを行うために、テスト専用のスタブプログラムを組込むのだが、複数のモジュールテストを実行するために、テストするモジュール毎にコンパイルしデバッガにロードを繰返すためテスト工数がかかる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device of a layered multi-chip module structure capable of an open/short test for a semiconductor chip used for a wiring substrate using an apparatus and a facility for an existing probe test, and of reducing the cost of the test.例文帳に追加

既存のプローブテスト用の装置や設備を用いて、配線基板として用いられる半導体チップのオープンショートテストを行うことができ、テストコストを削減することができる積層型マルチチップモジュール構造の半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for relevancy testing of an identifier able to be transmitted to a communication means by way of a communication network in a message, a test module therefore and a generating module for building a relevancy table provided for the testy method.例文帳に追加

メッセージ中にあり、通信ネットワークを介して通信手段への伝達が可能な識別子の関連性テストのためのテスト法、そのためのテストモジュール及び上記のテスト法のために提供される関連表を作り上げる作成モジュールの提供。 - 特許庁

Furthermore, system profiles for describing vendor software components corresponding to the hardware test module versions and the TOS versions are created, and a system profile is selected for the modular test system.例文帳に追加

次に、ハードウェア試験モジュールバージョン及びＴＯＳバージョンに対応するベンダソフトウェアコンポーネントについて記述するシステムプロファイルを作成し、モジュール式試験システムに対しシステムプロファイルを選択する。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting semiconductor integrated circuit achieving a significant reduction of the test time and a highly precise test regardless of the measuring accuracy of a judging module.例文帳に追加

判定モジュールの測定精度に関わらず、テスト時間の大幅な削減と高精度な試験を実現する半導体集積回路の検査方法及びその検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a heat generation compensating device which is used in a test handler which tests an module IC attached to a test socket, and can efficiently compensate the heat generation of the IC during tests.例文帳に追加

モジュールＩＣをテストソケットに装着してテストを行うテストハンドラに使用され、テスト中のＩＣの発熱補償を効果的に行うことのできる発熱補償装置を提供する。 - 特許庁

The test management device 1 comprises a specification part 15 which reads relevant information, upon receiving code correction information showing a module related to a corrected source code, from a first storage part 12 storing relevant information relating each module constituting software with test items related to each module, and specifies the test items related to the module shown by the code correction information in the read relevant information.例文帳に追加

試験管理装置１は、修正されたソースコードに関連するモジュールを示したコード修正情報を受け取った場合、ソフトウェアを構成する各モジュールと各モジュールに関連する試験項目とを関連付けた関連情報が記憶された第１記憶部１２から関連情報を読み出すと共に、読み出した関連情報においてコード修正情報の示すモジュールに関連付けられている試験項目を特定する特定部１５を備える。 - 特許庁

The at least one electric connection module is removably mounted within the test base part and the at least one electric connection module includes a frame and a conductive element, respectively.例文帳に追加

この少なくとも１個の電気接続モジュールはテスト基部内に着脱可能に取り付けられ、少なくとも１個の電気接続モジュールのそれぞれがフレームおよび導電性エレメントを有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory which even when mounted on a memory module conforming to FB-DIMM, enables the memory module to output a verification result of circuit operation by a test mode.例文帳に追加

ＦＢ−ＤＩＭＭに準拠したメモリモジュールに搭載された場合であっても、テストモードによる回路動作の検証結果をモジュールから出力可能とする半導体メモリを提供する。 - 特許庁

The system module 12 is so configured that after the 2nd cells (40, 60, and 70) are allocated to a 1st instance of an operating system, the test module 20 tests the 1st cells (40, 60, and 70).例文帳に追加

システムモジュール１２は、第２のセル（４０，６０，７０）がオペレーティングシステムの第１のインスタンスに割り振られた後に、テストモジュール２０に第１のセル（４０，６０，７０）をテストさせるように構成される。 - 特許庁

Modification of the final value is implemented without physically disconnecting the port of calibration module from the first port of device under test.例文帳に追加

終端値の変更は、被測定デバイスの第１のポートから校正モジュールのポートを物理的に切り離すことなしに実行される。 - 特許庁

To enable a connection test between chips with a smaller scale circuit in a multi-chip module formed by mounting small chips on a large chip.例文帳に追加

大チップの上に小チップを実装してなるマルチチップモジュールにおいて、より小規模な回路で、チップ間接続テストを可能とする。 - 特許庁

To provide a solar battery module wherein the faultiness of its external appearance is eliminated, and its characteristics are not degraded in its long-term reliability test.例文帳に追加

外観不良がなく、かつ長期信頼性試験において特性低下がみられない太陽電池モジュールを提供する。 - 特許庁

To provide a battery test module that can monitor the use status of and determine the charge state and health state of a battery.例文帳に追加

バッテリの使用状況をモニタしたり、充電状態や健全性を判断できるバッテリテストモジュールを提供することにある。 - 特許庁

Before the test, a selected heater 14 and a selected sensor 20 are operated through outer connectors 18 to the device module 10.例文帳に追加

試験前、選択されたヒータ１４及びセンサ２０が装置モジュール１０又は１２への外部コネクタ１８を通じて作動される。 - 特許庁

When a system is operating, a memory test is performed for a memory module installed in a system periodically or in response to a request.例文帳に追加

システム稼動時、システムに搭載されているメモリモジュールに対し、定期的あるいは要求があったときにメモリテストを実施する。 - 特許庁

To provide a battery test module in which a using condition of the battery can be monitored and in which a charging state and soundness can be judged.例文帳に追加

