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In the circuit pattern testing apparatus 1, when performing a test, with a created recipe applied to a plurality of wafers, the recipe is copied from one shelf number to another shelf number on a graphic screen display of a cassette wherein the wafers are held.

回路パターンの検査装置1は、作成したレシピを複数のウェーハに適用して検査を実施する場合に、ウェーハを入れたカセットのグラフィックな画面表示上で、カセットの棚番から他の棚番に対してレシピの複写を行なう。 - 特許庁

To provide a substrate such as a plug-in unit, on which electronic parts such as a connector are mounted, capable of being stored in a shelf or the like, and having a structure enabling a test on the substrate without requiring any special test device.

コネクタ等の電子部品が実装され、シェルフ等に収容可能なプラグインユニット等の電子部品実装基板であって、特別な試験装置を要することなく、当該基板の試験を行うことができる構造を備えた電子部品実装基板を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device which can make it hardly visible striped unevenness and discoloration that a polarizing film has by being heated under specified conditions in a high-temperature shelf test.

高温放置試験において所定条件で加熱されることにより偏光フィルムに発生するスジ状のムラや変色を視認されにくくすることができる液晶表示装置を提案する。 - 特許庁









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