ハレ切りの英語

ハレーションが存在するときには作動切替制御部１０により定常状態時に作動の所定間隔連続パルスの供給から、ランダム作動部１３によるランダム作動パルスの供給に切り替える。例文帳に追加

When the halation exists, an operation switching control section 10 stops supply of continuous pulses of a prescribed interval operated in an ordinary state 1 to select supply of random operation pulses from a random operation section 13. - 特許庁

そして、ウェーハレベルバーンイン試験の際に、スイッチ素子切り替え制御回路１０４によって、第１のスイッチ素子１０２及び第２のスイッチ素子１０３が交互にオンになるように制御する。例文帳に追加

In the wafer-level burn-in test, the first switch element 102 and the second switch element 103 are controlled by the control circuit 104 so as to be alternately ON. - 特許庁

逆光のときには、逆光のタイプが、例えば、「真逆光」か「ハレーション」を判別し、判別した逆光タイプによって、測光方式をポイント測光方式と中央重点測光方式とに切り換えた後、光量制御して、適正露出に制御する。例文帳に追加

If in the backlight, the backlight type, for example, 'a perfect backlight' or 'a halation' is discriminated, after exchanging a light-measurement method to a point light-measurement method and to a central-emphasis light-measurement method according to the discriminated backlight type, the exposure is controlled to the suitable exposure with controlling the amount of light. - 特許庁

半導体基板と同サイズのウェハレベルCSPの半導体装置において、半導体装置の寸法、形状及び端子数に関わらず、また製造工程数を増大させること無く形成可能な半導体装置の方向及び製品情報を表示するマークにより、個片に切り離された半導体装置の方向及び製品情報の識別可能な半導体装置及びその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a wafer level CSP semiconductor device with the same size as a semiconductor substrate, in which the orientation of a semiconductor device cut into individual pieces and product information can be identified by a mark, indicating the orientation and the product information formable, irrespective of the size, shape and the number of terminals of the device without increasing the number of manufacturing processes, and its manufacturing method. - 特許庁