バッテリの使用状況をモニタしたり、充電状態や健全性を判断できるバッテリテストモジュールを提供することにある。 - 特許庁

To provide a scan test system for testing operations of a component module of an integrated circuit and the interconnection between their component modules.例文帳に追加

集積回路の成分モジュールと、それらの成分モジュール間の相互接続と、の動作をテストする走査テストシステムを提供する。 - 特許庁

A test module tests for a second controller defined storage unit corresponding to the first controller defined storage unit.例文帳に追加

検査モジュールは、第１のコントローラの定義済みストレージ・ユニットに対応する第２のコントローラの定義済みストレージ・ユニットについて検査する。 - 特許庁

A test cassette has the bottom plate 3 holding a heat transfer plate 2 loaded with an optical semiconductor module 1 above an opening 3a.例文帳に追加

光半導体モジュール１を搭載する伝熱板２を開口３ａ上に保持する底板３を有する試験用カセット。 - 特許庁

In the state loaded with the optical semiconductor module 1, the test cassette can be mounted on and detached from the heat exchange part 20.例文帳に追加

光半導体モジュール１を搭載した状態で，試験用カセットを熱交換部２０に装着及び取り外すことができる。 - 特許庁

In the electronic instrument provided with an MPU 1, an expansion memory slot 14 and an operation section 9, a test module 15 as a memory with a test program stored therein is mounted in the expansion memory slot 14, and with the MPU 1, the test program is executed to inspect the electronic instrument.例文帳に追加

ＭＰＵ１と、増設メモリスロット１４と、操作部９とを備えた電子機器において、テストプログラムを格納したメモリとしてのテストモジュール１５を増設メモリスロット１４に装着し、ＭＰＵ１にテストプログラムを実行させ、電子機器の検査を行う。 - 特許庁

This semiconductor device module is equipped with switches SW11 or SW13 for connecting a test terminal TT to one end side of wiring which is a test object, and transistors M21 or M23 for imparting a ground potential VSS to the other end side of the wiring which is the test object.例文帳に追加

試験対象となる配線の一端側にテスト端子ＴＴを接続するスイッチＳＷ１１ないしＳＷ１３と、試験対象となる配線の他端側に接地電位ＶＳＳを与えるトランジスタＭ２１ないしＭ２３とを備える。 - 特許庁

A leakage detector includes a primary pump unit, a secondary pump unit with at least one secondary pump, a gas analyzer, a test module, a calibration module, a discharge module of the secondary pump unit, a plurality of valves, and a plurality of connection parts.例文帳に追加

漏れ検出器は、一次ポンプユニット（１０）と、少なくとも１つの二次ポンプ（６）を有する二次ポンプユニット（５）と、ガスアナライザ（４）と、テストモジュール（８）と、校正モジュール（９）と、二次ポンプユニットの吐出モジュール（１２）と、複数のバルブ（１３）と、複数の結合部（１４）とを含む。 - 特許庁

Then, module loading acceptability specified by the module load sequence is tested, an error signal in response to a test result, significance of an error is determined and whether or not to continue module loading is determined.例文帳に追加

次いで、モジュールのロードシーケンスによって指定されるモジュールのロードの受け入れ可能性をテストし、このテスト結果に応答してエラー信号を生成するとともに、エラーの重大性を判断して、モジュールのロードを更に継続するのか中止するのかを判断する。 - 特許庁

A control circuit that is instructed to perform a height determination mode performs a test punch on a test workpiece with the punch needle and photographs a punched trace of the workpiece with the camera module 59.例文帳に追加

制御回路は、高さ判定モードの実行が指示されると、テスト用の被加工物に対する打刻針によるテスト打刻動作を実行させ、被加工物の打刻痕を、カメラモジュール５９により撮影させる。 - 特許庁

To facilitate a unit test of a clock generating module such as an SSCG, PLL, or DLL, without expanding memory for storing test patterns and expected-value patterns in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

テストパターンや期待値パターンを蓄えておくメモリを半導体集積回路に増設することなく、ＳＳＣＧ、ＰＬＬ、又は、ＤＬＬ等のクロック生成モジュールの単体試験を容易に可能とする。 - 特許庁

Create, deploy, and test XSL transformation services with the graphical XSLT Designer.With the XSLT Designer, you can visually create and editXSL stylesheets, deploy XSLT Module projects to the XSLT service engine, and test XSL transformation services.例文帳に追加

グラフィカルな XSLT デザイナを使用して、XSL 変換サービスを作成、配備、およびテストできます。 XSLT デザイナでは、XSL スタイルシートを視覚的に作成して編集し、XSLT モジュールプロジェクトを XSLT サービスエンジンに配備し、XSL 変換サービスをテストできます。 - NetBeans

The printer driver 96 comprises a test pattern supply module 102 for reading out the test pattern print signal TPS from the hard disc 92 and supplying it to a printer 20.例文帳に追加

プリンタドライバ９６は、ハードディスク９２からテストパターン印刷信号ＴＰＳを読み出すとともに、プリンタ２０にそのテストパターン印刷信号ＴＰＳを供給するテストパターン供給モジュール１０２を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test module and its test method capable of testing a semiconductor device in a short time, while keeping reliability of the semiconductor device, without increasing the number of testers.例文帳に追加

テスタの台数を増加させることなくかつ半導体装置の信頼性を維持しつつ、短時間に半導体装置を試験する半導体装置試験モジュールおよびその試験方法を提供する。 - 特許庁